测试设备及其转接器单元制造技术

一种测试设备及其转接器单元，测试设备包括一测试主机、一电路载板、多个转接器单元与一锁迫模块。测试主机包含多个接口卡装置。接口卡装置分别具有一连接接口。电路载板包含二彼此相对的接点部，其中一接点部电连接一待侧物。每个转接器单元分别连接另一接点部及其中一连接接口。锁迫模块连接电路载板，用以将电路载板压迫转接器单元。透过以上架构，测试设备能够消除占据空间、定位及整理难度与潜在工安危机等疑虑，从而提供更稳定的操作环境及测试性能。试性能。试性能。

【技术实现步骤摘要】
测试设备及其转接器单元


[0001]本技术有关于一种测试设备，且特别是关于一种具有转接器单元的测试设备。

技术介绍

[0002]一般而言，在对半导体元件(后称待测物)进行电性检测时，将通过一测试主机对待测物进行导接，以便透过信号传输及信号分析而获得待测物的测试结果。通常会透过多个缆线分别连接通过测试主机的外接接口待测物的多个导电接点，以便透过信号传输及信号分析而获得待测物的测试结果。
[0003]然而，由于并排连接于测试主机与待测物之间的缆线相当众多，加上未来的脚位数量有渐增的趋势，使得密集且狭长的缆线将存在占据空间、定位及整理难度与潜在工安危机等潜在因数。
[0004]由此可见，上述技术显然仍存在不便与缺陷，而有待加以进一步改良。因此，如何有效地寻找一种解决方案，以克服上述不便与缺陷，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前相关领域亟需改进的目标。

技术实现思路

[0005]本技术的一目的在于提供一种测试设备及其转接器单元，用以解决以上先前技术所提到的困难。
[0006]本技术的一实施例提供一种测试设备。测试设备包括一测试主机、一电路载板、多个转接器单元与一锁迫模块。测试主机包含多个接口卡装置。这些接口卡装置分别具有一连接接口，这些连接接口沿一横向方向排列。电路载板包含一第一接点部与一第二接点部。第一接点部相对第二接点部，且电性连接第二接点部，用以电连接一待侧物。各个转接器单元分别连接第二接点部及其中一连接接口。锁迫模块连接电路载板，用以将电路载板朝一锁迫方向压迫这些转接器单元，横向方向正交锁迫方向。
[0007]依据本技术一或多个实施例，上述的测试设备中，每个转接器单元包含一配线板、一第一连接端口、一第二连接端口与一转接头。配线板具有一线路图案。第一连接端口位于配线板的一端，可移除地连接其中一连接接口。第二连接端口位于配线板的另端，电性连接线路图案，可移除地连接第二接点部。转接头位于配线板上，介于第一连接端口与第二连接端口之间，插接第一连接端口，电连接线路图案与第二连接端口。
[0008]依据本技术一或多个实施例，上述的测试设备中，第一连接端口包含一第一本体与多个第一针脚。这些第一针脚间隔地位于第一本体内，焊接线路图案。每个第一针脚可移除地连接上述连接接口。第二连接端口包含一第二本体与多个第二针脚。这些第二针脚间隔地位于第二本体内，焊接线路图案。每个第二针脚可移除地连接第二接点部。转接头包含一第三本体与多个导脚。这些导脚间隔地位于第三本体内。每个导脚的一端电连接其中一第一针脚，另端焊接于配线板上，电性连接线路图案，且透过线路图案电性连接其中一
第二针脚。
[0009]依据本技术一或多个实施例，上述的测试设备中，这些第一针脚的数量与第二针脚的数量不同，这些第一针脚的间隙大小与第二针脚的间隙大小不同。
[0010]依据本技术一或多个实施例，上述的测试设备中，锁迫模块包含一内框、一横移手把及一外框。内框框设于测试主机的一侧，围绕出一能够外露出这些连接接口的开口。横移手把包含一U型架与至少一沟槽。U型架可滑移地位于内框上。沟槽形成于U型架上。外框包含一框架与至少一转轮。框架固定至电路载板上，转轮枢设于框架上，且可移动地位于沟槽内，用以透过横移手把的推动而朝测试主机的方向移动。
[0011]依据本技术一或多个实施例，上述的测试设备中，沟槽包含一入口及一斜面区。斜面区相对入口的一端部较入口更接近测试主机。故，当横移手把沿横向方向滑移，以致转轮沿斜面区而移至斜面区的所述端部时，沟槽的斜面区逐渐将电路载板压迫转接器单元。
[0012]依据本技术一或多个实施例，上述的测试设备中，内框包含一凹陷部及一滑轨部。滑轨部固设于凹陷部内。横移手把还包含一衔接部。衔接部位于 U型架的一面，可滑移地衔接滑轨部。
[0013]依据本技术一或多个实施例，上述的测试设备中，锁迫模块还包含一定位框及至少一浮动螺栓。定位框具有多个贯口。这些贯口沿所述横向方向排列，以供这些转接器单元分别容纳并定位其中。浮动螺栓将定位框固定于内框上。
[0014]本技术的一实施例提供一种转接器单元。转接器单元包含一配线板、一第一连接端口与一第二连接端口。配线板具有一线路图案。第一连接端口包含一第一本体与多个第一针脚，第一本体位于配线板的一端，这些第一针脚间隔地位于第一本体内，电性连接线路图案。第二连接端口包含一第二本体与多个第二针脚。第二本体位于配线板的另端，这些第二针脚间隔地位于第二本体内，电性连接线路图案与这些第一针脚。这些第一针脚的数量与第二针脚的数量不同，第一针脚的间隙大小与第二针脚的间隙大小不同。
[0015]依据本技术一或多个实施例，上述的转接器单元还包含一转接头。转接头包含一第三本体及多个导脚。第三本体位于配线板上，介于第一连接端口与第二连接端口之间。这些导脚间隔地位于第三本体内。每个导脚的一端电连接其中一第一针脚，另端焊接于配线板上，电性连接线路图案，且透过线路图案电性连接这些第二针脚。
[0016]如此，透过以上各实施例的所述架构，由于本技术透过转接器替代缆线以连接测试主机与待测物，能够消除占据空间、定位及整理难度与潜在工安危机等疑虑，从而提供更稳定的操作环境及测试性能。
[0017]以上所述仅是用以阐述本技术所欲解决的问题、解决问题的技术手段、及其产生的功效等等，本技术的具体细节将在下文的实施方式及相关附图中详细介绍。
附图说明
[0018]为让本技术的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：
[0019]图1为本技术一实施例的测试设备的分解图；
[0020]图2为图1的测试设备于另一视角的分解图；
[0021]图3为图1的组合图；
[0022]图4A为图1的区域M的局部放大图；
[0023]图4B为图1的第二沟槽的示意图，其位置对应图1的区域M；
[0024]图5为本技术一实施例的转接器单元的立体图；
[0025]图6为图5的转接器单元的分解图；以及
[0026]图7为图5的转接器单元沿线段A
‑
A的横剖示意图。
[0027]【符号说明】
[0028]10:测试设备
[0029]100:测试主机
[0030]110:机壳
[0031]111:后侧
[0032]112:狭缝
[0033]120:接口卡装置
[0034]121:连接接口
[0035]200:锁迫模块
[0036]210:内框
[0037]211:开口
[0038]220:凹陷部
[0039]230:滑轨部
[0040]240:锁固件
[0041]300:横移手把
[0042]310:U型架
[0043]311:内缩空间
[0044]312:内侧
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试设备，其特征在于，包括：一测试主机，包含多个接口卡装置，该些接口卡装置分别具有一连接接口，该些连接接口沿一横向方向排列；一电路载板，包含一第一接点部与一第二接点部，该第一接点部相对该第二接点部，且电性连接该第二接点部，用以电连接一待侧物；多个转接器单元，每一该些转接器单元分别连接该第二接点部及该些连接接口其中之一；以及一锁迫模块，连接该电路载板，用以将该电路载板朝一锁迫方向压迫该些转接器单元，其中该横向方向正交该锁迫方向。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，每一该些转接器单元包含：一配线板，具有一线路图案；一第一连接端口，位于该配线板的一端，可移除地连接该其中一连接接口；一第二连接端口，位于该配线板的另端，电性连接该线路图案，可移除地连接该第二接点部；以及一转接头，位于该配线板上，介于该第一连接端口与该第二连接端口之间，插接该第一连接端口，电连接该线路图案与该第二连接端口。3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，该第一连接端口包含一第一本体与多个第一针脚，该些第一针脚间隔地位于该第一本体内，焊接该线路图案，每一该些第一针脚可移除地连接该其中一连接接口；该第二连接端口包含一第二本体与多个第二针脚，该些第二针脚间隔地位于该第二本体内，焊接该线路图案，每一该些第二针脚可移除地连接该第二接点部；以及该转接头包含一第三本体与多个导脚，该些导脚间隔地位于该第三本体内，每一该些导脚的一端电连接该些第一针脚其中之一，另端焊接于该配线板上，电性连接该线路图案，且透过该线路图案电性连接该些第二针脚其中之一。4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，该些第一针脚的数量与该些第二针脚的数量不同，该些第一针脚的间隙大小与该些第二针脚的间隙大小不同。5.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该锁迫模块包含：一内框，框设于该测试主机的一侧，围绕出一能够外露出该些连接接口的开口；一横移手把，包含一U型架与至少一沟槽...

【专利技术属性】
技术研发人员：林景立，江志伟，杨谕昌，
申请(专利权)人：致茂电子苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：