【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】钎料、接合体、陶瓷电路基板及接合体的制造方法
[0001]后述的实施方式涉及钎料、接合体、陶瓷电路基板及接合体的制造方法。
技术介绍
[0002]陶瓷基板与铜板的接合体作为搭载半导体元件等的电路基板来使用。在国际公开第2018/021472号公报(专利文献1)中公开了将陶瓷基板与铜板接合而成的陶瓷铜电路基板。在专利文献1中,在接合层中使用了含有Ag、Cu、Ti等的钎料。此外,通过控制接合层的纳米压痕硬度而提高了TCT特性。在专利文献1中,通过使接合层中存在AgTi晶体或TiC而控制了纳米压痕硬度。在专利文献1中,通过控制纳米压痕硬度而提高了接合强度和TCT特性。
[0003]在专利文献1中,以接合温度780~850℃的高温进行了接合。若接合温度高,则接合设备的负担增加。此外,在高温的接合中,对陶瓷基板或铜板施加了热应力。热应力的负载会成为陶瓷铜电路基板的变形的原因。因此,要求更低的温度下的接合。
[0004]例如,在国际公开第2018/199060号公报(专利文献2)中,公开了以接合温度720~800℃接合而 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种钎料,其特征在于,其是用于将陶瓷基板与金属板接合的钎料,在通过差示扫描量热计(DSC)来测定DSC曲线时,在升温工序的550℃~700℃的范围内具有吸热峰。2.根据权利要求1所述的钎料,其特征在于,含有Ag、Cu及Ti。3.根据权利要求1~权利要求2中任一项所述的钎料,其特征在于,在所述升温工序的550℃~650℃的范围内具有2个以上的所述吸热峰。4.根据权利要求1~权利要求3中任一项所述的钎料,其特征在于,所述升温工序的处于550℃~650℃的所述吸热峰大于所述升温工序的处于700℃以上的吸热峰。5.根据权利要求1~权利要求4中任一项所述的钎料,其特征在于,在所述升温工序的450℃~520℃的范围内具有吸热峰。6.根据权利要求1~权利要求5中任一项所述的钎料,其特征在于,含有20质量%~60质量%的Ag、15质量%~40质量%的Cu、1质量%~15质量%的Ti或TiH2中的1种或2种、1质量%~50质量%的Sn或In中的1种或2种。7.根据权利要求1~权利要求6中任一项所述的钎料,其特征在于,含有碳。8.根据权利要求1~权利要求7中任一项所述的钎料,其特征在于,在所述升温...
【专利技术属性】
技术研发人员:米津麻纪,末永诚一,藤泽幸子,佐野孝,
申请(专利权)人:东芝高新材料公司,
类型:发明
国别省市:
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