一种快速测试制冷片晶粒型号测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了制冷片生产设备领域的一种快速测试制冷片晶粒型号测试装置，包括底座，底座上固定安装有放置板，底座上位于放置板的后端固定安装有检测机构，底座内滑动连接有集尘盒，且集尘盒的前端延伸出底座外，底座底端固定安装有罩壳，罩壳内固定安装有安装架，安装架底端固定安装有风扇，本实用新型专利技术的有益效果是：本种测试装置使用方便，通过上述组件能够自由调节检测头的温度，在不需要使用时能够避免检测头上的紫铜氧化，从而进一步提高了检测速率和精确度，同时通过上述组件能够在检测过程中吸附保持晶粒固定，方便工作人员检测，从而进一步提高了工作效率，且能够去除晶粒表面的灰尘，确保检测的精准度。确保检测的精准度。确保检测的精准度。

【技术实现步骤摘要】
一种快速测试制冷片晶粒型号测试装置


[0001]本技术涉及制冷片生产设备领域，具体是一种快速测试制冷片晶粒型号测试装置。

技术介绍

[0002]制作制冷片时，需要对N型和P型晶粒进行严格的区分和选型，晶粒一旦出现PN混型的情况，就会降低制冷片的性能，甚至导致制冷片无法正常工作。因此，为了保证晶粒不混型，在切粒之前，会将晶片全部做一次检测，以确保得到的晶粒不出现混型。
[0003]行业现有的晶粒类型检测设备的检测探头为普通的电热探头，电热探头的外部传感材料为紫铜，且不能控制电热探头温度，电热探头会长期处于高温状态并与空气接触，会导致紫铜出现严重的氧化，由于氧化层的隔离，导致测试过程中设备经常出现无响应或者响应缓慢的情况。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种快速测试制冷片晶粒型号测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出现有的晶粒类型检测设备的检测探头为普通的电热探头，电热探头的外部传感材料为紫铜，且不能控制电热探头温度，电热探头会长期处于高温状态并与空气接触，会导致紫铜出现严重的氧化，由于氧化层的隔离，导致测试过程中设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种快速测试制冷片晶粒型号测试装置，其特征在于：包括底座（1），所述底座（1）上固定安装有放置板（6），所述底座（1）上位于放置板（6）的后端固定安装有检测机构（10），所述底座（1）内滑动连接有集尘盒（2），且所述集尘盒（2）的前端延伸出底座（1）外，所述底座（1）底端固定安装有罩壳（3），所述罩壳（3）内固定安装有安装架（5），所述安装架（5）底端固定安装有风扇（4），所述底座（1）内位于集尘盒（2）的后端设置有储液槽（15），且所述储液槽（15）内底端固定安装有多个滑杆（12），多个所述滑杆（12）的顶端均固定安装在储液槽（15）内顶端，且多个所述滑杆（12）的外侧套设有密封板（16），多个所述滑杆（12）的上均套设有弹簧（17），多个所述弹簧（17）的底端均固定安装在储液槽（15）内底端，多个所述弹簧（17）的顶端均固定安装在密封板（16）上，所述底座（1）上对应储液槽（15）处固定安装有螺纹套（9），且所述螺纹套（9）底端与储液槽（15）内连通，所述螺纹套（9）内...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯超，余学田，余涛，王刚，廖宇，龙翔，
申请(专利权)人：金堂阔山科技有限公司，
类型：新型
国别省市：