虚线框精度的确定方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种虚线框精度的确定方法、装置、设备及存储介质，涉及地图构建技术领域，该虚线框精度的确定方法包括：获取包含第一虚线框和第二虚线框的点云数据，根据点云数据，确定以第一虚线框的纵向边为分界线的点云反射率对比度；根据点云反射率对比度，确定第一虚线框对应的反射率对比度置信度；基于第一虚线框的横向边的长度以及第二虚线框的横向边的长度，获取第一虚线框对应的长度一致性置信度；根据反射率对比度置信度和长度一致性置信度，确定第一虚线框的精度。本申请能够准确地确定虚线框的精度，进而提升高精度地图的生产效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
虚线框精度的确定方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及地图构建
，尤其涉及一种虚线框精度的确定方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，高精度地图的应用越来越广泛。在高精度地图的构建过程中，由于采集系统中某些部件存在不可消除的误差，比如标定参数的偏差、相机和激光雷达等设备的测距误差以及感知分割模型自身的瓶颈等因素，因此，如何从图像和激光点云中提取出高精度的虚线框成为一种挑战。
[0003]目前，在高精度地图的制图流程中，通常会增加一个人工交互环节，通过人工查图的方式逐一检查并修正低精度虚线框的边界，以达到高精度地图对要素精度的要求。但是，上述通过人工对虚线框进行检查的方式会大幅降低高精度地图的生产效率。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种虚线框精度的确定方法、装置、设备及存储介质，以解决通过人工对虚线框进行检查的方式会大幅降低高精度地图的生产效率的问题。
[0005]第一方面，本申请提供一种虚线框精度的确定方法，包括：
[0006]获取包含虚线框的点云数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种虚线框精度的确定方法，其特征在于，包括：获取包含虚线框的点云数据，所述虚线框包括第一虚线框和第二虚线框，所述第一虚线框的两条纵向边的中点构成目标线段，所述第二虚线框与所述第一虚线框的中心距离小于或等于第一距离阈值，且所述第二虚线框的中心到所述目标线段的投影距离小于或等于第二距离阈值；根据所述点云数据，确定以所述第一虚线框的纵向边为分界线的点云反射率对比度；根据所述点云反射率对比度，确定所述第一虚线框对应的反射率对比度置信度；基于所述第一虚线框的横向边的长度以及所述第二虚线框的横向边的长度，获取所述第一虚线框对应的长度一致性置信度，所述第一虚线框的横向边的长度大于所述第一虚线框的纵向边的长度；根据所述反射率对比度置信度和所述长度一致性置信度，确定所述第一虚线框的精度。2.根据权利要求1所述的虚线框精度的确定方法，其特征在于，所述根据所述点云数据，确定以所述第一虚线框的纵向边为分界线的点云反射率对比度，包括：根据所述点云数据，获取所述中点对应的中点坐标；根据所述中点坐标，通过预设搜索算法获取与所述中点的距离小于或等于第三距离阈值的目标点云，所述第三距离阈值大于所述第一虚线框的纵向边的长度；根据所述目标点云的反射率强度值，确定所述点云反射率对比度。3.根据权利要求2所述的虚线框精度的确定方法，其特征在于，所述根据所述目标点云的反射率强度值，确定所述点云反射率对比度，包括：针对所述两条纵向边中的每一条纵向边，确定以所述第一虚线框的两条横向边为边界且以所述纵向边为分界线的包含目标点云的第一区域和第二区域，所述第一区域为包含在所述第一虚线框内的矩形区域，所述第二区域为未包含在所述第一虚线框内的矩形区域；根据所述第一区域包含的目标点云的反射率强度值，获取所述第一区域对应的第一平均反射率强度值；根据所述第二区域包含的目标点云的反射率强度值，获取所述第二区域对应的第二平均反射率强度值；确定所述点云反射率对比度为所述第一平均反射率强度值和所述第二平均反射率强度值的差值。4.根据权利要求1至3中任一项所述的虚线框精度的确定方法，其特征在于，所述根据所述点云反射率对比度，确定所述第一虚线框对应的反射率对比度置信度，包括：根据以所述第一虚线框的两条纵向边中每一条纵向边为分界线的点云反射率对比度，确定目标点云反射率对比度；根据所述目标点云反射率对比度和对比度阈值，通过第一预设函数确定所述反射率对比度置信度。5.根据权利要求1至3中任一项所述的虚线框精度的确定方法，其特征在于，所述基于所述第一虚线框的横向边的长度以及所述第二虚线框的横向边的长度...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲁荣荣，罗玮，
申请(专利权)人：亿咖通湖北技术有限公司，
类型：发明
国别省市：