显示面板及显示面板的老化测试方法技术

本发明专利技术实施例提供一种显示面板及显示面板的老化测试方法。其中包括数据写入模块、驱动模块、感测模块、控制模块及发光模块。在各模块内设置不同器件，当对面板进行老化测试时，向控制模块提供高电平信号，从而控制测试电流流向该发光模块。进而改善大电流对测试效果的影响，并提高显示面板的综合性能。并提高显示面板的综合性能。并提高显示面板的综合性能。

Aging test method of display panel and display panel

【技术实现步骤摘要】
显示面板及显示面板的老化测试方法


[0001]本专利技术涉及显示面板的显示
，具体涉及一种显示面板及显示面板的老化测试方法。

技术介绍

[0002]随着显示面板制备工艺等显示技术的发展，人们对显示面板及装置的性能及质量均提出了更高的要求。
[0003]显示面板制备完成后，需要对显示面板的各项性能及参数进行检测并优化。在有机发光二极管(Organic light
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emitting diode,OLED)显示器件中，OLED具有自发光、轻薄、低功耗以及响应速度快等特性，而被广泛应用于多种显示领域中。其中，在对OLED器件的进行评价时，OLED器件的寿命是其中的一个重要指标。因此，现有技术中，OLED制备过程中，通常需要对制备完成后的OLED器件进行寿命老化(Lifetime
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Aging，L
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Aging)工艺。在进行L
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Aging工艺时，电路架构的电路设计，测试环境以及测试的电流密度为主要的测试影响因素。具体的，在现有的像素驱动电路中，对发光器件进行老化测试时，往往在对器件进行点亮的初期，有机发光器件会存在亮度的波动，或者在对其进行测试的初期，其亮度会出现快速下降。进而导致显示器件出现显示色偏，并导致器件的使用寿命和品质下降，不利于器件性能的提高。
[0004]综上所述，现有技术在对显示器件进行老化测试时，在老化测试的初期，发光器件会存在较大的亮度波动，进而导致显示器件出现色偏，并导致器件的寿命和品质下降等问题。不利于显示器件综合性能的提高。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供一种显示面板及显示面板的老化测试方法。以有效的改善显示面板在进行老化测试的初期，发光器件容易出现较大的波动，进而使得显示器件出现色偏以及品质下降等问题。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术实施例所提供的技术方法如下：
[0007]本专利技术实施例的第一方面，提供了一种显示面板，所述显示面板包括老化测试电路，所述老化测试电路包括多个像素驱动电路，所述像素驱动电路包括：
[0008]数据写入模块，所述数据写入模块与所述显示面板的数据信号线电连接，并通过所述数据信号线写入数据信号；
[0009]驱动模块，所述驱动模块与所述数据写入模块电连接，所述驱动模块用以接收所述数据写入模块的数据信号，并根据所述数据信号形成驱动电流；
[0010]感测模块，所述感测模块与所述驱动模块电连接，所述感测模块用以感测所述驱动电压，并根据所述驱动电压形成反馈电流；
[0011]控制模块，所述控制模块与所述驱动模块以及所述感测模块电连接；以及，
[0012]发光模块，所述发光模块与所述驱动模块、所述感测模块以及所述控制模块电连
接；
[0013]其中，所述控制模块用以接收高电平信号，并根据所述驱动电压以及所述反馈电流对所述发光模块进行老化测试。
[0014]根据本专利技术一实施例，所述驱动模块包括第一薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管的漏极与电压端电连接，所述第一薄膜晶体管的栅极与所述数据写入模块电连接，且所述第一薄膜晶体管的源极与所述发光模块、所述感测模块以及所述控制模块电连接。
[0015]根据本专利技术一实施例，所述驱动模块还包括电容，所述电容的一端与所述栅极电连接，所述电容的另一端与所述源极电连接。
[0016]根据本专利技术一实施例，所述数据写入模块包括第二薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管的漏极与所述数据信号线电连接，所述第二薄膜晶体管的源极与所述驱动模块电连接。
[0017]根据本专利技术一实施例，所述像素驱动电路还包括第一控制信号线，所述第一控制信号线与所述第二薄膜晶体管的栅极电连接。
[0018]根据本专利技术一实施例，所述感测模块包括第三薄膜晶体管，所述第三薄膜晶体管的源极与所述驱动模块、所述发光模块以及所述控制模块电连接。
[0019]根据本专利技术一实施例，所述像素驱动电路还包括第二控制信号线，所述第二控制信号线与所述第三薄膜晶体管的栅极电连接。
[0020]根据本专利技术一实施例，所述控制模块包括第四薄膜晶体管，所述第四薄膜晶体管的漏极与所述数据信号线电连接，所述第四薄膜晶体管的源极与所述发光模块、所述驱动模块以及所述感测模块电连接。
[0021]根据本专利技术一实施例，所述像素驱动电路还包括第三控制信号线，所述第四薄膜晶体管的栅极与所述第三控制信号线电连接。
[0022]根据本专利技术一实施例，所述第三控制信号线用以向所述第四薄膜晶体管的栅极提供高电平信号。
[0023]根据本专利技术一实施例，所述像素驱动电路包括第一像素驱动电路，第二像素驱动电路以及第三像素驱动电路，所述第一像素驱动电路、所述第二像素驱动电路以及所述第三像素驱动电路对应设置在不同颜色的发光像素区域内，且所述第一像素驱动电路中的感测模块与所述第二像素驱动电路中的感测模块以及所述第三像素驱动电路中的感测模块电连接。
[0024]根据本专利技术一实施例，各像素驱动电路中对应的第三薄膜晶体管的漏极相互电连接。
[0025]根据本专利技术的第二方面，还提供一种显示面板的老化测试方法，包括如下步骤：
[0026]提供一老化测试电路，所述老化测试电路包括多个像素驱动电路，且所述老化测试电路为本专利技术实施例中提供的电路；
[0027]对不同所述像素驱动电路中对应的发光模块进行老化测试，其中，向所述像素驱动电路中的第三控制信号线提供高电平信号，并对不同像素驱动电路中对应的发光模块进行老化，且在向所述第三控制信号线提供高电平信号时，向未进行老化测试电路中对应的所述像素驱动电路中的数据信号线提供低电平信号。
[0028]综上所述，本专利技术实施例的有益效果为：
[0029]本专利技术实施例提供一种显示面板及显示面板的老化测试方法。老化测试电路包括中包括多个像素驱动电路，其中，像素驱动电路包括数据写入模块、驱动模块、感测模块、控制模块以及发光模块。各模块之间对应连接，同时，在对应的模块内设置不同功能的薄膜晶体管，当对显示面板内的发光模块进行老化测试时，向控制模块提供高电平信号，从而控制测试电流流向该发光模块。进而减小电路中的电流等因素对该器件老化测试效果的影响，从而有效的提高显示面板的老化测试效果，并提高显示面板的综合性能。
附图说明
[0030]下面结合附图，通过对本专利技术的具体实施方式详细描述，将使本专利技术的技术方案及其它有益效果更显而易见。
[0031]图1中以红色发光像素区域对应的电路为例进行说明；
[0032]图2为本专利技术实施例提供的显示面板内的老化测试电路结构示意图；
[0033]图3为本专利技术实施例中提供的另一老化测试电路对应的电路结构示意图；
[0034]图4为不同的像素驱动电路中的发光二极管在老化处理时对应的曲线示意图；
[0035]图5为本专利技术实施例中提供的测试方法流程示意图；
[0036]图6为本专利技术实施例提本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，包括一老化测试电路，所述老化测试电路包括多个像素驱动电路，其特征在于，所述像素驱动电路包括：数据写入模块，所述数据写入模块与所述显示面板的数据信号线电连接，并通过所述数据信号线写入数据信号；驱动模块，所述驱动模块与所述数据写入模块电连接，所述驱动模块用以接收所述数据写入模块的数据信号，并根据所述数据信号形成驱动电压；感测模块，所述感测模块与所述驱动模块电连接，所述感测模块用以感测所述驱动电压，并根据所述驱动电压形成反馈电流；控制模块，所述控制模块与所述驱动模块以及所述感测模块电连接；以及，发光模块，所述发光模块与所述驱动模块、所述感测模块以及所述控制模块电连接；其中，所述控制模块用以接收高电平信号，并根据所述驱动电压以及所述反馈电流对所述发光模块进行老化测试。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述驱动模块包括第一薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管的漏极与电压端电连接，所述第一薄膜晶体管的栅极与所述数据写入模块电连接，且所述第一薄膜晶体管的源极与所述发光模块、所述感测模块以及所述控制模块电连接。3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述驱动模块还包括电容，所述电容的一端与所述栅极电连接，所述电容的另一端与所述源极电连接。4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述数据写入模块包括第二薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管的漏极与所述数据信号线电连接，所述第二薄膜晶体管的源极与所述驱动模块电连接。5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述像素驱动电路还包括第一控制信号线，所述第一控制信号线与所述第二薄膜晶体管的栅极电连接。6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述感测模块包括第三薄膜晶体管，所述第三薄膜晶体管的源极与所述驱动模块、所述发光模块以及所述控制模块电连接。7.根据权利要求6所...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯继达，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：