锥孔锥度检测器制造技术

技术编号:34185360 阅读:11 留言:0更新日期:2022-07-17 14:05
本发明专利技术涉及锥孔检测技术领域,提供了一种锥孔锥度检测器,包括千分表、第一球测头和第二球测头;第一球测头上具有沿其径向设置的第一通孔;千分表的套筒从第一通孔中穿过、并与第一球测头固定连接;第二球测头的直径小于第一球测头的直径;第二球测头上设置有沿其径向延伸的第二内螺纹孔;千分表的测杆的端部具有同轴设置的外螺纹轴;外螺纹轴螺纹连接在第二内螺纹孔中。本发明专利技术提供的锥孔锥度检测器,只需同时将第一球测头和第二球测头与锥孔的内表面紧密接触,通过千分表上的读数就可准确判定该锥孔的锥度是否合格,不仅保证了检测结果的准确性和批量检测时的一致性,而且检测一个锥孔的时间最少仅需几秒,大大提高了检测效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
锥孔锥度检测器


[0001]本专利技术涉及锥孔检测
,尤其是一种锥孔锥度检测器。

技术介绍

[0002]摩托车磁电机转子锥孔的锥度一般设计为1:5或1:7,具有较高的加工要求。针对磁电机转子锥孔锥度的检测,现有两种检测方法:
[0003]1、采用目视标准锥体涂抹红丹后进行锥孔着红面积大小来判定是否合格,但是这种方法只能粗略简单地判定锥度是否合格,人为主观判定意识较强,不客观。
[0004]2、采用三坐标测量仪进行测量,虽然这种方法可准确得到锥孔的锥度值,但是测量仪器的成本较高,且检测一个锥孔需要20分钟左右,检测效率低,不适合批量生产的过程控制需求。

技术实现思路

[0005]本专利技术所要解决的技术问题是:提供一种锥孔锥度检测器,提高锥孔锥度的检测效率。
[0006]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:锥孔锥度检测器,包括千分表、第一球测头和第二球测头;所述第一球测头上具有沿其径向设置的第一通孔;所述千分表的套筒从第一通孔中穿过、并与第一球测头固定连接;所述第二球测头的直径小于第一球测头的直径;所述第二球测头上设置有沿其径向延伸的第二内螺纹孔;所述千分表的测杆的端部具有同轴设置的外螺纹轴;所述外螺纹轴螺纹连接在第二内螺纹孔中。
[0007]进一步的,所述第二球测头为球缺形结构,且其底面的直径小于第二球测头的直径;所述第二内螺纹孔设置在第二球测头的底面上、且其中心线垂直于第二球测头的底面。
[0008]进一步的,所述千分表的测杆的直径大于所述外螺纹轴的直径,且测杆的端面与第二球测头的底面抵接。
[0009]进一步的,所述千分表的测杆与外螺纹轴为一体成型结构。
[0010]进一步的,所述千分表的套筒通过第一可拆卸结构与第一球测头固定连接;所述第一可拆卸结构包括第一套管和第一螺钉;所述第一套管套设在千分表的套筒上、且与套筒滑动配合;所述第一套管的一端与第一球测头固定连接;所述第一套管的壁上设置有第一内螺纹孔;所述第一螺钉与第一内螺纹孔螺纹连接、且第一螺钉的端部与套筒抵接。
[0011]进一步的,所述套筒的外表面上设置有用于与第一螺钉相适配的定位凹槽;所述第一螺钉的端部伸至定位凹槽内。
[0012]进一步的,所述第一套管与第一球测头为一体成型结构。
[0013]进一步的,所述第一球测头为球台形结构,且其两个底面的直径均小于第一球测头的直径;所述第一通孔的中心线垂直于第一球测头的底面。
[0014]进一步的,所述千分表为数显千分表。
[0015]本专利技术的有益效果是:本专利技术实施例提供的锥孔锥度检测器,结构简单,制作成本
低,用于替代昂贵的三坐标测量仪等检测仪器对锥孔的锥度进行检测;检测时,只需同时将第一球测头和第二球测头与锥孔的内表面紧密接触,通过千分表上的读数就可准确判定该锥孔的锥度是否合格,不仅保证了检测结果的准确性和批量检测时的一致性,而且检测一个锥孔的时间最少仅需几秒,大大提高了检测效率,适合批量生产的过程控制需求。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍;显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来说,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是本专利技术实施例提供的锥孔锥度检测器的结构示意图;
[0018]图2是千分表的结构示意图;
[0019]图3是图2中A部放大图;
[0020]图4是第一球测头的结构示意图;
[0021]图5是第二球测头的结构示意图;
[0022]图6是采用标准锥孔规对本专利技术实施例提供的锥孔锥度检测器校准时的状态图。
[0023]图中附图标记为:101

千分表,102

第一球测头,103

第二球测头,104

第一通孔,105

套筒,106

第二内螺纹孔,107

测杆,108

外螺纹轴,109

第一套管,110

第一螺钉,111

第一内螺纹孔,112

定位凹槽,113

标准锥孔规,114

标准锥孔。
具体实施方式
[0024]为了使本领域的人员更好地理解本专利技术,下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。显然,所描述的实施例仅是本专利技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。在不冲突的情况下,本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互结合。
[0025]参见图1至图5,本专利技术实施例提供的锥孔锥度检测器,包括千分表101、第一球测头102和第二球测头103;所述第一球测头102上具有沿其径向设置的第一通孔104;所述千分表101的套筒105从第一通孔104中穿过、并与第一球测头102固定连接;所述第二球测头103的直径小于第一球测头102的直径;所述第二球测头103上设置有沿其径向延伸的第二内螺纹孔106;所述千分表101的测杆107的端部具有同轴设置的外螺纹轴108;所述外螺纹轴108螺纹连接在第二内螺纹孔106中。
[0026]所述千分表101可以采用现有技术的产品,直接从市场上购买。所述千分表101主要包括表盘,固定在表盘上的套筒105,一端设置在表盘内、另一端从套筒105中穿过并延伸至套筒105外的测杆107;所述测杆107可沿自身轴向移动。所述千分表101优选为数显千分表。所述数显千分表是以数字方式显示的千分表,可以任意位置设置、起始值设置可满足特殊要求、公差值设置可进行公差判断、公英制转换、备有输出接口,经计算或打印机进行数据处理。当然,所述千分表101也可以为指针千分表,在此不做具体的限定。作为一种实施方式,所述千分表101的量程为0

25mm,精度为0.001mm。
[0027]所述第一球测头102可以为全球形结构,换句话说,该第一球测头102的形状可以为全球;其中,全球的解释详见简明数学词典,在此不再赘述。所述第一球测头102的直径为
D1;所述第一球测头102的中间具有第一通孔104,所述第一通孔104的直径大于千分表101的套筒105的外径,以便可将第一球测头102套设在千分表101的套筒105上。所述第一通孔104的中心线沿第一球测头102的径向设置,以使第一通孔104的中心线经过第一球测头102的球心;这样当将千分表101的套筒105从第一球测头102的第一通孔104中穿过、并与第一球测头102固定连接后,就可保证套筒105的中心线经过第一球测头102的球心。
[0028]所述第二球测头103可以为全球形结构,该第二球测头103的直径为D2;其中,D2<D1。所述千分表101的测杆107的端部具有同轴设置的外螺本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.锥孔锥度检测器,其特征在于,包括千分表(101)、第一球测头(102)和第二球测头(103);所述第一球测头(102)上具有沿其径向设置的第一通孔(104);所述千分表(101)的套筒(105)从第一通孔(104)中穿过、并与第一球测头(102)固定连接;所述第二球测头(103)的直径小于第一球测头(102)的直径;所述第二球测头(103)上设置有沿其径向延伸的第二内螺纹孔(106);所述千分表(101)的测杆(107)的端部具有同轴设置的外螺纹轴(108);所述外螺纹轴(108)螺纹连接在第二内螺纹孔(106)中。2.根据权利要求1所述的锥孔锥度检测器,其特征在于,所述第二球测头(103)为球缺形结构,且其底面的直径小于第二球测头(103)的直径;所述第二内螺纹孔(106)设置在第二球测头(103)的底面上、且其中心线垂直于第二球测头(103)的底面。3.根据权利要求2所述的锥孔锥度检测器,其特征在于,所述千分表(101)的测杆(107)的直径大于所述外螺纹轴(108)的直径,且测杆(107)的端面与第二球测头(103)的底面抵接。4.根据权利要求1、2或3所述的锥孔锥度检测器,其特征在于,所述千分表(101)的测杆(107)与外螺纹轴(108)为一体成型结构。5.根据权利要求1所述的锥...

【专利技术属性】
技术研发人员:弋才斌
申请(专利权)人:成都华川电装有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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