【技术实现步骤摘要】
基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法
[0001]本专利技术提出了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法,属于电路检测
技术介绍
[0002]电路制造和生产过程中,电路质量测试常常是保证电路板块良品率的重要生产检测环节,然而,现有的电路测试均为随机选取电路进行固定时长运行的测试,在测试过程中选取关键电路节点的信号输出端进行测试,这种方式,常常导致测试时间与电路结构不相配导致质量测试效率较低或测试量不足导致质量监测准确率较低的问题发生。
技术实现思路
[0003]本专利技术提供了基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法,用以解决现有的电路质量测试过程中,测试时间与电路结构不相配导致质量测试效率较低或测试量不足导致质量监测准确率较低的问题:
[0004]基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法,所述电路质量测试方法包括:
[0005]对所述集成电路的电路原理图进行扫描,并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型;
[0006]根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值;
[0007]根据所述电路质量测试参考值,结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。
[0008]进一步地,根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值,包括:
[0009]根据电路仿真模型的电路结构,确定所述集成电路的电 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.基于集成电路内部节点仿真的电路质量测试方法,其特征在于,所述电路质量测试方法包括:对所述集成电路的电路原理图进行扫描,并根据集成电路的电路原理图在建立电路仿真模型;根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值;根据所述电路质量测试参考值,结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测。2.根据权利要求1所述电路质量测试方法,其特征在于,根据所述电路仿真模型获取集成电路对应的电路检测节点,并利用所述电路检测节点获取电路质量测试参考值,包括:根据电路仿真模型的电路结构,确定所述集成电路的电路检测节点,其中,所述电路检测节点包括电压检测和电流检测节点;对电路仿真模型进行仿真电路运行,并获取每个电路检测节点对应的电流或电压数值;并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值。3.根据权利要求2所述电路质量测试方法,其特征在于,对电路仿真模型进行仿真电路运行,并获取每个电路检测节点对应的电流或电压数值;并利用所述电流或电压数值获取电路质量测试参考值,包括:在预设仿真时间段内,对所述电路仿真模型进行实时仿真测试;在仿真过程中,根据仿真数据的采集频率,获取所述预设仿真时间段的每个电路检测节点对应的所有采集数值;通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,通过计算获取所述电路质量测试参考值。4.根据权利要求3所述电路质量测试方法,其特征在于,通过所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,通过计算获取所述电路质量测试参考值,包括:根据所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,获取每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值;扫描所述每个电路检测节点对应的所有采集数值,提取所述每个电路检测节点对应的所有采集数值中的采集数值最大值和采集数值最小值,通过所述采集数值最大值和采集数值最小值以及所述每个电路检测节点对应电流或电压数值的平均值,获取电路质量测试参考值。5.根据权利要求1所述电路质量测试方法,其特征在于,根据所述电路质量测试参考值,结合与所述电路仿真模型的电路检测节点对应的集成电路的电路节点对集成电路进行电路检测,包括:结合所述电路检测节点个数,设置集成电路的电路质量检测过程中的启停次数;根据所述启停次数结合所述电路检测节点个数设置每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间;按照所述启停次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间,反复启停运行所述集成电路;在每次启停运行过程中,实时监测所有所述电路检测节点的实际数值是否符合所述电
路质量测试参考值对应的参考值范围;当所述集成电路按照所有启停运行次数和每次集成电路启动至停止之间所持续的电路运行时间完成所有启停运行时,如果所有所述电路检测节点的实际数值均符合所述电路质量测试参考值对应的参考值范围,则表示所述集成电路完成质量测试...
【专利技术属性】
技术研发人员:柯美延,
申请(专利权)人:深圳市佳航芯电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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