一种基于图像熵和递归分析的超声图像缺陷检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于图像熵和递归分析的超声图像缺陷检测方法，属于超声波无损检测技术领域。该方法包括：1、对同一工件或同一批相同工件进行线性阵列相控阵超声扫描，连续采集到多幅B扫描图像；2、对采集到的B扫描图像进行灰度化和中值滤波预处理；3、计算预处理后B扫描图像的图像熵，得到B扫描图像熵序列；4、计算并选择图像熵序列的时间延迟和嵌入维数，将其作为递归分析所用的参数；5、根据选取的参数对图像熵序列进行递归分析，得到序列的递归图，根据递归图判断采集的图像中是否存在含有缺陷的B扫描图像。本发明专利技术可以有效识别多幅B扫描图像中的缺陷，不需要进行图像截取分割操作，存储数据量小，识别效率高，适用性强。适用性强。适用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种基于图像熵和递归分析的超声图像缺陷检测方法


[0001]本专利技术应用于超声波无损检测
，尤其涉及一种基于图像熵和递归分析技术的超声B扫描图像缺陷检测方法。

技术介绍

[0002]超声检测是一种常用的无损检测技术，通过超声的反射、透射等性质，利用回波的时间和幅值对缺陷进行检测和定位。因为操作安全、缺陷定位准确、灵敏度高、成本低、速度快，超声无损检测技术已经成为挤压产品缺陷检测的重要手段之一。相控阵超声探头由多个独立的晶片组成阵列，通过控制晶片的激发顺序来调节声束的方向和焦点的位置，可以获得工件的B扫描图像。相比于单晶片探头，相控阵探头扫查效率高、缺陷显示直观，因此在工业中得到了广泛应用。工业检测中常用工人手持相控阵探头的方式对工件进行检测，而人工检测具有检测效率低、大批量检测时容易疲劳而发生漏检、对缺陷的判断依靠检测人员经验等缺点，因此不少工厂开始采用相控阵自动检测技术，依靠工控机对B扫描图像进行处理和分析，来识别是否存在缺陷。
[0003]但是进行缺陷识别时，可能因为单幅图片中出现噪声而误检，应综合多幅图片进行缺陷识别，这就本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于图像熵和递归分析的超声图像缺陷检测方法，其特征在于，该方法包括：步骤1、对同一工件或同一批相同规格的工件进行线性阵列相控阵超声扫描，连续采集到多幅B扫描图像；步骤2、对采集到的B扫描图像进行灰度化和中值滤波预处理操作；步骤3、计算预处理后每一幅B扫描图像的图像熵，得到B扫描图像熵序列；步骤4、计算并选择图像熵序列的时间延迟和嵌入维数，将其作为递归分析所用的参数；步骤5、根据选取的参数对图像熵序列进行递归分析，得到图像熵序列的递归图，根...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨辰龙，刘波，任凯，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：