【技术实现步骤摘要】
显示面板及显示面板的老化测试方法
[0001]本专利技术涉及显示面板的显示
,具体涉及一种显示面板及显示面板的老化测试方法。
技术介绍
[0002]随着显示面板制备工艺等显示技术的发展,人们对显示面板及装置的性能及质量均提出了更高的要求。
[0003]显示面板制备完成后,需要对显示面板的各项性能及参数进行检测并优化。在有机发光二极管(Organic light
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emitting diode,OLED)显示器件中,OLED具有自发光、轻薄、低功耗以及响应速度快等特性,而被广泛应用于多种显示领域中。其中,在对OLED器件的进行评价时,OLED器件的寿命是其中的一个重要指标。因此,现有技术中,OLED制备过程中,通常需要对制备完成后的OLED器件进行寿命老化(Lifetime
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Aging,L
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Aging)工艺。在进行L
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Aging工艺时,电路架构的电路设计,测试环境以及测试的电流密度为主要的测试影响因素。具体的,在现有的像素驱动电路中,对 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示面板,包括一老化测试电路,所述老化测试电路包括多个像素驱动电路,其特征在于,所述像素驱动电路包括:数据写入模块,所述数据写入模块与所述显示面板的数据信号线电连接,并通过所述数据信号线写入数据信号;驱动模块,所述驱动模块与所述数据写入模块电连接,所述驱动模块用以接收所述数据写入模块的数据信号,并根据所述数据信号形成驱动电压;感测模块,所述感测模块与所述驱动模块电连接,所述感测模块用以感测所述驱动电压,并根据所述驱动电压形成反馈电流;控制模块,所述控制模块与所述驱动模块以及所述感测模块电连接;以及,发光模块,所述发光模块与所述驱动模块、所述感测模块以及所述控制模块电连接;其中,所述控制模块用以接收高电平信号,并根据所述驱动电压以及所述反馈电流对所述发光模块进行老化测试。2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述驱动模块包括第一薄膜晶体管,所述第一薄膜晶体管的漏极与电压端电连接,所述第一薄膜晶体管的栅极与所述数据写入模块电连接,且所述第一薄膜晶体管的源极与所述发光模块、所述感测模块以及所述控制模块电连接。3.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,所述驱动模块还包括电容,所述电容的一端与所述栅极电连接,所述电容的另一端与所述源极电连接。4.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述数据写入模块包括第二薄膜晶体管,所述第二薄膜晶体管的漏极与所述数据信号线电连接,所述第二薄膜晶体管的源极与所述驱动模块电连接。5.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述像素驱动电路还包括第一控制信号线,所述第一控制信号线与所述第二薄膜晶体管的栅极电连接。6.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述感测模块包括第三薄膜晶体管,所述第三薄膜晶体管的源极与所述驱动模块、所述发光模块以及所述控制模块电连接。7.根据权利要求6所...
【专利技术属性】
技术研发人员:侯继达,
申请(专利权)人:深圳市华星光电半导体显示技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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