射频芯片的数据补偿方法技术

公开了射频芯片的数据补偿方法，方法中，校准射频芯片的射频通路损耗，射频芯片固定在承载板上；矢量网络分析仪校准射频芯片；开始测试后在得到射频芯片少量测试数据后暂停测试，取一部分的测试数据作为原始测试数据基于邻域风险最小化原则的mixup方法进行数据增强；通过增加自变量阶次的方式来提高补偿精度,根据目标值求解相应系数，计算得到真实值的修正公式，将得到的数据误差补偿模型进行误差的精度验证，满足精度则确定多项式，保存结果并在之后的测试中对测试值代入，以还原真实值；对补偿前的测试数据也代入多项式求解，根据补偿后的数值重新分析测试数据的良率，输出补偿前后的良率对比。补偿前后的良率对比。补偿前后的良率对比。

【技术实现步骤摘要】
射频芯片的数据补偿方法


[0001]本专利技术属于射频芯片测试
，尤其涉及一种射频芯片的数据补偿方法。

技术介绍

[0002]射频芯片由于其较高频率的特点,主要应用于通信、雷达、导航等领域,近年来,随着这些领域的快速发展,射频芯片的需求量也相应的加大,对于测试精度和测试效率提出了更高的要求。由于高频信号在通路中的传输会有损耗，因此在射频芯片的测试前需要校准，校准射频线缆对信号的损耗，以及承载板的走线、芯片夹具、探针与芯片的接触对信号的损耗以及环境、噪声等的影响，还需要对测试数据进行进一步的补偿优化以还原真实值。现在关于射频参数的数据补偿方式主要分为硬件补偿与软补偿两大类。前一种方式为改进采用更高端的测试系统，包括对配套承载板与探针进行优化，该方法需要增加测试成本，在一定程度上能提高测量值的准确度。后一种方式则通过智能算法，包括数值分析或神经网络学习等方式对采集的测试数据进行回归，软件给予一定的补偿操作，以修正通路损耗，还原其真实值。
[0003]在
技术介绍
部分中公开的上述信息仅仅用于增强对本专利技术背景的理解，因此可能包含不构成本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种射频芯片的数据补偿方法，不额外增加硬件成本，通过数据增强、拟合等数据处理手段，重新设计射频参数数据补偿方法，基于测量值来还原真实值，以降低成本、减少系统误差，从而提高芯片测试良率。为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0005]本专利技术的一种射频芯片的数据补偿方法包括：
[0006]一种射频芯片的数据补偿方法包括以下步骤：
[0007]校准射频芯片的射频测试通路损耗，其中，射频芯片用夹具固定在承载板上，所述承载板上包括REF端口、RFIN端口和RFOUT端口，功率计连接所述REF端口和RFIN端口的线缆，产生一定频率的射频信号的信号发生与分析模块分别连接REF端口、RFIN端口和RFOUT端口线缆另一端形成第一通路、第二通路和第三通路，根据功率计的读数校准第一通路的第一线路损耗和第二通路的第二线路损耗；RFOUT端口接到所述射频信号，功率计连接RFOUT端口线缆另一端以校准第三通路的第三线路损耗；
[0008]矢量网络分析仪校准射频芯片，其中，矢量网络分析仪的双端口依次连接短路、开路、匹配负载运行校准程序得到矢量网络分析仪的校准值；开始测试后在得到射频芯片测试数据后暂停测试，所述测试数据作为原始测试数据基于邻域风险最小化原则的mixup方法进行数据增强，其中，y
n
＝λy
i
+(1
‑
λ)y
j
，y
n
为数据增强的数据向量，维数是需要补偿的测试项数，y
i
和y
j
为原始测试数据中任意抽取的两个不同的数据向量，λ～Beta(α，β)，应用时，β＝α，α∈(0,+∞)，所述数据向量添加指定信噪比的高斯白噪声来构建样本数据；
[0009]用最小二乘方法的多项式根据实际测量值和预期目标值进行拟合，自变量为测量值，因变量为预期目标值；
[0010]通过增加自变量阶次的方式来提高补偿精度，数据误差补偿模型为y＝a1x+a2x2+
…
+a
m
x
m
，y是所述预期目标值，x是所述实际测量值，a是常数参数，通过最小二乘法多项式拟合计算出，根据预期目标值求解相应系数，计算得到真实值的修正公式，真实值是指芯片实际输出的数值，将得到的数据误差补偿模型进行误差的精度验证，满足精度则确定所述多项式，保存结果并在之后的测试中对测试值代入，以还原真实值；
[0011]对补偿前的测试数据代入所述多项式求解，根据补偿后的数值重新分析所述测试数据的良率，输出补偿前后的良率对比。
[0012]所述的一种射频芯片的数据补偿方法中，矢量网络分析仪的使用12项误差模型全双端口校准算法校准射频芯片。
[0013]所述的一种射频芯片的数据补偿方法中，矢量网络分析仪包括前向激励和后向激励。
[0014]所述的一种射频芯片的数据补偿方法中，所述信号发生与分析模块包括放大器或衰减器。
[0015]所述的一种射频芯片的数据补偿方法中，功率计和所述信号发生与分析模块集成在测试机中。
[0016]上述技术方案中，本专利技术提供的一种射频芯片的数据补偿方法，具有以下有益效果：本专利技术通过测试前对射频通路的损耗和矢量网络分析仪做了校准,排除线缆损耗对测试的影响，使测试更为准确；在不增加硬件成本的前提下，用更少的测试数据就完成了补偿值的计算，更进一步对承载板及夹具等的损耗做了补偿，减少了人工筛选有效测试数据的时间，还原了测试数据的真实值,在测试前期数据量不足时生成健壮的虚拟样本，对比已有方案，可以提前进行数据补偿的操作，避免前期良率的损失；降低了时间和人工成本，提高了芯片良率。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本专利技术中射频芯片的数据补偿方法的一个实施方式的射频通路损耗校准示意图；
[0019]图2为本专利技术中射频芯片的数据补偿方法的一个实施方式的矢量网络分析仪校准的结构示意图；
[0020]图3为本专利技术中射频芯片的数据补偿方法的一个实施方式的流程示意图。
具体实施方式
[0021]为使本专利技术实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施方式对本专利技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本专利技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本专利技术中的实施方式，本领域普通技术
人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本专利技术保护的范围。
[0022]因此，以下对在附图图1至图3中提供的本专利技术的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施方式。基于本专利技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本专利技术保护的范围。
[0023]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0024]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频芯片的数据补偿方法，其特征在于，其包括以下步骤：校准射频芯片的射频测试通路损耗，其中，射频芯片用夹具固定在承载板上，所述承载板上包括REF端口、RFIN端口和RFOUT端口，功率计连接所述REF端口和RFIN端口的线缆，产生一定频率的射频信号的信号发生与分析模块分别连接REF端口、RFIN端口和RFOUT端口线缆另一端形成第一通路、第二通路和第三通路，根据功率计的读数校准第一通路的第一线路损耗和第二通路的第二线路损耗；RFOUT端口接到所述射频信号，功率计连接RFOUT端口线缆另一端以校准第三通路的第三线路损耗；矢量网络分析仪校准射频芯片，其中，矢量网络分析仪的双端口依次连接短路、开路、匹配负载运行校准程序得到矢量网络分析仪的校准值；开始测试后在得到射频芯片少量测试数据后暂停测试，所述测试数据作为原始测试数据基于邻域风险最小化原则的mixup方法进行数据增强，其中，y
n
＝λy
i
+(1
‑
λ)y
j
，y
n
为数据增强的数据向量，维数是需要补偿的测试项数，y
i
和y
j
为原始测试数据中任意抽取的两个不同的数据向量，λ～Beta(α，β)，应用时，β＝α，α∈(0,+∞)，所述数...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵英伟，杨柳，卢旭坤，袁俊，白世发，张亦锋，
申请(专利权)人：广东利扬芯片测试股份有限公司，
类型：发明
国别省市：