评价非晶合金薄带的脆化的方法和非晶合金薄带脆化评价用试验装置制造方法及图纸

技术编号:34286342 阅读:20 留言:0更新日期:2022-07-27 08:27
提供一种评价非晶合金薄带的脆化的方法和非晶合金薄带脆化评价用试验装置。一种评价非晶合金薄带的脆化的方法,在非晶合金薄带的多个位置从一面侧按压加压构件,使通过按压上述加压构件而形成了的压痕的加压部散布在上述非晶合金薄带中,利用发生破裂的加压部的数量或分布对脆化进行评价。量或分布对脆化进行评价。量或分布对脆化进行评价。

【技术实现步骤摘要】
评价非晶合金薄带的脆化的方法和非晶合金薄带脆化评价用试验装置


[0001]本专利技术涉及评价非晶合金薄带的脆化的方法和非晶合金薄带脆化评价用试验装置。

技术介绍

[0002]用单辊超快冷凝固法等在约106℃/秒的冷却条件下对调整为适当组成的熔融金属进行连续铸造而得到的薄带状非晶合金为长条状,磁特性优异,被用作变压器、电抗器、滤波器、马达等中使用的磁芯的磁性材料。
[0003]理想情况下,非晶合金的原子结构整体为非晶态,但在非晶合金薄带中存在下述情况:由于冷却辊的表面损伤、异物附着等导致的冷却辊表面的凹凸、冷却辊的温度分布不均匀等制造工序中的各种因素,产生了无法以适当速度冷却的部分,形成部分结晶化的结构。此外,由于合金所含杂质的影响等,有时在非晶合金薄带中也会产生部分合金组成的波动。这样的非晶合金薄带容易脆化,存在即使得到了规定的磁特性,脆化部分也会强度变弱的问题。
[0004]已知非晶合金薄带的脆化评价中使用的是撕裂试验。具体地,JISC2534(2017)、IEC60404
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11中有作为撕裂脆性(strip tear ductility)规定的评价方法。这些试验中,由长条状非晶合金薄带得到一定长度(铸造辊周长2倍的长度)的试验片(样品),将试验片在非晶合金薄带的铸造方向上撕裂,利用产生的脆性点(brittle spots)的数量来区分、评价。脆性点定义为将试验片撕裂时产生裂纹的路径、方向的变化、碎片分离等约6mm以上尺寸的损伤的区域。撕裂脆性的特性按脆性点的数量分为5级。规定在宽度方向上距离边缘12.7mm和25.4mm以及宽度方向中央的5处位置,在与铸造方向平行的方向上撕裂,1枚试验片中脆性点的个数不超过10。
[0005]非晶合金薄带在通过铸造进行了初级加工的状态下向市场提供,或者在实施了将该薄带宽度方向的缘部切下或以在输送等中容易操作的方式切割加工成规定的宽度尺寸、长度的附加加工的状态下向市场提供。一般将对其进一步实施切割、冲切等二次加工而得到的材料用于磁芯。以下,为了便于说明,将进行二次加工前的非晶合金薄带称为原版以进行区别。
[0006]已知在脆的原版中,存在由于切割加工而在作为非晶合金薄带边缘的部分产生裂痕或薄带断裂等裁剪性问题。因此,有时像专利文献1那样,使用通过撕裂试验进行的脆化评价作为非晶合金薄带(原版)裁剪性的指标。
[0007]现有技术文献
[0008]专利文献
[0009]专利文献1:国际公开第2019/009309

技术实现思路

[0010]专利技术所要解决的课题
[0011]通过撕裂试验对非晶合金薄带的脆化程度的评价对于将选择的原版用于二次加工、在与切割同一方向上分割加工时减少断裂等的发生是有用的。但上述撕裂试验中,由于撕裂位置的规定,对于用于试验的样品的宽度尺寸的下限存在限制,同时,越是宽度大的样品,错过脆化位置的可能性越高。
[0012]此外,在以窄间距对原版连续进行冲切或者冲切成复杂的形状、大宽度的情况下、将原版在与铸造方向不同的方向上窄间距切割的情况下等,需要更详细地对脆化的状态进行评价。但上述撕裂试验是简单的评价方法,因此难以详细地对脆性程度、脆化位置及其分布等进行调查。对于这样的需求,迄今为止还没有提出过与撕裂试验不同的新的评价方法,也没有提供评价中使用的试验装置。
[0013]因此,本公开的目的在于,提供评价非晶合金薄带的脆化的新方法,并提供评价非晶合金薄带的脆化的新方法中使用的试验装置。
[0014]用于解决课题的方法
[0015]本公开具有以下构成。
[0016]<1>一种评价非晶合金薄带的脆化的方法,在非晶合金薄带的多个位置从一面侧按压加压构件,使通过按压上述加压构件而形成了压痕的加压部散布在上述非晶合金薄带中,利用发生破裂的加压部的数量或分布对脆化进行评价。
[0017]<2>根据<1>所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法,在上述非晶合金薄带被加压构件按压的面的反面侧配置弹性构件来对上述加压构件进行按压。
[0018]<3>根据<1>或<2>所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法,对上述非晶合金薄带进行磁吸附而固定来对上述加压构件进行按压。
[0019]<4>根据<1>至<3>中任一项所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法,根据上述加压部表面形状起伏的不连续性来辨别破裂。
[0020]<5>根据<1>至<3>中任一项所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法,根据上述加压部的光的透射状态来辨别破裂。
[0021]<6>根据<1>至<3>中任一项所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法,根据上述加压构件的压力的减少变化来辨别破裂。
[0022]<7>一种非晶合金薄带脆化评价用试验装置,具有具备配置非晶合金薄带的平面的测定台以及通过在上述非晶合金薄带的多个位置从一面侧按压加压构件而使通过按压上述加压构件而形成了压痕的加压部散布在上述非晶合金薄带中的加压机构。
[0023]<8>根据<7>所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置,上述加压机构可在多个上述加压部中的至少一个中形成破裂。
[0024]<9>根据<7>或<8>所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置,上述加压机构相对于上述测定台的平面位于上方,可相对于上述测定台的平面在大体垂直的方向上移动。
[0025]<10>根据<7>至<9>中任一项所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置,上述加压构件为棒状构件,使上述加压构件相对于上述测定台的平面在大体垂直的方向上移动,用其前端侧对上述非晶合金薄带进行加压。
[0026]<11>根据<10>所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置,上述加压构件的前端侧
为曲面状或锥状。
[0027]<12>根据<7>至<11>中任一项所述的非晶合金薄带脆化评价用试验装置,具有将上述非晶合金薄带固定于上述测定台的磁吸附机构。
[0028]<13>根据<7>至&lt本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种评价非晶合金薄带的脆化的方法,其中,在非晶合金薄带的多个位置从一面侧按压加压构件,使通过按压所述加压构件而形成了压痕的加压部散布在所述非晶合金薄带中,利用发生破裂的加压部的数量或分布对脆化进行评价。2.根据权利要求1所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法,其中,在所述非晶合金薄带被加压构件按压的面的反面侧配置弹性构件来对所述加压构件进行按压。3.根据权利要求1或2所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法,其中,对所述非晶合金薄带进行磁吸附而固定来对所述加压构件进行按压。4.根据权利要求1至3中任一项所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法,其中,根据所述加压部表面形状起伏的不连续性来辨别破裂。5.根据权利要求1至3中任一项所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法,其中,根据所述加压部的光的透射状态来辨别破裂。6.根据权利要求1至3中任一项所述的评价非晶合金薄带的脆化的方法,其中,根据所述加压构件的压力的减少变化来辨别破裂。7.一种非晶合金薄带脆化评价用试验装置,具备:具备配置非晶合金薄带的平面的测定台,以及在所述非晶合金薄带的多个位置从一面侧按压加压构件,使通过按压所述加压构件而形成了压痕的加压部散布...

【专利技术属性】
技术研发人员:森次仲男高岛洋
申请(专利权)人:日立金属株式会社
类型:发明
国别省市:

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