核酸序列测定装置、核酸序列测定方法以及计算机可读取的非临时性记录介质制造方法及图纸

核酸序列测定装置(1)测定样品中包含的具有特定的核酸序列的目标(TG)。核酸序列测定装置(1)具备：检测从因目标(TG)的添加而发出荧光的核酸序列测定用设备(DV)发出的荧光的检测部(12)；以及基于检测部(12)的检测结果，根据以下的第1光量与第2光量的差而测定所述目标的演算部(25)，所述第1光量表示对核酸序列测定用设备(DV)添加样品之前或刚添加之后的第1时间点的、从核酸序列测定用设备(DV)的预先规定的测定区域发出的荧光的光量，所述第2光量表示对核酸序列测定用设备(DV)添加样品起经过预先规定的时间后的第2时间点的、从相同测定区域发出的荧光的光量。同测定区域发出的荧光的光量。同测定区域发出的荧光的光量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】核酸序列测定装置、核酸序列测定方法以及计算机可读取的非临时性记录介质


[0001]本专利技术涉及核酸序列测定装置、核酸序列测定方法以及计算机可读取的非临时性记录介质。

技术介绍

[0002]作为测定样品中包含的具有特定的核酸序列的目标(target)的方法，已知有使用DNA芯片(将具有所述特定的核酸序列的互补序列的检测探针设置于基板等的固相面而成)的方法。该方法是利用添加至DNA芯片的样品中包含的目标通过杂交被DNA芯片的检测探针所捕获的性质而测定目标的方法。在该方法中，能够检测目标是否包含在样品中，测定样品中包含的目标的量。
[0003]在以下的专利文献1中，公开了：使用设置有附加有荧光分子的荧光探针和附加有使荧光分子的荧光淬灭(quenching)的淬灭分子的淬灭探针作为所述检测探针的核酸序列测定用设备(device)(DNA芯片)，来测定目标的方法。在该方法中，可以不进行对于目标的荧光分子的附加以及DNA芯片的清洗(用于除去未被捕获的目标等的清洗)而测定目标。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开2015
‑
43702号公报

技术实现思路

[0007]本专利技术所要解决的技术问题
[0008]然而，在使用所述专利文献1中公开的核酸序列测定用设备测定目标的方法中，会因为基于淬灭分子的淬灭的不完全性、荧光的不均(光量波动)等原因，而存在测定精度劣化的问题。
[0009]本专利技术鉴于所述问题而开发，目的在于：提供一种与现有技术相比能够提高样品中包含的具有特定的核酸序列的目标的测定精度的核酸序列测定装置、核酸序列测定方法、以及计算机可读取的非临时性记录介质。
[0010]解决技术问题的技术手段
[0011]为了解决所述技术问题，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定装置中，在对样品中包含的具有特定的核酸序列的目标(TG)进行测定的核酸序列测定装置(1)中具备：检测部(12)，其对从因所述目标的添加而发出荧光的核酸序列测定用设备(DV)发出的荧光进行检测；以及演算部(25)，其基于所述检测部的检测结果，根据以下的第1光量与第2光量的差而测定所述目标，第1光量表示对所述核酸序列测定用设备添加所述样品之前或刚添加之后的第1时间点的、从所述核酸序列测定用设备的预先规定的测定区域(SP)发出的荧光的光量，第2光量表示对所述核酸序列测定用设备添加所述样品起经过预先规定的时间后的第2时间点的、从所述测定区域发出的荧光的光量。
[0012]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定装置中，所述检测部具备至少取得包含所述测定区域的图像取得区域(BK)的图像的图像取得部(12a)，所述演算部进行作为在所述第1时间点取得的所述图像取得区域的图像的第一图像以及作为在所述第2时间点取得的所述图像取得区域的图像的第二图像的图像处理，分别求得所述第1光量以及所述第2光量。
[0013]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定装置中，作为所述图像处理，所述演算部进行：求出形成所述第一图像中包含的所述测定区域的图像的像素的平均阶调值作为所述第1光量的处理(S13)、以及求出形成所述第二图像中包含的所述测定区域的图像的像素的平均阶调值作为所述第2光量的处理(S14)。
[0014]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定装置中，所述演算部提取所述第一图像与所述第二图像的每个像素的阶调值的差超过预先规定的第1阈值的像素，并进行：求得所述第一图像的被提取的像素的平均阶调值以作为所述第1光量的处理(S26)、以及求得所述第二图像的被提取的像素的平均阶调值以作为所述第2光量的处理(S27)。
[0015]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定装置中，所述演算部求出形成所述第一图像中包含的所述测定区域的图像的像素的阶调值的标准偏差，并根据所述标准偏差设定所述第1阈值。
[0016]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定装置中，作为所述图像处理，所述演算部进行：求出形成所述第一图像中包含的所述测定区域的图像的各像素的阶调值与形成所述第二图像中包含的所述测定区域的图像的各像素的阶调值的差，以作为所述第1光量与所述第2光量的差的处理(S33)。
[0017]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定装置中，所述演算部提取所述第1光量与所述第2光量的差超过预先规定的第2阈值的像素，并根据提取的像素的数量测定所述目标。
[0018]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定装置中，所述演算部求出形成所述第一图像中包含的所述测定区域以外的区域的图像的像素的阶调值的标准偏差，并根据所述标准偏差设定所述第2阈值。
[0019]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定装置中，所述图像取得部以不同的解像度取得所述图像取得区域的图像。
[0020]基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定方法是一种通过对样品中包含的具有特定的核酸序列的目标(TG)进行测定的核酸序列测定装置而实行的核酸序列测定方法，其中，
[0021]求出下述第1光量与第2光量的差(S15，S28，S33)，
[0022]所述第1光量表示对因所述目标的添加而发出荧光的核酸序列测定用设备添加所述样品之前或刚添加之后的第1时间点的、从所述核酸序列测定用设备的预先规定的测定区域发出的荧光的光量，
[0023]第2光量表示对所述核酸序列测定用设备添加所述样品起经过预先规定的时间后的第2时间点的、从所述测定区域发出的荧光的光量，
[0024]并根据所述第1光量与所述第2光量的差测定所述目标(S16，S29，S36)。
[0025]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定方法中，取得至少包含所述测定
区域的图像取得区域的图像，进行作为在所述第1时间点取得的所述图像取得区域的图像的第一图像以及作为在所述第2时间点取得的所述图像取得区域的图像的第二图像的图像处理，分别求得所述第1光量以及所述第2光量。
[0026]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定方法中，作为所述图像处理而进行：求出形成所述第一图像中包含的所述测定区域的图像的像素的平均阶调值作为所述第1光量的处理(S13)、以及求出形成所述第二图像中包含的所述测定区域的图像的像素的平均阶调值作为所述第2光量的处理(S14)。
[0027]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定方法中，提取所述第一图像与所述第二图像的每个像素的阶调值的差超过预先规定的第1阈值的像素，进行：求得所述第一图像的被提取的像素的平均阶调值以作为所述第1光量的处理(S26)、以及求得所述第二图像的被提取的像素的平均阶调值以作为所述第2光量的处理(S27)。
[0028]此外，在基于本专利技术的一种方式的核酸序列测定方法中，求出形成所述第一图像中包含的所述测定区域的图像的像素的阶调值的标准偏差，并根据所述标准偏差设定所述第1阈值。
[0029]此外，在基本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种核酸序列测定装置，其为对样品中包含的具有特定的核酸序列的目标进行测定的核酸序列测定装置，其中，所述核酸序列测定装置具备：检测部，其检测从因所述目标的添加而发出荧光的核酸序列测定用设备发出的荧光；演算部，其基于所述检测部的检测结果，根据以下的第1光量与第2光量的差而测定所述目标，所述第1光量表示对所述核酸序列测定用设备添加所述样品之前或刚添加之后的第1时间点的、从所述核酸序列测定用设备的预先规定的测定区域发出的荧光的光量，所述第2光量表示对所述核酸序列测定用设备添加所述样品起经过预先规定的时间后的第2时间点的、从所述测定区域发出的荧光的光量。2.根据权利要求1所述的核酸序列测定装置，其中，所述检测部具备：取得至少包含所述测定区域的图像取得区域的图像的图像取得部，所述演算部进行作为在所述第1时间点取得的所述图像取得区域的图像的第一图像以及作为在所述第2时间点取得的所述图像取得区域的图像的第二图像的图像处理，分别求得所述第1光量以及所述第2光量。3.根据权利要求2所述的核酸序列测定装置，其中，作为所述图像处理，所述演算部进行下述处理：求出形成所述第一图像中包含的所述测定区域的图像的像素的平均阶调值作为所述第1光量的处理、以及求出形成所述第二图像中包含的所述测定区域的图像的像素的平均阶调值作为所述第2光量的处理。4.根据权利要求3所述的核酸序列测定装置，其中，所述演算部提取所述第一图像与所述第二图像的每个像素的阶调值的差超过预先规定的第1阈值的像素，并进行下述处理：求得所述第一图像的被提取的像素的平均阶调值以作为所述第1光量的处理；以及求得所述第二图像的被提取的像素的平均阶调值以作为所述第2光量的处理。5.根据权利要求4所述的核酸序列测定装置，其中，所述演算部求出形成所述第一图像中包含的所述测定区域的图像的像素的阶调值的标准偏差，并根据所述标准偏差设定所述第1阈值。6.根据权利要求2所述的核酸序列测定装置，其中，作为所述图像处理，所述演算部进行下述处理：求出形成所述第一图像中包含的所述测定区域的图像的各像素的阶调值与形成所述第二图像中包含的所述测定区域的图像的各像素的阶调值的差，以作为所述第1光量与所述第2光量的差的处理。7.根据权利要求6所述的核酸序列测定装置，其中，所述演算部提取所述第1光量与所述第2光量的差超过预先规定的第2阈值的像素，并根据提取的像素的数量测定所述目标。8.根据权利要求7所述的核酸序列测定装置，其中，所述演算部求出形成所述第一图像中包含的所述测定区域以外的区域的图像的像素
的阶调值的标准偏差，并根据所述标准偏差设定所述第2阈值。9.根据权利要求2～8中任一项所述的核酸序列测定装置，其中，所述图像取得部以不同的解像度取得所述图像取得区域的图像。10.一种核酸序列测定方法，其为通过对样品中包含的具有特定的核酸序列的目标进行测定的核酸序列测定装置而实行的核酸序列测定方法，其中，求出下述第1光量与第2光量的差，并且根据所述第1光量与所述第2光量的差测定所述目标，所述第1光量表示对因所述目标的添加而发出荧光的核酸序列测定用设备添加所述样品之前或刚添加之后的第1时间点的、从所述核酸序列测定用设备的预先规定的测定区域发出的荧光的光量，所述第2光量表示对...

【专利技术属性】
技术研发人员：宫内祐树，蓼沼崇，田口朋之，
申请(专利权)人：横河电机株式会社，
类型：发明
国别省市：