一种显示面板及光传感器的检测方法技术

本发明专利技术的实施例公开了一种显示面板及光传感器的检测方法，所述显示面板包括第一基板；第二基板，与所述第一基板相对设置的第二基板；光传感器，设于所述第一基板与所述第二基板之间；层叠设置的扫描线、数据线、控制信号线、像素电极线和公共电极线，所述数据线上设有过孔；所述光传感器包括第一晶体管、第二晶体管与电容。所述光传感器的检测方法包括以下步骤：将所述第二晶体管的源极和漏极连接至所述公共电极线，对所述公共电极线施加预设电压；判断所述光传感器的功能是否正常。本发明专利技术可以实现用现有的arraytest机台实现光传感器的功能检测，有效提高显示集成光传感器面板的良率。良率。良率。

A detection method of display panel and optical sensor

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板及光传感器的检测方法


[0001]本专利技术涉及显示面板领域，特别涉及一种显示面板及光传感器的检测方法。

技术介绍

[0002]全面屏技术的一个研究方向是如何将显示终端的指纹识别、摄像头、面部识别、距离传感器、光传感器融合进显示面板的显示区，使得显示面板从单纯的显示界面逐渐过渡到全面的感知、交互界面。
[0003]光传感器是用来感知光线而实现用户交互的。现有技术中可以感知激光笔光线，实现激光笔远程交互，或激光笔手写，也可以识别手写接触时光线减弱，实现触控。
[0004]请参阅图1，图1提供现有技术中显示面板的结构示意图，显示面板100包括第一基板10、第一基板20相对设置的第二基板20、设于第一基板10与第二基板20之间光传感器以及层叠设置的扫描线3、数据线4、控制信号线8、像素电极线5和公共电极线6，光传感器包括光学晶体管1、开关晶体管2与电容。目前的光传感器在array段不能进行检测，直至模组完成才能检测，会浪费相应的CF、cell、模组产能，不能有效控制良率。
[0005]有鉴于此，实有必要开发一种新型的显示面板及光传感器的检测方法，用以解决现有技术中光传感器在array段不能进行检测进而导致的产能浪费的技术问题。

技术实现思路

[0006]本专利技术的实施例提供一种显示面板及光传感器的检测方法，用以解决现有技术中光传感器在array段不能进行检测进而导致的产能浪费的技术问题。
[0007]为了解决上述技术问题，本专利技术的实施例公开了如下技术方案：<br/>[0008]一方面，提供了一种显示面板，包括第一基板；第二基板，与所述第一基板相对设置的第二基板；光传感器，设于所述第一基板与所述第二基板之间；层叠设置的扫描线、数据线、控制信号线、像素电极线和公共电极线，所述数据线上设有过孔；所述光传感器包括第一晶体管、第二晶体管与电容。
[0009]所述第一基板为彩膜基板，所述第二基板为阵列基板，所述光传感器是设置在所述阵列基板面向所述彩膜基板的一侧，即集成在所述显示面板内部。
[0010]另一方面，还提供了一种本申请涉及的所述显示面板中的光传感器的检测方法，用于检测所述所述光传感器的功能是否正常，包括以下步骤：将所述第二晶体管的源极和漏极连接至所述公共电极线；对所述公共电极线施加预设电压；判断所述光传感器的功能是否正常。
[0011]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，当施加预设电压后，所述光传感器被点亮，则所述光传感器的功能为正常；当所述光传感器没被点亮，则所述光传感器的功能为不正常。
[0012]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，当所述公共电极线的电位与所述像素电极线的电位相同时，所述光传感器被点亮。
[0013]通过对源极和漏极加电，通过开关晶体管的打开，能够使得公共电极线达到与像素电极线相同的电位，电位与像素电极线相同，则说明走线无断线，导通功能正常，开关晶体管可以正常打开，因此光传感器的功能正常。
[0014]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，所述将所述第二晶体管的源极和漏极连接至所述公共电极线的步骤包括：通过所述数据线上的所述过孔，将开关晶体管的源极和漏极连接至所述公共电极线。
[0015]通过在数据线上设置过孔，将开关晶体管的源极和漏极连接至公共电极线，并对公共电极线施加预设电压，以此能够判断光传感器的功能是否正常，可以实现用现有的array test机台实现光传感器的功能检测，有效提高显示集成光传感器面板的良率。
[0016]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，所述第一晶体管为感光晶体管，所述第二晶体管为开关晶体管。
[0017]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，所述感光晶体管位于所述显示面板的显示区，所述开关晶体管位于所述显示面板的非显示区。
[0018]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，所述控制信号线连接所述开关晶体管，用于控制所述开关晶体管的接通和断开。
[0019]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，所述预设电压大于1v。
[0020]当施加的电压大于1v时，如果光传感器的功能是正常的，那么光传感器将会被点亮。一般，在电压的阈值范围内，施加的电压越大，光传感器的亮度就越亮。
[0021]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，所述光传感器位于所述扫描线与所述数据线垂直相交所构成的区域中。
[0022]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，所述显示面板包括阵列排布的像素单元，每个所述像素单元上均设置有一个所述光传感器，所述像素单元在所述第一基板上的正投影与所述光传感器在所述第一基板上的正投影无重叠。
[0023]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，所述光传感器与所述像素单元共用所述扫描线、所述数据线、所述像素电极线和所述公共电极线。
[0024]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，所述光传感器通过半导体工艺集成在所述第一基板和所述第二基板之间。
[0025]除了上述公开的一个或多个特征之外，或者作为替代，所述光传感器被配置为执行光学信号采集操作。
[0026]另一方面，还提供了一种显示装置，包括上述的显示面板。所述显示装置可以为：手机、平板电脑、笔记本电脑、数码相机、导航仪等具有显示功能的产品或部件。
[0027]上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：通过在数据线上设置过孔，将开关晶体管的源极和漏极连接至公共电极线，并对公共电极线施加预设电压，以此能够判断光传感器的功能是否正常，可以实现用现有的array test机台实现光传感器的功能检测，有效提高显示集成光传感器面板的良率。
附图说明
[0028]下面结合附图，通过对本专利技术的具体实施方式详细描述，将使本专利技术的技术方案及其它有益效果显而易见。
[0029]图1为现有技术提供的显示面板的结构示意图
[0030]图2为本专利技术实施例提供的显示面板的结构示意图；
[0031]图3为本专利技术实施例提供的光传感器的检测方法的流程图。
[0032]附图标记：
[0033]显示面板
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100；
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第一基板
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10；
[0034]第二基板
‑
20；
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第一晶体管
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1；
[0035]第二晶体管
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2；
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扫描线
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3；
[0036]数据线
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4；
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像素电极线
‑
5；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，其特征在于，包括第一基板；第二基板，与所述第一基板相对设置的第二基板；光传感器，设于所述第一基板与所述第二基板之间；层叠设置的扫描线、数据线、控制信号线、像素电极线和公共电极线，所述数据线上设有过孔；所述光传感器包括第一晶体管、第二晶体管与电容。2.如权利要求1所述的显示面板中的光传感器的检测方法，用于检测所述所述光传感器的功能是否正常，其特征在于，包括以下步骤：将所述第二晶体管的源极和漏极连接至所述公共电极线；对所述公共电极线施加预设电压；判断所述光传感器的功能是否正常。3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，当施加预设电压后，所述光传感器被点亮，则所述光传感器的功能为正常；当所述光传感器没被点亮，则所述光传感器的功能为不正常。4.如权利要求3所述的检测方法，其特征在于，当所述公共电极线的电位与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛茹，
申请(专利权)人：TCL华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：