一种吸波片测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种吸波片测试设备，涉及吸波材料领域，包括外箱体，外箱体上端设有下固定板，下固定上表面可拆卸设有上固定板，下固定板上表面设有下待测槽，上固定板下表面设有上待测槽，上固定板上嵌设有若干引脚针，外箱体内设有安装板，安装板上设有发射天线，外箱体内设有相互平行设置的第一转轴和第二转轴，安装板两端均设有齿条，第一转轴上间隔设有与齿条啮合的第一齿轮，第二转轴上间隔设有与齿条啮合的第二齿轮，外箱体外壁设有第一刻度盘，第一转轴一端设有接触第一刻度盘的第一旋钮。通过上固定板和下固定板夹持吸波材，旋转第一转轴或第二转轴调整发射天线与吸波材的间距，通过刻度盘标示安装板位置，能保证吸波检测效果。吸波检测效果。吸波检测效果。

【技术实现步骤摘要】
一种吸波片测试设备


[0001]本技术涉及吸波材料领域，特别是涉及一种吸波片测试设备。

技术介绍

[0002]吸波材料目前已经成为解决高频电磁干扰问题的有效手段。吸波材料常用磁性材料，可用于电磁波的吸收、传导和屏蔽，对于电磁波EMI/ESD问题解决能起到很好效果，是电子产品快速达成EMC电磁兼容的优良材料，同时还可以应用于消费性电子产品的无线充电，NFC/RFID近场通讯等无线领域。
[0003]目前，业界对于磁性材料如铁氧体和纳米晶类薄片材料，其性能的常规检测方法是通过电感检测来反应材料性能的差异，该方法理论上也适用于吸波材料性能检测，其优点是速度快，非破坏性，仪器相对便宜，配合简单工装就能做到产品检测。一些吸波检测机的在固定吸波材料时，固定不牢固会影响检测效果。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种吸波片测试设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采用如下技术方案：一种吸波片测试设备，包括外箱体，所述外箱体上端设有箱体开口，所述箱体开口设有下固定板，所述下固定上表面可拆卸设有上固定板，所述下固定板上表面设有下待测槽，所述下固定板下表面开设有与下待测槽连通的下开口，所述上固定板下表面设有上待测槽，所述上固定板上表面开设有与上待测槽连通的上开口，所述上固定板上嵌设有若干引脚针，所述引脚针下端设置于上待测槽内，所述外箱体内设有安装板，所述安装板上设有发射天线，所述外箱体内设有相互平行设置的第一转轴和第二转轴，所述安装板两端均竖直设有齿条，所述每一齿条相对两侧面分别设有第一齿面和第二齿面，所述第一转轴上间隔设有与第一齿面啮合的第一齿轮，所述第二转轴上间隔设有与第二齿面啮合的第二齿轮，所述外箱体外侧壁设有第一刻度盘，所述第一刻度盘中部位置开设有供第一转轴贯穿的第一通孔，所述第一转轴一端设有与第一刻度盘接触的第一旋钮。引脚针上端连接LCR测试仪器，引脚针下端抵触吸波材，通过上固定板和下固定板快速夹持吸波材，通过旋转第一转轴或第二转轴改变安装板高度，能够调整发射天线与吸波材的间距，通过第一刻度盘配合第一旋钮标示第一转轴的角度变化，标示安装板位置变化情况。
[0006]进一步地，所述第一转轴和第二转轴中部均设有连接齿轮，两个所述连接齿轮相互啮合。第一转轴和第二转轴中部通过连接齿轮传动连接。
[0007]进一步地，所述外箱体远离第一刻度盘的侧壁设有第二刻度盘，所述第二刻度盘中部位置开设有供第二转轴贯穿的第二通孔，所述第二转轴一端设有与第二刻度盘接触的第二旋钮。通过第二刻度盘配合第二旋钮标示第二转轴的角度变化，标示安装板位置变化情况。
[0008]进一步地，所述外箱体相对两侧壁均嵌设有第一阻尼块和第二阻尼块，所述第一阻尼块开设有供第一转轴或第二转轴贯穿的轴孔，所述第二阻尼块开设有供第一转轴或第二转轴插入的插槽，所述第二阻尼块远离外箱体的端面粘接有屏蔽片。通过第一阻尼块和第二阻尼块固定第一转轴两端和第二转轴两端。
[0009]进一步地，所述第一阻尼块与第二阻尼块一端均凸设有限位环，所述限位环与外箱体内壁抵接。通过限位环定位第一阻尼块与第二阻尼块。
[0010]进一步地，所述下固定一端通过合页铰接上固定板，所述下固定远离合页的一端设有卡扣板，所述卡扣板靠近合页的表面上端水平凸设有限位凸肋。下固定板和上固定板可拆卸连接，便于将夹持在下固定板和上固定板之间的吸波片换下。
[0011]进一步地，所述安装板包括支撑板、加强框与沉头螺钉，所述支撑板下表面边缘部位设有加强框，所述加强框呈矩形框体，所述齿条上端通过沉头螺钉与加强框固定连接。通过支撑板支撑发射天线，齿条通过加强框与支撑板连接。
[0012]进一步地，所述安装板还包括限位框，所述支撑板上表面中部设有限位框，所述发射天线设置于支撑板与限位框之间，所述限位框靠近支撑板的表面设有与发射天线适配的定位槽，所述加强框上凸设有贯穿支撑板的固定柱，所述限位框上开设有与固定柱相适配的限位孔。通过限位框将发射天线夹持在支撑板与限位框之间。
[0013]进一步地，所述外箱体内设有导向杆，所述外箱体和下固定板均凹设有与导向杆适配的卡槽，所述加强框侧面开设有与导向杆滑动连接的滑动槽。通过导向杆对加强框进行导向。
[0014]进一步地，所述下固定板下表面凹设有与外箱体相适配的安装槽，所述外箱体上端可拆卸设置于安装槽内。通过安装槽和外箱体配合防止下固定板滑动。
[0015]本技术的有益效果为：通过上固定板和下固定板快速夹持吸波材，能够保护吸波材质，通过旋转第一转轴或第二转轴调整发射天线与吸波材的间距，并且标示安装板位置，能保证吸波检测效果。
附图说明
[0016]附图对本技术作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本技术的任何限制。
[0017]图1为本技术一实施例提供的结构示意图；
[0018]图2为本技术一实施例提供的剖视图。
[0019]图中标记：外箱体1、下固定板2、上固定板3、安装板4、发射天线5、第一转轴6、第二转轴7、齿条8、第一齿轮9、连接齿轮10。
具体实施方式
[0020]以下结合附图对本技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本技术，并不用于限制本技术。
[0021]需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者可能同时存在居中元件。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
[0022]在本技术中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、左、右”通常是指如图1所示的上下左右。“内、外”是指具体轮廓上的内与外。“远、近”是指相对于某个部件的远与近。
[0023]如图1
‑
图2中所示，本技术一实施例提供的一种吸波片测试设备，包括外箱体1，所述外箱体1上端设有箱体开口，所述箱体开口设有下固定板2，所述下固定上表面可拆卸设有上固定板3，所述下固定板2上表面设有下待测槽，所述下固定板2下表面开设有与下待测槽连通的下开口，所述上固定板3下表面设有上待测槽，所述上固定板3上表面开设有与上待测槽连通的上开口，所述上固定板3上嵌设有若干引脚针，所述引脚针下端设置于上待测槽内，所述外箱体1内设有安装板4，所述安装板4上设有发射天线5，所述外箱体1内设有相互平行设置的第一转轴6和第二转轴7，所述安装板4两端均竖直设有齿条8，所述每一齿条8相对两侧面分别设有第一齿面和第二齿面，所述第一转轴6上间隔设有与第一齿面啮合的第一齿轮9，所述第二转轴7上间隔设有与第二齿面啮合的第二齿轮，所述外箱体1外侧壁设有第一刻度盘，所述第一刻度盘中部位置开设有供第一转轴6贯穿的第一通孔，所述第一转轴6一端设有与第一刻度盘接触的第一旋钮。引脚针上端连接LCR测试仪器，引脚针下端抵触吸波材，通过上固定板3和下固定板2快速本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种吸波片测试设备，其特征在于：包括外箱体，所述外箱体上端设有箱体开口，所述箱体开口设有下固定板，所述下固定上表面可拆卸设有上固定板，所述下固定板上表面设有下待测槽，所述下固定板下表面开设有与下待测槽连通的下开口，所述上固定板下表面设有上待测槽，所述上固定板上表面开设有与上待测槽连通的上开口，所述上固定板上嵌设有若干引脚针，所述引脚针下端设置于上待测槽内，所述外箱体内设有安装板，所述安装板上设有发射天线，所述外箱体内设有相互平行设置的第一转轴和第二转轴，所述安装板两端均竖直设有齿条，所述每一齿条相对两侧面分别设有第一齿面和第二齿面，所述第一转轴上间隔设有与第一齿面啮合的第一齿轮，所述第二转轴上间隔设有与第二齿面啮合的第二齿轮，所述外箱体外侧壁设有第一刻度盘，所述第一刻度盘中部位置开设有供第一转轴贯穿的第一通孔，所述第一转轴一端设有与第一刻度盘接触的第一旋钮。2.根据权利要求1所述吸波片测试设备，其特征在于：所述第一转轴和第二转轴中部均设有连接齿轮，两个所述连接齿轮相互啮合。3.根据权利要求1所述吸波片测试设备，其特征在于：所述外箱体远离第一刻度盘的侧壁设有第二刻度盘，所述第二刻度盘中部位置开设有供第二转轴贯穿的第二通孔，所述第二转轴一端设有与第二刻度盘接触的第二旋钮。4.根据权利要求1所述吸波片测试设备，其特征在于：所述外箱体相对两侧壁均嵌设有第一阻尼块和第二阻尼块，所述第一阻尼块开设...

【专利技术属性】
技术研发人员：李正磊，刘凯，
申请(专利权)人：惠州永讯达微波技术有限公司，
类型：新型
国别省市：