光学相干断层拍摄系统技术方案

技术编号:34366384 阅读:76 留言:0更新日期:2022-07-31 09:00
本发明专利技术提供光学相干断层拍摄系统,其准确地确定样本中的成为OCT的测量对象的位置。光学相干断层拍摄系统具有:探头,其向被检体照射被检光,并且接收来自该被检体的返回光;断层拍摄部,其与探头连接,生成被检光并输出至探头,并且接收来自探头的返回光,从而基于光学相干效应生成表示所述被检体的内部构造的信号;调整单元,其调整探头与被检体的距离,以使从所述探头输出的被检光聚焦在被检体的内部;载物台,其载置被检体;以及位置确定部,其根据返回光确定被检体的平面内的基准位置。载物台能够在保持被检体的表面与所述探头的距离的状态下移动所述被检体,并且以在被检光的照射范围内至少局部地包含被检体的外侧的区域的方式保持被检体。域的方式保持被检体。域的方式保持被检体。

【技术实现步骤摘要】
光学相干断层拍摄系统


[0001]本专利技术涉及光学相干断层拍摄系统。

技术介绍

[0002]光学相干断层拍摄装置(OCT;Optical Coherence Tomography)是通过使来自样本的返回光与参照光发生干涉而将样本内部的折射率差图像化的技术。以眼科为首,在皮肤科和循环器官内科等各种医疗领域中应用正有所进展。另外,作为产业用途,也正在推进对使光透过一定程度的玻璃和树脂等样本的内部构造进行测量的装置的开发(专利文献1等)。
[0003]专利文献1:日本特表2015

536037号公报
[0004]在通过OCT测量来确认整个样本的内部的构造(例如均匀性等)的情况下,需要改变照射被检光(以下称为探测光)的样本上的位置而反复进行测定。此时,例如有时要求准确地确定样本的不良情况(构造的不均匀性等)位于何处。在该情况下,需要准确地确定照射被检光的部位(即,测定样本上的哪个部位)。关于这一点,在现有技术中,无法准确地确定样本上的OCT测量对象的位置。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学相干断层拍摄系统,其具有:探头,其向板状或者片状的被检体照射被检光,并且接收来自该被检体的返回光;断层拍摄部,其与所述探头连接,生成所述被检光并输出至所述探头,并且接收来自所述探头的返回光,从而基于光学相干效应生成表示所述被检体的内部构造的信号;调整单元,其调整所述探头与所述被检体之间的距离,以使从所述探头输出的被检光聚焦在被检体的内部;载物台,其载置所述被检体;以及位置确定部,其根据所述返回光确定所述被检体的平面内的基准位置,其特征在于,该光学相干断层拍摄系统能够在保持所述被检体的表面与所述探头之间的距离的状态下,以在所述被检光的照射范围内至少局部地包含所述被检体的外侧的区域的方式移动所述被检体或者所述探头。2.根据权利要求1所述的光学相干断层拍摄系统,其特征在于,所述载物台还具有透明体部件,该透明体部件在所述被检体的边缘将所述被检体按压于所述载物台。3.根据权利要求1或2所述的光学相干断层拍摄系统,其特征在于,所述载物台具有对所述被检体进行保持的负压产生机构。4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的光学相干断层拍摄系统,其特征在于,所述载物台具有对所述被检体进行保持的静电卡盘机构。5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的光学相...

【专利技术属性】
技术研发人员:细田真希太田和哉志贺代康及川阳一宫地邦男
申请(专利权)人:新信心股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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