用于提高合束精度的光路系统技术方案

本发明专利技术提供了一种用于提高合束精度的光路系统，是用于测距主机的光路系统，测距主机包括绝对测距模块、相对测距模块、以及组合模块，绝对测距模块包括将第一子光束输入第一保偏光纤的第一耦合单元、将第二子光束输入第二保偏光纤的第二耦合单元、以及偏振分束单元，偏振分束单元配置为将第一子光束和第二子光束合并并发送至组合模块，相对测距模块配置为产生第二光束，组合模块配置为接收第一子光束、第二子光束以及第二光束并对第一子光束、第二子光束以及第二光束进行合束处理。根据本发明专利技术，能够提高一种能够降低合束装调难度并提高合束精度的光路系统。高合束精度的光路系统。高合束精度的光路系统。

【技术实现步骤摘要】
用于提高合束精度的光路系统
[0001]本申请是申请日为2021年09月18日、申请号为2021111121955、专利技术名称为具有保偏光纤的测距系统的专利申请的分案申请。


[0002]本专利技术涉及一种智能制造装备产业，具体涉及一种用于提高合束精度的光路系统。

技术介绍

[0003]近年来，激光跟踪仪、激光绝对测距仪等测距系统受到了测量行业的广泛重视，逐渐成为测量行业应用最普遍的测量工具。但其测量精度容易受到使用环境、装置结构以及操作方式等诸多因素的影响，从而导致测量精度下降。
[0004]在目前的测距系统中，一般通过绝对测距的方式获取辅助测量装置的位置，现有的绝对测距的方法中，常利用光调制的方法计算辅助测量装置的位置，但是这种方法中的电学部件和光学部件的可能会随时间的变化而发生抖动和漂移，进而引入计算误差，为了减少误差，可以设计参考光路和测量光路，并利用参考光路和测量光路计算辅助测量装置的位置，
[0005]然而，目前的具有参考光路和测量光路的测距系统，无法有效地减小由于电学部件和光学部件的抖动和漂移而引入的误差。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于提高合束精度的光路系统，是用于测距主机的光路系统，其特征在于，所述测距主机包括绝对测距模块、相对测距模块、以及组合模块，所述绝对测距模块包括将第一子光束输入第一保偏光纤的第一耦合单元、将第二子光束输入第二保偏光纤的第二耦合单元、以及偏振分束单元，所述偏振分束单元配置为将所述第一子光束和所述第二子光束合并并发送至所述组合模块，所述相对测距模块配置为产生第二光束，所述组合模块配置为接收所述第一子光束、所述第二子光束以及所述第二光束并对所述第一子光束、所述第二子光束以及所述第二光束进行合束处理。2.根据权利要求1所述的测距系统，其特征在于，所述绝对测距模块还包括第一发射单元、第一分光单元以及第二分光单元，所述第一发射单元配置为产生第一光束，所述第二分光单元配置为将所述第一光束分解为正交偏振的所述第一子光束和所述第二子光束。3.根据权利要求1所述的测距系统，其特征在于，所述第一子光束和所述第二子光束到达所述组合模块后，依次经过所述组合模块的第三耦合单元和第一波片，所述第一波片为1/4波片。4.根据权利要求1所述的测距系统，其特征在于，所述偏振分束单元和所述第一耦合单元之间的光纤长度与所述偏振分束单元和所述第二耦合单元之间的光纤长度相同。5.根据权利要求1所述的测距系统，其特征在于，所述相对测距模块包括用于产生所述第二光束的第二发射单元和用于接收所述第二光束并对所述第二光束进行分束的第三分光...

【专利技术属性】
技术研发人员：张和君，冯福荣，梁志明，吴兴发，张琥杰，陈源，
申请(专利权)人：深圳市中图仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：