【技术实现步骤摘要】
基于图像分析的尺寸测量方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及图像测量技术，尤其涉及一种基于图像分析的尺寸测量方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]随着科学技术的发展，各种测量技术层出不穷，测量手段也逐渐智能化，由传统的接触式测量向非接触式测量转变，例如，在量体裁衣时，传统方法需要裁缝手动执行人体三围等尺寸数据的测量，而目前可以根据人体图像的轮廓尺寸分析肩宽、衣长等尺寸数据。
[0003]但是，现有的基于图像的尺寸测量方法主要是对图像进行像素点级别的边缘检测定位，只能得到像素点坐标，定位精度较低，从而导致尺寸测量的准确度较低。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供一种基于图像分析的尺寸测量方法、装置、电子设备及存储介质，其主要目的在于提高了基于图像分析的尺寸测量的准确率。
[0005]对目标图像进行基于像素梯度的图像切分，得到初始图像，其中，所述初始图像包含待测量物体；对所述初始图像进行像素点维度的边缘检测定位，以定位所述待测量物体的边缘所在像素点，得到粗粒度边...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于图像分析的尺寸测量方法，其特征在于，所述方法包括：对目标图像进行基于像素梯度的图像切分，得到初始图像，其中，所述初始图像包含待测量物体；对所述初始图像进行像素点维度的边缘检测定位，以定位所述待测量物体的边缘所在像素点，得到粗粒度边缘像素点坐标；基于所述目标图像对所述粗粒度边缘像素点坐标进行坐标精度转换，以定位所述边缘在所述像素点中的具体位置，得到细粒度边缘像素点坐标；获取拍摄所述目标图像的相机的成像参数，基于所述成像参数构建坐标映射函数，利用所述坐标映射函数将所述细粒度边缘像素点坐标映射至真实世界，得到对应的真实世界坐标；对所有所述真实世界坐标进行拟合计算，得到所述待测量物体的轮廓尺寸。2.如权利要求1所述的基于图像分析的尺寸测量方法，其特征在于，所述对目标图像进行基于像素梯度的图像切分，得到初始图像，包括：对所述目标图像进行梯度计算，得到梯度图；计算所述梯度图水平方向的梯度积分，并利用计算的梯度积分绘制曲线得到水平梯度曲线；计算所述梯度图垂直方向的梯度积分，并利用计算的梯度积分绘制曲线得到垂直梯度曲线；选取所述水平梯度曲线中峰值波段起始点的横坐标，得到水平坐标区间；选取所述垂直梯度曲线中峰值波段起始点的横坐标，得到垂直坐标区间；切分所述目标图像中所述水平坐标区间与所述垂直坐标区间共同构成的封闭区域，得到所述初始图像。3.如权利要求2所述的基于图像分析的尺寸测量方法，其特征在于，所述对所述目标图像进行梯度计算，得到梯度图，包括：将所述目标图像进行二值化，得到黑白图像；计算所述黑白图像每个像素点的灰度值水平方向的偏微分，得到水平梯度；计算所述黑白图像每个像素点的灰度值垂直方向的偏微分，得到垂直梯度；根据所述黑白图像中每个像素点对应的水平梯度及垂直梯度进行计算，得到该像素点对应的像素点梯度；将所述黑白图像每个像素点的像素点梯度作为该像素点的灰度值，得到所述梯度图。4.如权利要求2所述的基于图像分析的尺寸测量方法，其特征在于，所述计算所述梯度图水平方向的梯度积分，并利用计算的梯度积分绘制曲线得到水平梯度曲线，包括：将所述梯度图中每一列像素中所有像素点的灰度值相加，得到该列像素的水平梯度积分；利用所有所述水平梯度积分绘制水平梯度曲线。5.如权利要求2所述的基于图像分析的尺寸测量方法，其特征在于，所述基于所述目标图像对所述粗粒度边缘像素点坐标进行坐标精度转换，以定位所述边缘在所述像素点中的具体位置，得到细粒度边缘像素点坐标，包括：获取所述梯度图中以所述粗粒度边缘像素点坐标为中心水平方向预设个数的连续像
素点的灰度值，得到水平边缘像素点梯度；获取所述梯度图中以所述粗粒度边缘像素点坐标为中心垂直方向预设个数的连续像素点的灰度值，得到垂直边缘像素点梯度；根据所述水平边缘像素点梯度、所述垂直边缘像素点梯度及所述目标图像的尺寸进行插值计算，得到所述粗...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐晶，
申请(专利权)人：深圳市远湖科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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