一种半导体制冷片检测装置制造方法及图纸

技术编号:34278311 阅读:41 留言:0更新日期:2022-07-24 17:41
本实用新型专利技术公开了一种半导体制冷片检测装置,包括支撑柱、工作台和背板,支撑柱的顶端固定有工作台,工作台顶端的一侧固定有背板,背板的一侧设置有调节结构,且调节结构的一侧设置有显示屏,工作台的顶端均设置有固定结构,且固定结构的顶端设置有检测总成,检测总成的外侧设置有防护结构。本实用新型专利技术通过按压连接柱进入卡槽的内部,拉动卡槽调节显示屏的位置,通过连接柱卡入外壳的孔洞将卡槽固定在外壳的内部,通过第二铰接座与第一铰接座调节显示屏的角度,使工作人员便于观看,由此实现了此装置的位置调节功能,便于多个方位的调节显示屏的位置,使工作人员便于查看显示屏,提高了此装置的功能性。高了此装置的功能性。高了此装置的功能性。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体制冷片检测装置


[0001]本技术涉及半导体制冷片检测
,特别涉及一种半导体制冷片检测装置。

技术介绍

[0002]半导体制冷片是利用半导体材料的Peltier效应实现制冷的效果,因其具有无运动部件、可靠性较高、无制冷剂污染别广泛使用,此装置的设立对半导体制冷片进行检测,以判断半导体制冷片通入电流后是否运转散热,对半导体制冷片的运转进行检测;
[0003]中国专利授权公告号CN208672171U,公告日2019年03月29日,公开了一种半导体装置温差检测装置,涉及检测装置
其中,这种半导体制冷片检测装置,使用时,只需将待测致冷片插入两限位隔板中,然后通过导电片与反馈导线将待测致冷片接入温差测试仪中,电源处理器提供电能使待检测半导体制冷片工作,反馈导线将待测致冷片的测试过程中的数据传递至温差测试仪,通过温差测试仪检测到待检测半导体制冷片的温差。在这个过程中,由于只需将待测致冷片插入两限位隔板中的导电片即可,待测致冷片无需再另外焊接导线,提高了检测效率;
[0004]上述中现有的技术方案存在以下缺陷;上述技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷片检测装置,包括支撑柱(1)、工作台(2)和背板(4),其特征在于:所述支撑柱(1)的顶端固定有工作台(2),所述工作台(2)顶端的一侧固定有背板(4);所述背板(4)的一侧设置有调节结构(8),且调节结构(8)的一侧设置有显示屏(5);所述工作台(2)的顶端均设置有固定结构(7),且固定结构(7)的顶端设置有检测总成(3),所述检测总成(3)的外侧设置有防护结构(6)。2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置,其特征在于:所述防护结构(6)包括缓冲垫(601)、罩壳(602)、安装座(603),所述安装座(603)固定在工作台(2)的顶端,所述安装座(603)的一侧安装有罩壳(602),所述罩壳(602)的一侧固定有缓冲垫(601)。3.根据权利要求2所述的一种半导体制冷片检测装置,其特征在于:所述安装座(603)与罩壳(602)之间构成转动结构,所述安装座(603)在罩壳(602)的水平中心线上呈对称分布。4.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置,其特征在于:所述固定结构(7)包括安装块(701)、伸缩弹簧(702)、连接杆(703)、胶垫(704)和推板(705),所述安装块(701)固定在工作台(2)的顶端,所述安装...

【专利技术属性】
技术研发人员:张金良
申请(专利权)人:江苏星河电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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