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本实用新型公开了一种半导体制冷片检测装置，包括支撑柱、工作台和背板，支撑柱的顶端固定有工作台，工作台顶端的一侧固定有背板，背板的一侧设置有调节结构，且调节结构的一侧设置有显示屏，工作台的顶端均设置有固定结构，且固定结构的顶端设置有检测总成，...
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