一种显示屏老化测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及微型显示技术领域，其具体公开一种显示屏老化测试设备，包括框体、测试部和控制区；所述测试部配置有至少两个测试单元；所述控制区具有主控单元和用户接口，所述主控单元具有恒流模块和恒压模块；其中，所述至少两个测试单元分别与所述主控单元电连接，并且所述主控单元适于在操作期间，使得所述恒压模块、恒流模块择一地与相应测试单元导通。恒流模块择一地与相应测试单元导通。恒流模块择一地与相应测试单元导通。

A display aging test equipment

【技术实现步骤摘要】
一种显示屏老化测试设备


[0001]本技术涉及微型显示
，尤其涉及一种显示屏老化测试设备。

技术介绍

[0002]硅基微显示面板是在晶元基板上形成有机发光显示面板的数据驱动电路、扫描驱动电路、像素驱动电路等，然后在形成有电路的晶元基板上形成有机发光显示器件，相比于形成在玻璃基板上有机发光显示面板，其集成度更高，并且可以提供更高的分辨率和更小的像素尺寸，非常适合微型显示领域，比如各种头戴显示装置。在显示面板出厂前，通常需要采用老化测试装置对其进行检测，以便于发现显示面板的缺点，从而提升出货品质，常见的测试方法有恒压测试，恒流测试和BIST测试。现有技术中的测试装置无法同时满足恒压测试或恒流测试等多种测试要求，并且只能对显示面板进行一对一测试，操作不便，不能进行批量老化。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的技术问题在于克服现有技术的不足，而提供一种显示屏老化测试设备。
[0004]为了达到上述目的，本技术采用的技术方案如下：一种显示屏老化测试设备，包括框体、测试部和控制区；所述测试部配置有至少两个测试单元；所述控制区具有主控单元和用户接口，所述主控单元具有恒流模块和恒压模块；其中，所述至少两个测试单元分别与所述主控单元电连接，并且所述主控单元适于在操作期间，使得所述恒压模块、恒流模块择一地与相应测试单元导通。
[0005]优选地，所述用户接口具有恒流测试操作装置、恒压测试操作装置和BIST测试操作装置中的至少两个。
[0006]优选地，所述测试部具有延伸至至少两个测试单元下方的扩展电路板以用于扩展测试单元的数量。
[0007]优选地，所述测试单元具有用于定位待测产品的转接板。
[0008]优选地，相邻测试单元的所述转接板之间配置有转接定位块。
[0009]优选地，所述恒流模块配置在测试单元的下方。
[0010]优选地，所述测试单元为10个，且全部测试单元依照2X5二维阵列方式排布。
[0011]优选地，所述框体底部具有支撑装置。
[0012]优选地，所述主控单元还包括监测模块以防止产生过压或过流。
[0013]优选地，所述主控单元具有可擦除记忆单元以用于更换测试程序。
[0014]由于采用了以上技术方案，本技术具有以下有益效果：
[0015]1.本技术设置有主控单元，主控单元具有恒流模块和恒压模块，能分别对显示屏进行恒流测试和恒压测试，本技术还具有BIST测试操作装置来进行BIST测试，可同时满足多种测试要求。
[0016]2.本技术设置有多个转接板，能够同时测试多个显示屏，提高了测试效率，降低了老化设备数量以及维护成本。
[0017]3.本技术使用主控单元和用户接口进行设置，有良好的人机界面，提高了用户的使用体验。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本技术的一些实施例，而非对本技术的限制。
[0019]图1为本技术实施例一的结构示意图；
[0020]图2为本技术实施例一的部分结构示意图；
[0021]图3为本技术实施例一另一角度的结构示意图。
[0022]附图标记：
[0023]1.框体；11.支撑装置；2.测试部；21.扩展电路板；22.转接板；23.转接定位块；3.控制区；31.主控单元；311.恒流模块；32.用户接口。
具体实施方式
[0024]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术做进一步详细说明。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以各种不同的配置来布置和设计。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0025]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0026]除非另作定义，本专利文件中所使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本技术专利说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同，并不排除其他元件或者物件。“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变，其仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0027]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0028]下面结合附图，对本技术的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下
述的实施例中的特征可以相互组合。
[0029]实施例一：
[0030]请参阅图1和图2，本技术提供一种显示屏老化测试设备，包括框体1、测试部2和控制区3；测试部2配置有至少两个测试单元；控制区3具有主控单元31和用户接口32，主控单元31具有恒流模块311和恒压模块；其中，至少两个测试单元分别与主控单元31电连接，并且主控单元31适于在操作期间，使得恒压模块、恒流模块311择一地与相应测试单元导通。
[0031]在本实施例中，框体1为矩形结构，10个测试单元固定设置在框体1上，用以对显示屏进行测试，且全部测试单元依照2X5二维阵列方式排布。在另一实施例中，测试单元的数量可以为6个、8个等。主控单元31具有恒流模块311和恒压模块，能够分别对显示屏进行恒流测试和恒压测试，所以本技术可同时满足多种老化条件要求。在进行恒流测试时，恒流模块311与显示屏导通并输出恒定电流以点亮显示屏；使显示屏亮起来需要多路电压，在进行恒压测试时，恒压模块向显示屏提供点亮所需的全部恒定电压。
[0032]用户接口32具有恒流测试操作装置、恒压测试操作装置和BIST测试操作装置中的至少两个。BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，进行该测试时，BIST能够为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示屏老化测试设备，包括框体、测试部和控制区；其特征在于，所述测试部配置有至少两个测试单元；所述控制区具有主控单元和用户接口，所述主控单元具有恒流模块和恒压模块；其中，所述至少两个测试单元分别与所述主控单元电连接，并且所述主控单元适于在操作期间，使得所述恒压模块、恒流模块择一地与相应测试单元导通。2.根据权利要求1所述的显示屏老化测试设备，其特征在于，所述用户接口具有恒流测试操作装置、恒压测试操作装置和BIST测试操作装置中的至少两个。3.根据权利要求1所述的显示屏老化测试设备，其特征在于，所述测试部具有延伸至至少两个测试单元下方的扩展电路板以用于扩展测试单元的数量。4.根据权利要求1所述的显示屏老化测试设备，其特征在于，所述测试单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴宗元，胡润平，韩冬年，
申请(专利权)人：深圳宏恩电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：