本发明专利技术涉及一种测试装置，尤其涉及一种光分路器的插入损耗测试装置。本发明专利技术提供一种提高测试准确度的光分路器的插入损耗测试装置。一种光分路器的插入损耗测试装置，包括有试验框、第一支撑架、第二支撑架、稳定光源、光功率计和光纤线等，试验框下部左前侧设有第一支撑架，试验框下部右前侧设有第二支撑架，第一支撑架上设有稳定光源，第二支撑架上设有光功率计，稳定光源和光功率计上均设有与光分路器连接的光纤线，光纤线均与试验框滑动式连接。向下移动下压器，下压器带动第一衔接杆及其上部件向下移动，将分光器收起位于试验框内部，避免外界因素影响测试结果，进而提高测试准确度。度。度。
【技术实现步骤摘要】
一种光分路器的插入损耗测试装置
[0001]本专利技术涉及一种测试装置，尤其涉及一种光分路器的插入损耗测试装置。
技术介绍
[0002]传统的插入损耗测试装置中，输出信号光纤与待测光分路器输入端通过熔接的方式，由于熔接机的价格昂贵，且熔接的工序较多且操作复杂，导致整个测试过程耗时多，测试效率低且成本高。
[0003]专利公开号为CN207423499U公开了一种光分路器的插入损耗测试装置，包括：光源、输出信号光纤、光纤对准器、汇纤模、感光探头和光功率计，输出信号光纤的一端放置在光源的下方，输出信号光纤的另一端插入光纤对准器的一端，待测光分路器的输入端插入光纤对准器的另一端，待测光分路器的输出端依次穿过汇纤模放置在感光探头的感测区域，感光探头与光功率计连接。该装置避免了传统复杂的熔接方式，一定程度上提高了测试效率，无需使用昂贵的熔接机，有效降低了测试成本。但由于该装置直接对光分路器进行测试，使得光分路器容易受到外界因素的影响，导致测试结果准确度不高。
[0004]因此鉴于上述问题提供一种提高测试准确度的光分路器的插入损耗测试装置。
技术实现思路
[0005]为了克服现有技术测试结果准确度不高的缺点，本专利技术的技术问题是：提供一种提高测试准确度的光分路器的插入损耗测试装置。
[0006]本专利技术的技术实施方案为：一种光分路器的插入损耗测试装置，包括有试验框、第一支撑架、第二支撑架、稳定光源、光功率计、光纤线、限位机构和升降机构，试验框下部左前侧设有第一支撑架，试验框下部右前侧设有第二支撑架，第一支撑架上设有稳定光源，第二支撑架上设有光功率计，稳定光源和光功率计上均设有与光分路器连接的光纤线，光纤线均与试验框滑动式连接，试验框前侧与光纤线之间设有用于对光纤线进行限位的限位机构，试验框上设有用于将光分路器装入试验框内部的升降机构。
[0007]更为优选的是，限位机构包括有第一固定架、第一滑轨、第一滑架和第一弹簧，试验框前侧上部左右两侧均设有第一固定架，第一固定架均与同侧的光纤线滑动式连接，第一固定架底部均设有第一滑轨，第一滑轨上均滑动式设有对光纤线进行限位的第一滑架，第一滑架均与同侧的光纤线连接，第一滑架均与同侧的第一固定架之间连接有用于复位光纤线的第一弹簧，第一弹簧均套在同侧的光纤线上。
[0008]更为优选的是，升降机构包括有第二滑轨、第二滑架、放置盒、第一衔接杆、固定轴、第二弹簧、下压器和第一齿条架，试验框内部左右两侧均设有第二滑轨，第二滑轨上均滑动式设有第二滑架，第二滑架之间设有用于放置光分路器的放置盒，试验框右侧的上部前侧设有固定轴，右侧的第二滑架前侧设有第一衔接杆，第一衔接杆前侧与固定轴滑动式连接，第一衔接杆前侧与固定轴下侧之间连接有第二弹簧，第一衔接杆前侧设有用于工作人员手动控制的下压器，放置盒右后侧设有第一齿条架。
[0009]更为优选的是，还包括有利用光纤线弯曲程度测试光分路器的测试机构，测试机构包括有转动架、防护框、第二齿条架、转轴、第一扭力弹簧、锥齿轮组、指针、第二固定架和刻度表，试验框前侧上中部转动式设有用于放置光纤线的转动架，试验框前侧上中部设有防护框，转动架与两个光纤线接触，防护框与转动架滑动式连接，转动架左侧设有第二齿条架，试验框内前侧的上部左侧转动式设有转轴，转轴与第二齿条架连接，转轴与试验框之间连接有第一扭力弹簧，试验框前侧左上部设有第二固定架，第二固定架前侧设有用于呈现光纤线弯曲程度的刻度表，刻度表中间转动式设有指针，指针与第二固定架转动式连接，指针后侧与转轴左侧之间设有锥齿轮组，锥齿轮组由两个锥齿轮构成，两个锥齿轮相互啮合。
[0010]更为优选的是，还包括有利用声波测试光分路器的噪声机构，噪声机构包括有第一齿轮、第二齿轮、第三滑轨、第三滑架、第二衔接杆、第三齿条架、第一磁铁、第二磁铁、第三磁铁、第三固定架、防护罩、第三弹簧和响锣，试验框前侧左上部转动式设有第一齿轮，第一齿轮与第二齿条架啮合，试验框前侧左上部转动式设有第二齿轮，第二齿轮与第一齿轮连接，第二齿轮位于第一齿轮左侧，试验框内前壁左上侧设有第三滑轨，第三滑轨上滑动式设有第三滑架，第三滑架后侧设有第二衔接杆，第二衔接杆左侧设有第三齿条架，第三齿条架与第二齿轮啮合，第三齿条架上侧设有第一磁铁，第三齿条架下侧设有第二磁铁，试验框左侧的上部前侧周向均匀间隔设有三个第三固定架，第三固定架之间设有防护罩，防护罩内侧设有用于产生声波的响锣，试验框左侧的上部前侧滑动式设有第三磁铁，第一磁铁和第二磁铁均与第三磁铁相互排斥，第三磁铁左侧与响锣接触，第三磁铁与试验框之间连接有第三弹簧。
[0011]更为优选的是，还包括有利用震动撞击光纤线测试光分路器的波动频率机构，波动频率机构包括有保鲜膜、玻璃管和塑料颗粒，试验框内前壁上部左右两侧均设有玻璃管，玻璃管顶部均粘接有保鲜膜，玻璃管内部均放置有用于撞击光纤线的六个塑料颗粒。
[0012]更为优选的是，还包括有用于使得光分路器处于半封闭空间内的闭合机构，闭合机构包括有闭合板、第一合页、第二扭力弹簧、第三齿轮和第二合页，试验框上部后侧的左右两侧均设有第二合页，第二合页上部均转动式设有第一合页，第一合页均与同侧的第二合页之间连接有两个第二扭力弹簧，第一合页之间设有用于闭合试验框的闭合板，闭合板与试验框顶部接触，第一合页右侧设有第三齿轮，第三齿轮与第一齿条架啮合。
[0013]更为优选的是，防护框的外形为弧形。
[0014]与现有技术相比，本专利技术具有如下优点：1、向下移动下压器，下压器带动第一衔接杆及其上部件向下移动，将分光器收起位于试验框内部，避免外界因素影响测试结果，进而提高测试准确度；2、当光纤线一端被向下拉动时，进而带动转动架、第二齿条架和转轴转动，转轴通过锥齿轮组带动指针转动，指针在刻度表上所指的对应数据为光纤线弯曲程度，工作人员通过查看稳定光源和光功率计的数据，得出光纤线弯曲后光分路器所受的影响；3、当第一磁铁靠近第三磁铁时，两者之间发生排斥，使得第三磁铁向左移动敲击响锣，响锣产生微弱的声波；当第二磁铁向上移动靠近第三磁铁时，两者之间发生排斥，使得第三磁铁向左移动敲击响锣，响锣产生较强的声波；产生的声波会使得塑料颗粒震动，进而撞击光纤线，工作人员通过查看稳定光源和光功率计的数据，进而得出光纤线在微弱的声波下和较强的声波下光分路器所受的不同影响；
4、当第一齿条架向下移动与第三齿轮分离时，进而在第二扭力弹簧复位的作用下带动第一合页、第三齿轮和闭合板转动，使得闭合板闭合试验框，实现半封闭式测试光分路器。
附图说明
[0015]图1为本专利技术的第一种立体结构示意图。
[0016]图2为本专利技术的第二种立体结构示意图。
[0017]图3为本专利技术的第三种立体结构示意图。
[0018]图4为本专利技术的限位机构立体结构示意图。
[0019]图5为本专利技术的升降机构第一部分立体结构示意图。
[0020]图6为本专利技术的升降机构第二部分立体结构示意图。
[0021]图7为本专利技术的测试机构立体结构本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光分路器的插入损耗测试装置，包括有试验框（1）、第一支撑架（2）、第二支撑架（21）、稳定光源（3）、光功率计（4）和光纤线（5），试验框（1）下部左前侧设有第一支撑架（2），试验框（1）下部右前侧设有第二支撑架（21），第一支撑架（2）上设有稳定光源（3），第二支撑架（21）上设有光功率计（4），稳定光源（3）和光功率计（4）上均设有与光分路器连接的光纤线（5），光纤线（5）均与试验框（1）滑动式连接，其特征是：还包括有限位机构（7）和升降机构（8），试验框（1）前侧与光纤线（5）之间设有用于对光纤线（5）进行限位的限位机构（7），试验框（1）上设有用于将光分路器装入试验框（1）内部的升降机构（8）。2.按照权利要求1所述的一种光分路器的插入损耗测试装置，其特征是：限位机构（7）包括有第一固定架（71）、第一滑轨（72）、第一滑架（73）和第一弹簧（74），试验框（1）前侧上部左右两侧均设有第一固定架（71），第一固定架（71）均与同侧的光纤线（5）滑动式连接，第一固定架（71）底部均设有第一滑轨（72），第一滑轨（72）上均滑动式设有对光纤线（5）进行限位的第一滑架（73），第一滑架（73）均与同侧的光纤线（5）连接，第一滑架（73）均与同侧的第一固定架（71）之间连接有用于复位光纤线（5）的第一弹簧（74），第一弹簧（74）均套在同侧的光纤线（5）上。3.按照权利要求2所述的一种光分路器的插入损耗测试装置，其特征是：升降机构（8）包括有第二滑轨（81）、第二滑架（82）、放置盒（83）、第一衔接杆（84）、固定轴（85）、第二弹簧（86）、下压器（87）和第一齿条架（88），试验框（1）内部左右两侧均设有第二滑轨（81），第二滑轨（81）上均滑动式设有第二滑架（82），第二滑架（82）之间设有用于放置光分路器的放置盒（83），试验框（1）右侧的上部前侧设有固定轴（85），右侧的第二滑架（82）前侧设有第一衔接杆（84），第一衔接杆（84）前侧与固定轴（85）滑动式连接，第一衔接杆（84）前侧与固定轴（85）下侧之间连接有第二弹簧（86），第一衔接杆（84）前侧设有用于工作人员手动控制的下压器（87），放置盒（83）右后侧设有第一齿条架（88）。4.按照权利要求3所述的一种光分路器的插入损耗测试装置，其特征是：还包括有利用光纤线（5）弯曲程度测试光分路器的测试机构（9），测试机构（9）包括有转动架（91）、防护框（92）、第二齿条架（93）、转轴（94）、第一扭力弹簧（95）、锥齿轮组（96）、指针（97）、第二固定架（98）和刻度表（99），试验框（1）前侧上中部转动式设有用于放置光纤线（5）的转动架（91），试验框（1）前侧上中部设有防护框（92），转动架（91）与两个光纤线（5）接触，防护框（92）与转动架（91）滑动式连接，转动架（91）左侧设有第二齿条架（93），试验框（1）内前侧的上部左侧转动式设有转轴（94），转轴（94）与第二齿条架（93）连接，转轴（94）与试验框（1）之间连接有第一扭力弹簧（95），试验框（1）前侧左上部设有第二固定架（98），第二固定架（98）前侧设有用于呈现光纤线（5）弯曲程度的刻度表（99），刻度表（99）中间转动式设...
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋明贺，
申请(专利权)人：蒋明贺，
类型：发明
国别省市：
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