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本实用新型公开了一种光学元器件厚度的测量装置，涉及光学元器件厚度测量技术领域。该光学元器件厚度的测量装置，包括测量箱、测量机构和夹紧机构，测量箱的两侧内壁上固定连接有有隔板，隔板的顶部固定连接有放置板，测量机构位于测量箱的内部，测量机构包括...
该专利属于重庆宇豪光学有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过重庆宇豪光学有限公司授权不得商用。

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