一种中小尺寸通用测试治具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种中小尺寸通用测试治具,涉及测试治具领域，包括安装仓、放置平台、盖板和探针载板，所述安装仓的顶部设有开口，所述安装仓的顶部卡接有盖板，所述盖板上设有测试面板，所述安装仓的底部设有放置平台，所述安装仓的内部设有通用测试架；本实用新型专利技术通过转动螺杆从而调节单个放置块的位置，通过四组放置块构成一个放置槽并将探针载板放入放置槽内，同时放置块内侧的倾斜边沿与探针载板相卡合，从而可以使本装置可以对不同尺寸的探针载板进行安装。寸的探针载板进行安装。寸的探针载板进行安装。

【技术实现步骤摘要】
一种中小尺寸通用测试治具


[0001]本技术涉及测试治具
，尤其涉及一种中小尺寸通用测试治具。

技术介绍

[0002]治具是一个木工、铁工、以及其他一些手工艺品的大类工具，主要是作为协助控制位置或动作(或两者)的一种工具，测试治具属于治具下面的一个类别，是专门针对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。
[0003]市面上一般的测试治具结构固定，通常一种测试治具只能用于测试同一种产品，当需要对其他尺寸的产品进行测试时，需要更换不同的测试治具，传统的测试治具在更换探针载板时并不方便，同时也不适用不同尺寸的探针载板的安装，通用性较差，因此本技术提出一种中小尺寸通用测试治具以解决现有技术中存在的问题。

技术实现思路

[0004]针对上述问题，本技术提出一种中小尺寸通用测试治具，该中小尺寸通用测试治具通过转动螺杆从而调节单个放置块的位置，通过四组放置块构成一个放置槽并将探针载板放入放置槽内，同时放置块内侧的倾斜边沿与探针载板相卡合，从而可以使本装置可以对不同尺寸的探针载板进行安装。
[0005]为实现本技术的目的，本技术通过以下技术方案实现：一种中小尺寸通用测试治具，包括安装仓、放置平台、盖板和探针载板，所述安装仓的顶部设有开口，所述安装仓的顶部卡接有盖板，所述盖板上设有测试面板，所述安装仓的底部设有放置平台，所述安装仓的内部设有通用测试架，所述通用测试架的底部对称设有弹簧，所述通用测试架上设有用于夹持固定探针载板的调节组件，所述安装仓上设有用于对用于夹持固定探针载板的调节组件进行限位导向的限位组件，所述安装仓的底部设有通孔，所述探针载板的顶部设有PCB电路板，所述PCB电路板的底部设有触点，所述PCB电路板的顶部设有按压组件；
[0006]进一步改进在于：所述探针载板上设有针芯，所述针芯的下端与通孔相适配，所述针芯的上端与PCB电路板底部的触点连接。
[0007]进一步改进在于：所述调节组件包括螺杆和放置块，所述放置块设有四组，四组所述放置块分别设置在通用测试架四边的内侧，所述通用测试架的四边上螺纹安装有螺杆，所述螺杆的一端与所述放置块转动连接，四组所述放置块的内侧设有倾斜边沿,所述倾斜边沿与探针载板的棱边卡合，转动所述螺杆调节四组放置块之间的距离。
[0008]进一步改进在于：所述限位组件包括限位槽，所述安装仓的四边上设有限位槽，所述限位槽与螺杆相适配，所述安装仓四侧设有转动帽，所述螺杆的一端穿过限位槽后与转动帽的内侧固定连接。
[0009]进一步改进在于：所述PCB电路板的顶部通过软导线与盖板顶部的测试面板连接，所述针芯通过按压组件穿过通孔与待测物品连接并将信号传输至测试面板。
[0010]进一步改进在于：所述按压组件包括压杆和压帽，所述PCB电路板顶部两端的中间
位置处设有压杆，所述盖板的上方设有压帽，所述压杆的上端穿过盖板后与压帽的底部连接。
[0011]本技术的有益效果为：本技术通过转动螺杆从而调节单个放置块的位置，通过四组放置块构成一个放置槽并将探针载板放入放置槽内，同时放置块内侧的倾斜边沿与探针载板相卡合，从而可以使本装置可以对不同尺寸的探针载板进行安装，进行测试时，只需按压压帽即可使探针载板上的针芯从安装仓内伸出，并对放置平台上的待测件进行测试，当需要更换时将卡合的盖板取下，即可对探针载板进行更换，减少了更换时间，也更加的方便。
附图说明
[0012]图1是本技术安装仓的内部示意图。
[0013]图2是本技术的主视图。
[0014]图3是本技术最小尺寸探针载板的安装俯视图。
[0015]图4是本技术较大尺寸探针载板的安装俯视图。
[0016]其中：1、安装仓；2、放置平台；3、盖板；4、测试面板；5、通用测试架；6、探针载板；7、通孔；8、PCB电路板；9、螺杆；10、放置块；11、倾斜边沿；12、针芯；13、限位槽；14、转动帽；15、压杆；16、压帽；17、软导线；18、弹簧。
具体实施方式
[0017]为了加深对本技术的理解，下面将结合实施例对本技术做进一步详述，本实施例仅用于解释本技术，并不构成对本技术保护范围的限定。
[0018]根据图1、2、3、4所示，本实施例提出了一种中小尺寸通用测试治具，包括安装仓1、放置平台2、盖板3和探针载板6，所述安装仓1的顶部设有开口，所述安装仓1的顶部卡接有盖板3，所述盖板3上设有测试面板4，所述安装仓1的底部设有放置平台2，所述安装仓1的内部设有通用测试架5，所述通用测试架5的底部对称设有弹簧18，所述通用测试架5上设有用于夹持固定探针载板的调节组件，所述安装仓1上设有用于对调节组件进行限位导向的限位组件，所述安装仓1的底部设有通孔7，所述探针载板6的顶部设有PCB电路板8，所述PCB电路板8的底部设有触点，所述PCB电路板8的顶部设有按压组件，该盖板3与安装仓1之间的卡接结构为现有技术，其原理是通过将转动的卡块卡入卡槽，实现便捷的拆卸；
[0019]所述调节组件包括螺杆9和放置块10，所述放置块10设有四组，四组所述放置块10分别设置在通用测试架5四边的内侧，所述通用测试架5的四边上螺纹安装有螺杆9，所述螺杆9的一端与所述放置块10转动连接，四组所述放置块10的内侧设有倾斜边沿11,所述倾斜边沿11与探针载板6的棱边卡合，转动所述螺杆9调节四组放置块10之间的距离，通过转动螺杆9，从而调节各放置块10的位置，从而可以将不同尺寸的探针载板进6行限位，同时通过倾斜边沿11与探针载板6的棱边相贴合，从而进一步的对其进行限位，通过按压组件，压迫PCB电路板8向下移动，进一步的使通用测试架5向下移动并压迫弹簧18收缩。
[0020]所述探针载板6上设有针芯12，所述针芯12的下端与通孔7相适配，所述针芯12的上端与PCB电路板8底部的触点连接，并使探针载板6上的针芯12穿过通孔7对待测件进行检测。
[0021]所述限位组件包括限位槽13，所述安装仓1的四边上设有限位槽13，所述限位槽13与螺杆9相适配，所述安装仓1四侧设有转动帽14，所述螺杆9的一端穿过限位槽13后与转动帽14的内侧固定连接，通过所述限位槽13与螺杆9滑动连接，从而对通用测试架5上的结构进行限位，防止针芯12跑偏。
[0022]所述按压组件包括压杆15和压帽16，所述PCB电路板8顶部两端的中间位置处设有压杆15，所述盖板3的上方设有压帽16，所述压杆15的上端穿过盖板3后与压帽16的底部连接，通过按动压帽16从而使压杆15压迫PCB电路板8下移，同时压迫通用测试架5下移，并压迫底部弹簧18收缩，进而使通用测试架5内部的探针载板6带动针芯12下移。
[0023]所述PCB电路板8的顶部通过软导线17与盖板3顶部的测试面板4连接，所述针芯12通过按压组件穿过通孔7与待测物品连接并将信号传输至测试面板4。
[0024]该中小尺寸通用测试治具通过转本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种中小尺寸通用测试治具，其特征在于：包括安装仓(1)、放置平台(2)、盖板(3)和探针载板(6)，所述安装仓(1)的顶部设有开口，所述安装仓(1)的顶部卡接有盖板(3)，所述盖板(3)上设有测试面板(4)，所述安装仓(1)的底部设有放置平台(2)，所述安装仓(1)的内部设有通用测试架(5)，所述通用测试架(5)的底部对称设有弹簧(18)，所述通用测试架(5)上设有用于夹持固定探针载板的调节组件，所述安装仓(1)上设有用于对调节组件进行限位导向的限位组件，所述安装仓(1)的底部设有通孔(7)，所述探针载板(6)的顶部设有PCB电路板(8)，所述PCB电路板(8)的底部设有触点，所述PCB电路板(8)的顶部设有按压组件。2.根据权利要求1所述的一种中小尺寸通用测试治具，其特征在于：所述探针载板(6)上设有针芯(12)，所述针芯(12)的下端与通孔(7)相适配，所述针芯(12)的上端与PCB电路板(8)底部的触点连接。3.根据权利要求1所述的一种中小尺寸通用测试治具，其特征在于：所述调节组件包括螺杆(9)和放置块(10)，所述放置块(10)设有四组，四组所述放置块(10)分别设置在通用测试架(5)四边的内侧，所述通用测试架(...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄磊，胡权峰，周威海，陈克萍，任曙彪，彭琪，黄露露，
申请(专利权)人：金龙机电杭州有限公司，
类型：新型
国别省市：