【技术实现步骤摘要】
一种半导体制冷片检测装置
[0001]本技术涉及半导体制冷片检测
,特别涉及一种半导体制冷片检测装置。
技术介绍
[0002]半导体制冷片是利用半导体材料的Peltier效应实现制冷的效果,因其具有无运动部件、可靠性较高、无制冷剂污染别广泛使用,此装置的设立对半导体制冷片进行检测,以判断半导体制冷片通入电流后是否运转散热,对半导体制冷片的运转进行检测;
[0003]中国专利授权公告号CN208672171U,公告日2019年03月29日,公开了一种半导体装置温差检测装置,涉及检测装置
其中,这种半导体制冷片检测装置,使用时,只需将待测致冷片插入两限位隔板中,然后通过导电片与反馈导线将待测致冷片接入温差测试仪中,电源处理器提供电能使待检测半导体制冷片工作,反馈导线将待测致冷片的测试过程中的数据传递至温差测试仪,通过温差测试仪检测到待检测半导体制冷片的温差。在这个过程中,由于只需将待测致冷片插入两限位隔板中的导电片即可,待测致冷片无需再另外焊接导线,提高了检测效率;
[0004]上述中现有的技术方案 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷片检测装置,包括支撑柱(1)、工作台(2)和背板(4),其特征在于:所述支撑柱(1)的顶端固定有工作台(2),所述工作台(2)顶端的一侧固定有背板(4);所述背板(4)的一侧设置有调节结构(8),且调节结构(8)的一侧设置有显示屏(5);所述工作台(2)的顶端均设置有固定结构(7),且固定结构(7)的顶端设置有检测总成(3),所述检测总成(3)的外侧设置有防护结构(6)。2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置,其特征在于:所述防护结构(6)包括缓冲垫(601)、罩壳(602)、安装座(603),所述安装座(603)固定在工作台(2)的顶端,所述安装座(603)的一侧安装有罩壳(602),所述罩壳(602)的一侧固定有缓冲垫(601)。3.根据权利要求2所述的一种半导体制冷片检测装置,其特征在于:所述安装座(603)与罩壳(602)之间构成转动结构,所述安装座(603)在罩壳(602)的水平中心线上呈对称分布。4.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置,其特征在于:所述固定结构(7)包括安装块(701)、伸缩弹簧(702)、连接杆(703)、胶垫(704)和推板(705),所述安装块(701)固定在工作台(2)的顶端,所述安装...
【专利技术属性】
技术研发人员:张金良,
申请(专利权)人:江苏星河电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。