电子元件外观检测设备制造技术

本发明专利技术涉及电子元件外观检测设备技术领域，特别是涉及一种电子元件外观检测设备。该电子元件外观检测设备包括底座、供料装置、搬运装置、多工位检测装置以及收料装置。供料装置承载有待测工件；搬运装置能够对待测工件进行搬运，并能将待测工件移动至多工位检测装置分别进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测以及多站正面外观检测；搬运装置还能将经检测后的工件移送至收料装置内进行收料作业。本发明专利技术的优点：能够实现对电子元件进行全方位立体检测，有效判别并分选出外观不良的工件，智能化程度高且效率高，提高了对电子元件立体外观检测结果的可靠性及准确性，检测效果佳。检测效果佳。检测效果佳。

【技术实现步骤摘要】
电子元件外观检测设备


[0001]本专利技术涉及电子元件检测设备
，特别是涉及一种电子元件外观检测设备。

技术介绍

[0002]随着全球消费者对手机拍照功能的日益重视，摄像头模组等电子元件已成为手机必备功能模块，摄像头模组作为手机拍照的特征采集器，是将拍摄景物在传感器上成像的器件，故，摄像头模组的质量对手机拍照成像至关重要。
[0003]摄像头模组的生产需要经过烘烤FPC、点胶、粘贴晶圆、盖镜座、烘烤等多道工序，任何一道工序的问题都可能导致最终成品出现品质问题。所以在摄像头模组生产完成后，生产线会对成品进行各方面的检测以及时发现不良品。其中，摄像头模组等电子元件外观检测是一个非常重要的环节。摄像头模组等电子元件外观检测设备需要对电子元件的优次等级进行检测，并区分开来进行分类。
[0004]但，现有电子元件外观检测设备不能对电子元件进行全方位立体检测，并且，检测效率低，检测流程不顺畅，可靠性低，检测结果不准确。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，针对上述技术问题，本申请提供如下技术方案：
[0006]一种电子元件外观检测设备，包括：
[0007]底座；
[0008]供料装置，安装于所述底座上并承载有待测工件；
[0009]搬运装置，安装于所述底座上并对所述待测工件进行搬运；
[0010]多工位检测装置，安装于所述底座上，所述搬运装置能够将所述待测工件移送至所述多工位检测装置，以对所述待测工件依次进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测及多站正面外观检测；
[0011]收料装置，安装于所述底座上，所述搬运装置将检测后的所述待测工件移送至所述收料装置内。
[0012]在其中一个实施例中，所述多工位检测装置包括多个背检组件，在多个所述背检组件中，相邻两个所述背检组件的朝向相反。
[0013]在其中一个实施例中，所述多工位检测装置还包括侧检组件，所述侧检组件数量设置为N个，N个所述侧检组件被分成第一组和第二组，其中N≥3且N设置为自然数；
[0014]其中，第一组中的所述侧检组件数量设置为偶数个，且第一组中的所述侧检组件以两两相对的方式设置；
[0015]第二组中的所述侧检组件数量至少为1个，且第二组中的所述侧检组件与第一组中两两相对设置中的一个所述侧检组件依次布设。
[0016]在其中一个实施例中，所述多工位检测装置还包括侧检组件，所述侧检组件数量
设置为N个，N≥2且N设置为偶数，N个所述侧检组件以两两相对的方式设置。
[0017]在其中一个实施例中，所述侧检组件包括：
[0018]第二调节板单元，安装于所述底座上；
[0019]斜立柱，其一端与所述第二调节板单元连接，且所述斜立柱开设有连接孔；
[0020]第一侧检单元，部分穿设于所述连接孔内并与所述斜立柱连接，且在连接孔内往复运动。
[0021]在其中一个实施例中，所述侧检组件包括：
[0022]安装座，安装于所述底座上；
[0023]光源安装单元，安装于所述安装座上；
[0024]光源调节件，与所述光源安装单元连接，并位于所述光源安装单元远离所述底座的一侧，且所述光源调节件开设有调节孔；
[0025]其中，所述光源调节件能够沿所述调节孔的延伸方向往复运动。
[0026]在其中一个实施例中，所述多工位检测装置还包括多个正检组件，在多个所述正检组件中，相邻两个所述正检组件中的其中一个所述正检组件相对凸出于另一个所述正检组件设置。
[0027]在其中一个实施例中，所述多工位检测装置包括多个背检组件、多个侧检组件及多个正检组件；多个所述侧检组件位于多个所述背检组件的一侧，多个所述正检组件位于所述侧检组件远离所述背检组件的一侧，且多个所述侧检组件与多个所述正检组件呈错位设置；
[0028]其中，多个所述背检组件沿第一方向依次设置，多个所述侧检组件与多个所述正检组件均沿第二方向依次设置，且所述第一方向与所述第二方向相互垂直。
[0029]在其中一个实施例中，所述电子元件外观检测设备还包括供料区、暂存区、背检区、侧检区、正检区、出料区及收料区；其中，所述暂存区位于所述供料区和所述背检区之间，所述暂存区设有入料料梭，所述侧检区设有贯穿所述侧检区的侧检料梭，所述正检区还设有位于正检组件下方的正检料梭，所述出料区设有出料料梭和与所述出料料梭配合的翻转装置，所述翻转装置与所述收料区对应配合；
[0030]所述侧检料梭包括能往返运动的运料平台以及设置在所述运料平台上若干能自转且装载电子元件的料位，且所述侧检料梭两端延伸分别对应所述背检区和所述正检区。
[0031]在其中一个实施例中，所述搬运装置包括第一夹取组件、第二夹取组件、第三夹取组件、第四夹取组件、第五夹取组件；其中，所述第一夹取组件在所述供料区和所述暂存区之间往复运动，所述第二夹取组件在所述暂存区、所述背检区和所述侧检料梭三者之间往复运动，所述第三夹取组件在所述侧检料梭和所述正检区之间往复运动，所述第四夹取组件在所述正检区和所述出料区之间往复运动，所述第五夹取组件在所述出料区的翻转装置和所述收料区之间往复运动；
[0032]所述第二夹取组件包括能旋转运动的抓取部件，所述第二夹取组件在所述暂存区和所述背检区之间旋转，所述第二夹取组件在所述背检区和所述侧检料梭之间旋转。
[0033]与现有技术相比，本申请提供的电子元件外观检测设备，通过设置具有不同功能的各装置，并通过自动化流程来检测电子元件外观，将供料、检测、分类、收料等工序高度自动化，能够实现对电子元件进行全方位立体检测，有效判别并分选出外观不良的工件。智能
化程度高且效率高，提高了对电子元件立体外观检测结果的稳定性、可靠性及准确性，检测效果佳。并且，通过设置多工位检测装置依次对待测工件进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测及多站正面外观检测，能够分别对电子元件的不同部分进行视觉外观检测，不用调节相机焦距和位置，检测图像清晰，检测更加细致，进一步提高检测准确率和检测效率。
附图说明
[0034]图1为本专利技术提供的电子元件外观检测设备的示意图。
[0035]图2为本专利技术提供的背面检测装置一视角的结构示意图。
[0036]图3为本专利技术提供的背面检测装置另一视角的结构示意图。
[0037]图4为本专利技术提供的第二夹取组件的结构示意图。
[0038]图5为本专利技术提供的一实施例中的侧面检测装置的结构示意图。
[0039]图6为图1中A处的局部放大图。
[0040]图7为本专利技术提供的另一实施例中的侧面检测装置的结构示意图。
[0041]图8为本专利技术提供的侧检料梭的结构示意图。
[0042]图9为本专利技术提供的侧检料梭的结构示意图。
[0043]图10为本专利技术提供的正面检测装置一视角的结构示意图。
[0044]图11为本专利技术提供的正面检测装置另一视角的结构示意图。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件外观检测设备，其特征在于，包括：底座(10)；供料装置(20)，安装于所述底座(10)上并承载有待测工件；搬运装置(30)，安装于所述底座(10)上并对所述待测工件进行搬运；多工位检测装置(101)，安装于所述底座(10)上，所述搬运装置(30)能够将所述待测工件移送至所述多工位检测装置(101)，以对所述待测工件依次进行多站背面外观检测、多站侧面外观检测及多站正面外观检测；收料装置(90)，安装于所述底座(10)上，所述搬运装置(30)将检测后的所述待测工件移送至所述收料装置(90)内。2.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述多工位检测装置(101)包括：多个背检组件(401)，在多个所述背检组件(401)中，相邻两个所述背检组件(401)的朝向相反。3.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述多工位检测装置(101)还包括：侧检组件(52)，所述侧检组件(52)数量设置为N个，N个所述侧检组件(52)被分成第一组和第二组，其中N≥3且N设置为自然数；其中，第一组中的所述侧检组件(52)数量设置为偶数个，且第一组中的所述侧检组件以两两相对的方式设置；第二组中的所述侧检组件(52)数量至少为1个，且第二组中的所述侧检组件(52)与第一组中两两相对设置中的一个所述侧检组件(52)依次布设。4.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述多工位检测装置(101)还包括：侧检组件(52)，所述侧检组件(52)数量设置为N个，N≥2且N设置为偶数，N个所述侧检组件(52)以两两相对的方式设置。5.根据权利要求3或4所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述侧检组件(52)包括：第二调节板单元(521)，安装于所述底座(10)上；斜立柱(522)，其一端与所述第二调节板单元(521)连接，且所述斜立柱(522)开设有连接孔(5221)；第一侧检单元(523)，部分穿设于所述连接孔(5221)内并与所述斜立柱(522)连接，且在连接孔(5221)内往复运动。6.根据权利要求3或4所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述侧检组件(52)包括：安装座(51)，安装于所述底座(10)上；光源安装单元(561)，安装于所述安装座(51)上；光源调节件(58)，与所述光源安装单元(561)连接，并位于所述光源安装单元(561)远离所述底座(10)的一侧，且所述光源调节件(58)开设有调节孔(581)；其中，所述光源调节件(58)能够沿所述调节孔(581)的延伸方向往复运动。
7.根据权利要求1所述的电子元件外观检测设备，其特征在于，所述多工位检测装置(101)还包括：多个正检组件(701)，在多...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢周阳，翁水才，祝占伟，郑洪宝，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：