本实用新型专利技术涉及一种镜片多波长折射率测试装置，包括被测镜片，镜片多波长折射率测试装置包括光源组件、信号探测模块、匀速往返运动的移动反射镜和屈光度测量模块，本实用新型专利技术镜片多波长折射率测试装置通过检测干涉信号来获取计算折射率的相关参数，无需制作棱镜，也无需对棱镜相关角度进行检测，操作更方便，并且也缩短了测试周期，可以实现快速测试，适合成品镜片的检测；并且，通过设置多种波长的第二光源组件和对应的第一光电探测组件，并结合超辐射发光的第三光源组件与第二光电探测组件，可以适应各种厚度的被测镜片，即使是被测镜片过厚或过薄，也能保证测试参数的精确度，减少测试误差。减少测试误差。减少测试误差。
【技术实现步骤摘要】
一种镜片多波长折射率测试装置
[0001]本技术涉及光学透镜参数检测
，具体为一种镜片多波长折射率测试装置。
技术介绍
[0002]折射率是反应介质的光学性质的物理量，为了确保光学系统有很好的成像质量，需要精确测量光学材料的折射率。目前，市场上针对成品镜片的折射率检测方法主要有两种：一种是根据光焦度公式进行逆向计算，即通过测量透镜的曲率半径、中心厚度和镜片光焦度，根据光焦度公式计算其波长折射率，操作方法复杂且难度大不说，还难以保证测量精度，更不适用于非球面镜片测量；另外一种方法是改变“环境”折射率方法，即通过改变与透镜前后表面接触介质的折射率，如将镜片置于已知折射率的溶液中，或在镜片前后表面贴附已知折射率的柔性介质，分别检测镜片在空气中和在溶液中的光焦度，根据光焦度的变化和溶液的折射率可计算得到镜片的折射率，该方法同样操作复杂，检测难度大。
[0003]现有的折射率检测装置一般只针对一个波长处检测折射率，并且，现有的折射率检测装置不能适用于所有厚度的镜片，当镜片厚度过厚或过薄时，现有的折射率检测装置存在较大的测量误差。
技术实现思路
[0004]本技术所要解决的技术问题是提供一种镜片多波长折射率测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的现有的折射率检测装置检测难度大，不能适用不同厚度的成品镜片的折射率测试，存在较大测量误差的问题。
[0005]本技术所采用的技术方案是，一种镜片多波长折射率测试装置，包括被测镜片，镜片多波长折射率测试装置包括光源组件、信号探测模块、匀速往返运动的移动反射镜和屈光度测量模块，其中，所述光源组件包括用于辅助屈光度测量的第一光源组件、N组按照波长由低到高排列的第二光源组件、超辐射发光的第三光源组件、第一分光组件、第二分光组件、对应每组第二光源组件设置的第三分光组件以及聚焦镜头；所述屈光度测量模块包括哈特曼光阑和面阵图像传感器；所述面阵图像传感器、哈特曼光阑、第一分光组件、第二分光组件、第一光源组件沿第一光轴方向由前至后依次设置；所述第三分光组件设在第二分光组件与第三光源组件之间，所述第二光源组件对应第三分光组件设置，所述聚焦镜头设在第二分光组件与邻近第二分光组件邻近的第三分光组件之间，该聚焦镜头的焦面位于第一分光组件与哈特曼光阑之间；所述移动反射镜对应设在第一分光组件的一侧，所述信号探测模块设在第一分光组件的另一侧；所述第一光源组件沿第一光轴方向传输的光束依次透射过第二分光组件、第一分光组件、被测镜片、哈特曼光阑后达到面阵图像传感器中，用于校正被测镜片的中心位置和测试被测镜片的光焦度；所述第二光源组件、第三光源组件的光束在聚焦镜头的聚焦、第二分光组件的反射后沿第一光轴方向A传输，接着由第一分光组件分为两束，一束反射光束到投射到移动反射镜并由移动反射镜反射原路返回，另
一束透射光束透射到哈特曼光阑并由哈特曼光阑反射返回，两束光束经第一分光组件传输到信号探测模块中，用于检测光干涉信号。
[0006]本技术的有益效果是：本技术镜片多波长折射率测试装置通过检测干涉信号来获取计算折射率的相关参数，无需制作棱镜，也无需对棱镜相关角度进行检测，操作更方便，并且也缩短了测试周期，可以实现快速测试，适合成品镜片的检测；并且，通过设置多种波长的第二光源组件和对应的第一光电探测组件，并结合超辐射发光的第三光源组件与第二光电探测组件，可以适应各种厚度的被测镜片，即使是被测镜片过厚或过薄，也能保证测试参数的精确度，减少测试误差。
[0007]作为优选，所述信号探测模块包括用于探测接收第三光源组件发射光的第二光电探测组件和用于分别探测接收对应第二光源组件发射光的第一光电探测组件，所述第二光电探测组件之前设有第四分光片，该第四分光片用于透射第二光电探测组件探测波长并反射小于第二光电探测组件探测波长的其它光束；所述第一光电探测组件按照探测波长从低到高的顺序依次设在第四分光片反射方向的一侧，且每组第一光电探测组件之前分别设有第五分光片，所述第四分光片、第五分光片的中心沿着与第一光轴方向平行的轴由前至后依次设置，所述第五分光片用于将与相应第一光电探测组件探测波长的光束反射到对应的第一光电探测组件中，并透射其它大于第一光电探测组件探测波长的其它光束，通过第一光电探测组件与第二光电探测组件的位置设计以及第四分光片和第五分光片的设置，能够合理减少信号探测模块的体积，并且还能够保证各个第一光电探测组件、第二光电探测组件精确的探测获取到干涉信号。
[0008]作为优选，所述第一光源组件包括沿第一光轴方向由前至后依次设置的第一准直透镜、第一透光孔、第一测试光源，所述第一测试光源设在第一准直透镜的后焦点上；所述第二光源组件包括平行于第一光轴方向由前至后依次设置的第二准直透镜、第二透光孔、第二测试光源，所述第二测试光源设在第二准直透镜的后焦点上；所述第三光源组件包括垂直与第一光轴方向依次设置的第三准直透镜、第三测试光源，所述第三测试光源设置在第三准直透镜的后焦点上，从而获得平行准直的光束。
[0009]作为优选，所述第二测试光源为单色光的LED测试光源，N≥1，通过设置不同波长的LED测试光源来检测被测镜片在不同波长的折射率。
[0010]作为优选，所述第二测试光源为白光光源，N＝1，所述第一光电探测组件与第五分光片之间以及第二光电探测组件与第四分光片之间分别设有用于透射对应波长的滤光片，通过滤光片使得N组第一光电探测组件获取到对应波长的干涉信号。
[0011]作为优选，所述第一分光组件包括一个半透射半反射的第一分光片，所述第二分光组件包括一个半透射半反射的第二分光片，所述移动反射镜的表面镀有反射膜，所述移动反射镜的中心与第一分光片的中心均位于与第一光轴方向垂直的第二光轴方向上，且所述第一分光片、第二分光片向下的表面镀分光膜，所述第一分光片、第二分光片的另一表面镀增透膜；所述第三分光组件包括第三分光片，所述第一分光片的侧面与第二光轴方向呈45
°
或135
°
夹角，所述第二分光片的侧面与第一光轴方向呈45
°
或135
°
的夹角，所述第三分光片与第二分光片平行设置，从而实现光束在个分光片之间的透射或反射传输。
[0012]作为优选，所述哈特曼光阑上开设有若干透光点，所述哈特曼光阑中心的透光点上镀有用于反射的反射镀膜。
附图说明
[0013]图1为本技术具体实施例镜片多波长折射率测试1光学示意图；
[0014]图2为本技术具体实施例1中第二光电探测组件探测到出现明显干涉信号的示意图；
[0015]图3为本技术具体实施例1中哈特曼光阑的结构示意图；
[0016]图4为本技术具体实施例2的光学示意图。
[0017]图中：1、被测镜片；2、移动反射镜；3、第一光源组件；3.1、第一准直透镜；3.2、第一透光孔；3.3、第一测试光源；4、第二光源组件；4.1、第二准直透镜；4.2、第二透光孔；4.3、第二测试光源；5、第三光源组件；5.本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种镜片多波长折射率测试装置，包括被测镜片(1)，其特征在于，镜片多波长折射率测试装置包括光源组件、信号探测模块、匀速往返运动的移动反射镜(2)和屈光度测量模块，其中，所述光源组件包括用于辅助屈光度测量的第一光源组件(3)、N组按照波长由低到高排列的第二光源组件(4)、超辐射发光的第三光源组件(5)、第一分光组件(6)、第二分光组件(7)、对应每组第二光源组件(4)设置的第三分光组件(8)以及聚焦镜头(9)；所述屈光度测量模块包括哈特曼光阑(10)和面阵图像传感器(11)；所述面阵图像传感器(11)、哈特曼光阑(10)、第一分光组件(6)、第二分光组件(7)、第一光源组件(3)沿第一光轴方向(A)由前至后依次设置；所述第三分光组件(8)设在第二分光组件(7)与第三光源组件(5)之间，所述第二光源组件(4)对应第三分光组件(8)设置，所述聚焦镜头(9)设在第二分光组件(7)与邻近第二分光组件(7)的第三分光组件(8)之间，该聚焦镜头(9)的焦面位于第一分光组件(6)与哈特曼光阑(10)之间用于放置被测镜片(1)；所述移动反射镜(2)对应设在第一分光组件(6)的一侧，所述信号探测模块设在第一分光组件(6)的另一侧；所述第一光源组件(3)沿第一光轴方向(A)传输的光束依次透射过第二分光组件(7)、第一分光组件(6)、被测镜片(1)、哈特曼光阑(10)后达到面阵图像传感器(11)中，用于校正被测镜片(1)的中心位置和测试被测镜片的光焦度；所述第二光源组件(4)、第三光源组件(5)的光束在聚焦镜头(9)的聚焦、第二分光组件(7)的反射后沿第一光轴方向(A)传输，接着由第一分光组件(6)分为两束，一束反射光束到投射到移动反射镜(2)并由移动反射镜(2)反射原路返回，另一束透射光束透射到哈特曼光阑(10)并由哈特曼光阑(10)反射返回，两束光束经第一分光组件(6)传输到信号探测模块中，用于检测光干涉信号。2.根据权利要求1所述的一种镜片多波长折射率测试装置，其特征在于，所述信号探测模块包括用于探测接收第三光源组件(5)发射光的第二光电探测组件(12)和用于分别探测接收对应第二光源组件(4)发射光的第一光电探测组件(13)，所述第二光电探测组件(12)之前设有第四分光片(15)，该第四分光片(15)用于透射第二光电探测组件(12)探测波长并反射小于第二光电探测组件(12)探测波长的其它光束；所述第一光电探测组件(13)按照探测波长从低到高的顺序依次设在第四分光片(15)反射方向的一侧，且每组第一光电探测组件(13)之前分别设有第五分光片(16)，所述第四分光片(15)、第五分光片(16)的中心沿着与第一光轴方向(A)平行的轴由前至后依次...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘义兵，孙昭，刘力威，何骐任，杨燕飞，
申请(专利权)人：宁波法里奥光学科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。