一种NAND闪存芯片的信息记录方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本申请涉及信息处理的领域，尤其是涉及一种NAND闪存芯片的信息记录方法、装置、电子设备及介质。其方法包括：当检测到测试指令后，获取测试数据信息以及UID信息，测试数据信息为NAND闪存测试板的NAND闪存芯片的RDT测试结果数据，UID信息为NAND闪存芯片的标识ID，然后对测试数据信息进行逻辑分析，生成NAND闪存测试板的测试结果信息，然后将测试结果信息与UID信息进行绑定，生成关联数据信息，然后对关联数据信息进行数据整理，生成并保存测试数据表，本申请具有提高信息的查询效率的效果。本申请具有提高信息的查询效率的效果。本申请具有提高信息的查询效率的效果。

An information recording method, device, electronic equipment and medium of NAND flash memory chip

【技术实现步骤摘要】
一种NAND闪存芯片的信息记录方法、装置、电子设备及介质


[0001]本申请涉及信息处理的领域，尤其是涉及一种NAND闪存芯片的信息记录方法、装置、电子设备及介质。

技术介绍

[0002]固态硬盘发展到现在已经有30多年，随着半导体技术越来越先进，NAND闪存芯片从2D走到3D，经历了SLC、MLC、TLC、QLC等迭代，层数越来越多，容量越做越大；同时稳定性和寿命相对也变差，而固态硬盘对NAND闪存芯片要求会高一些，在生产之前需要先对NAND闪存芯片做RDT测试（Reliability Demonstration Testing 可靠性开发测试），提前筛选出容易出现问题的弱块坏块并标记，避免后面把数据写到这样的弱块或坏块里边导致数据丢失。
[0003]目前，RDT测试的结果只用做筛选NAND闪存芯片的数据，并不会保存下来作为后续生产芯片质量的追溯。为了解决闪存芯片测试信息追溯问题，人们普遍采用和人工记录的方式进行测试结果的记录，但是由于每次测试的数量都很多，靠人工记录很容易出现错误，因此在后续进行信息查询时，存在信息无法查到的情况，从而降低了信息的查询效率。

技术实现思路

[0004]为了提高信息的查询效率，本申请提供一种NAND闪存芯片的信息记录方法、装置、电子设备及介质。
[0005]第一方面，本申请提供一种NAND闪存芯片的信息记录方法，采用如下的技术方案：一种NAND闪存芯片的信息记录方法，包括：当检测到测试指令后，获取测试数据信息以及UID信息，所述测试数据信息为NAND闪存测试板的NAND闪存芯片的RDT测试结果数据，所述UID信息为所述NAND闪存芯片的标识ID；对所述测试数据信息进行逻辑分析，生成所述NAND闪存测试板的测试结果信息；将所述测试结果信息与所述UID信息进行绑定，生成关联数据信息；对所述关联数据信息进行数据整理，生成并保存测试数据表。
[0006]通过采用上述技术方案，在对NAND闪存芯片进行信息记录时，将NAND闪存芯片放置在NAND闪存测试板内，然后对NAND闪存测试板进行RDT测试，然后获取测试后的测试数据信息以及NAND闪存芯片的UID信息，将获取到的测试数据信息进行逻辑分析，生成NAND闪存测试板的测试结果信息，然后将测试结果信息以及UID信息进行绑定，生成对应的关联数据信息，通过将关联数据信息进行数据整理，得到测试数据表，并将测试数据表进行保存，当工作人员查询测试数据信息时，将UID信息初入至查询栏中进行查询，可快捷得到与UID信息相对应的测试数据表，从而提高了信息的查询效率。
[0007]在另一种可能实现的方式中，所述对所述测试数据信息进行逻辑分析，生成所述NAND闪存测试板的测试结果信息，包括：
基于所述测试数据信息确定所述NAND闪存测试后产生的坏块数量信息；确定所述坏块数量信息是否超过预设阈值参数；若所述坏块数量信息超过预设阈值参数，则生成异常告警信息，将所述异常告警信息与所述测试数据信息进行绑定，生成第一测试结果信息；若所述坏块数量信息未超过预设阈值参数，则生成测试通过信息，并将所述测试通过信息与所述测试数据信息进行绑定，生成第二测试结果信息；将所述第一测试结果信息与所述第二测试结果信息进行信息整理，生成所述NAND闪存测试板的测试结果信息。
[0008]通过上述技术方案，在对测试数据信息进行逻辑分析时，根据测试数据信息确定出NAND闪存测试板中存放的NAND闪存芯片的坏块数量信息，然后判断坏块数量信息的坏块数量是否超过预设阈值参数，若超过，则生成异常告警信息，若不超过，则生成测试通过信息，然后将异常告警信息与测试数据信息进行绑定，生成第一测试结果信息，将测试通过信息与测试数据信息进行绑定，生成第二测试结果信息，然后对第一测试结果信息与第二测试结果信息进行信息整理，生成NAND闪存测试板的测试结果信息，从而在工作人员对测试数据表进行查询时，通过第一测试结果信息或第二测试结果信息判断处当前NAND闪存测试板是否通过RDT测试。
[0009]在另一种可能实现的方式中，所述将所述异常告警信息与所述测试数据信息进行绑定，生成第一测试结果信息，之后还包括：对所述第一测试结果信息进行分析，确定存在异常的错误节点信息；获取预设解决方案中的问题节点信息；将所述错误节点信息与所述问题节点信息进行比对，得到比对结果；判断所述对比结果是否满足预设条件，若满足，则确定解决方案信息。
[0010]通过上述技术方案，在对异常告警信息进行解决方案确定时，对生成的第一测试结果信息进行分析，得到的NAND闪存测试板在进行RDT测试过程中的错误节点信息，然后获取预设解决方案中的问题节点信息，将错误节点信息与问题节点信息进行比对，得到比对结果，并判断比对结果是否满足预设条件，即判断比对结果是否为完全匹配，若比对结果满足预设条件，则根据预设解决方案以及比对结果确定解决方案信息，从而便于工作人员对异常告警信息的处理。
[0011]在另一种可能实现的方式中，所述将所述错误节点信息与所述问题节点信息进行比对，包括：分别对所述错误节点信息与所述问题节点信息进行分割处理；根据分割后的所述错误节点信息与分割后的所述问题节点信息进行对应比对。
[0012]通过上述技术方案，基于获取到错误节点信息与问题节点信息，分别对错误节点信息与问题节点信息中的每个节点信息进行分割处理，并将分割后的错误节点信息与分割后的问题信息进行一一对应比对，得到错误节点信息中与问题节点信息中相对应的节点信息，从而提高了节点信息查找的准确率。
[0013]在另一种可能实现的方式中，所述根据分割后的所述错误节点信息与分割后的所述问题节点信息进行对应比对，之后还包括：分割后的所述错误节点信息包括至少一个分割结果；
若所述对比结果不满足预设条件，则将比对不匹配的分割结果进行标注，并确定标注处理的分割结果数量；控制显示所述分割结果数量。
[0014]通过上述技术方案，当比对结果不满足预设条件时，则表示分割后的错误节点信息与分割后的问题节点信息不完全对应匹配，将与问题节点信息不匹配的分割结果进行标注，并统计显示标注处理的分割结果数量，便于工作人员及时对不匹配的分割结果进行异常处理。
[0015]在另一种可能实现的方式中，所述对所述关联数据信息进行数据整理，生成并保存测试数据表，之后还包括：获取当前时间信息，并将所述测试数据表与所述当前时间信息绑定。
[0016]通过上述技术方案，将当前时间信息与测试数据表相绑定，有助于工作人员根据时间信息对多个测试数据表进行筛查。
[0017]在另一种可能实现的方式中，所述方法还包括：获取测试环境信息，所述测试环境信息为所述NAND闪存测试板在进行RDT测试过程中的环境信息；根据所述环境信息确定温湿度参数，并判断所述温湿度参数是否满足于预设标准参数，若不满足，则生成环境告警信息。
[0018]通过上述技术方案，在对NAND闪存测试板进行RDT测试时，获取测试环境信息，并根据环境信息确定温湿度参数，然后将温本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种NAND闪存芯片的信息记录方法，其特征在于，包括当检测到测试指令后，获取测试数据信息以及UID信息，所述测试数据信息为NAND闪存测试板的NAND闪存芯片的RDT测试结果数据，所述UID信息为所述NAND闪存芯片的标识ID；对所述测试数据信息进行逻辑分析，生成所述NAND闪存测试板的测试结果信息；将所述测试结果信息与所述UID信息进行绑定，生成关联数据信息；对所述关联数据信息进行数据整理，生成并保存测试数据表。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述测试数据信息进行逻辑分析，生成所述NAND闪存测试板的测试结果信息，包括：基于所述测试数据信息确定所述NAND闪存测试后产生的坏块数量信息；确定所述坏块数量信息是否超过预设阈值参数；若所述坏块数量信息超过预设阈值参数，则生成异常告警信息，将所述异常告警信息与所述测试数据信息进行绑定，生成第一测试结果信息；若所述坏块数量信息未超过预设阈值参数，则生成测试通过信息，并将所述测试通过信息与所述测试数据信息进行绑定，生成第二测试结果信息；将所述第一测试结果信息与所述第二测试结果信息进行信息整理，生成所述NAND闪存测试板的测试结果信息。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述异常告警信息与所述测试数据信息进行绑定，生成第一测试结果信息，之后还包括：对所述第一测试结果信息进行分析，确定存在异常的错误节点信息；获取预设解决方案中的问题节点信息；将所述错误节点信息与所述问题节点信息进行比对，得到比对结果；判断所述对比结果是否满足预设条件，若满足，则确定解决方案信息。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述错误节点信息与所述问题节点信息进行比对，包括：分别对所述错误节点信息与所述问题节点信息进行分割处理；根据分割后的所述错误节点信息与分割后的所述问题节点信息进行对应比对。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴礼优，沈金良，
申请(专利权)人：深圳市金胜电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：