一种光学元器件厚度的测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种光学元器件厚度的测量装置，涉及光学元器件厚度测量技术领域。该光学元器件厚度的测量装置，包括测量箱、测量机构和夹紧机构，测量箱的两侧内壁上固定连接有有隔板，隔板的顶部固定连接有放置板，测量机构位于测量箱的内部，测量机构包括转动杆和齿轮，测量箱的两侧内壁转动安装有转动杆，转动杆的外壁上固定套设有齿轮，夹紧机构包括电动推杆、连杆和铰接壁，测量箱的内侧底部固定连接有电动推杆，电动推杆的自由端固定连接有矩形块，矩形块的两侧均各固定连接有连杆，连杆的一端铰接安装有铰接壁。本实用能够对光学元器件进行更好的夹紧，还能够对光学元器件进行精准的测量。进行精准的测量。进行精准的测量。

A thickness measuring device for optical components

【技术实现步骤摘要】
一种光学元器件厚度的测量装置


[0001]本技术涉及光学元器件厚度测量
，特别涉及一种光学元器件厚度的测量装置。

技术介绍

[0002]对于光学元器件的测量方式分为多种，物理测量就是其中一种方法，现有部分的光学元器件厚度的测量装置不能够对光学元器件进行更好的夹紧，容易对测量结果造成影响，部分的光学元器件厚度的测量装置不能够对光学元器件进行精准的测量，容易出现偏差，因此，针对以上问题，现提出一种光学元器件厚度的测量装置。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种光学元器件厚度的测量装置，能够解决不能够对光学元器件进行更好的夹紧和不能够对光学元器件进行精准的测量的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种光学元器件厚度的测量装置，包括测量箱、测量机构和夹紧机构，所述测量箱的两侧内壁上固定连接有有隔板，隔板的顶部固定连接有放置板，工作人员打开门，将光学元器件放置在放置板上；
[0005]所述测量机构位于测量箱的内部，测量机构包括转动杆和齿轮，测量箱本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学元器件厚度的测量装置，包括测量箱(1)、测量机构和夹紧机构，其特征在于：所述测量箱(1)的两侧内壁上固定连接有有隔板(2)，隔板(2)的顶部固定连接有放置板(3)；所述测量机构位于测量箱(1)的内部，测量机构包括转动杆(8)和齿轮(9)，测量箱(1)的两侧内壁转动安装有转动杆(8)，转动杆(8)的外壁上固定套设有齿轮(9)；所述夹紧机构位于测量机构的下方，夹紧机构包括电动推杆(4)、连杆(5)和铰接壁(6)，测量箱(1)的内侧底部固定连接有电动推杆(4)，电动推杆(4)的自由端固定连接有矩形块，矩形块的两侧均各固定连接有连杆(5)，连杆(5)的一端铰接安装有铰接壁(6)。2.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于：所述夹紧机构还包括圆垫(7)，铰接壁(6)的一端固定连接有圆垫(7)，隔板(2)上开设有可供铰接壁(6)穿过的开口。3.根据权利要求2所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于：所述测量机构还包括齿板(10)和刻度尺(15)，齿轮...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈涛，
申请(专利权)人：重庆宇豪光学有限公司，
类型：新型
国别省市：