一种集成电路用防触电快速测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于集成电路板测试技术领域，且公开了一种集成电路用防触电快速测试装置，包括测试装置本体，所述测试装置本体包括外壳，所述外壳底端表面固定连接有支撑腿，所述外壳上端中间位置插设有动力机构，所述动力机构底端设置有测试探头，所述外壳底端内壁上端固定连接有工作台面，所述工作台面底端中间位置固定连接有限位机构，所述限位机构包括防护壳。本实用新型专利技术通过设置有限位机构，有效的降低了集成电路块的检测成本，增加了测试装置本体的实用性，通过设置有缓冲机构，避免测试探头对集成电路板造成积压导致受损，大大增加了集成电路板的使用寿命。集成电路板的使用寿命。集成电路板的使用寿命。

A fast test device against electric shock for integrated circuits

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路用防触电快速测试装置


[0001]本技术属于集成电路板测试
，具体涉及一种集成电路用防触电快速测试装置。

技术介绍

[0002]随着我国网络设备的不断发展，集成电路在生活中的应该也在不断增加，集成电路是一种微型电子器件或部件，其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，集成电路在使用前需要进行防触电测试，但夹持固定装置多是一体化结构，在测试过程中无法对不同电路板的规格型号进行固定限位，导致在对不同的集成电路测试时需要的成本增加，同时测试端头在对集成电路测试时的冲击较大，易导致集成电路出现损坏或断裂的现象，大大降低了集成电路的使用寿命。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种集成电路用防触电快速测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的测试装置无法对不同型号的集成电路进行测试和集成电路在测试时冲击较大易断裂的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路用防触电快速测试装置，包括测试装置本体，所述测试装置本体包括外壳，所述外壳底端表面固定连接有支撑腿，所述外壳上端中间位置插设有动力机构，所述动力机构底端设置有测试探头，所述外壳底端内壁上端固定连接有工作台面，所述工作台面底端中间位置固定连接有限位机构，所述限位机构包括防护壳，所述防护壳内部固定连接有电机，所述电机靠近工作台面内部的一侧表面套接有转盘，所述转盘侧边铰接有拉杆，所述拉杆远离转盘的一侧表面铰接有滑动杆，所述滑动杆上端表面固定连接有第一移动块，所述第一移动块远离滑动杆的一侧表面固定连接有挤压框，所述挤压框底端内壁固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧远离挤压框的一侧表面固定连接有量高板，所述动力机构侧边设置有缓冲机构，所述缓冲机构包括固定框，所述固定框内部开设有调节仓，所述调节仓内部固定连接有滑杆，所述滑杆表面套接有第二移动块，所述第二移动块底端设置有缓冲支撑块，所述缓冲支撑块远离第二移动块的一侧表面固定连接有第二弹簧。
[0005]优选的，所述工作台面靠近第一移动块的一侧内部开设有滑动槽，所述工作台面开设滑动槽的直径与第一移动块的表面直径相适配。
[0006]优选的，所述转盘设置为圆盘状，所述拉杆设置有四组，四组所述拉杆对称均匀分布在转盘表面。
[0007]优选的，所述挤压框设置为中空结构，所述量高板设置为“L”形。
[0008]优选的，所述固定框设置有两组，两组所述固定框对称分布在测试探头两侧表面。
[0009]优选的，所述缓冲支撑块内部开设有圆形通孔，所述缓冲支撑块内部开设的通孔
直径与滑杆表面直径相同，所述第二弹簧一侧固定连接在缓冲支撑块表面，另一侧所述第二弹簧固定连接在调节仓底端。
[0010]与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术通过设置有限位机构，有效的降低了集成电路块的检测成本，增加了测试装置本体的实用性，通过设置有缓冲机构，避免测试探头对集成电路板造成积压导致受损，大大增加了集成电路板的使用寿命。
[0011]本技术通过设置有限位机构，当操作人员需要对工作台面上摆放的集成电路块进行固定时，通过控制按钮将电机启动，使转盘带动四组挤压框对集成电路块进行限位挤压，方便测试探头能准确的对不同规格的集成电路块进行测试检测，有效的降低了集成电路块的检测成本，增加了测试装置本体的实用性。
[0012]本技术通过设置有缓冲机构，通过缓冲支撑块对第二移动块进行支撑，使测试探头在与集成电路板抵触接触时能降低测试探头的冲击力，避免测试探头对集成电路板造成积压导致受损，大大增加了集成电路板的使用寿命。
附图说明
[0013]图1为本技术的结构正视剖面示意图；
[0014]图2为本技术转盘和滑动杆的结构俯视剖面示意图；
[0015]图3为本技术滑杆和缓冲支撑块的结构侧视剖面示意图；
[0016]图4为本技术中图1中A处的结构放大示意图。
[0017]图中：1、测试装置本体；11、外壳；12、支撑腿；13、动力机构；14、测试探头；15、工作台面；2、限位机构；21、防护壳；22、电机；23、转盘；24、拉杆；25、滑动杆；26、第一移动块；27、挤压框；28、第一弹簧；29、量高板；3、缓冲机构；31、固定框；32、调节仓；33、滑杆；34、第二移动块；35、缓冲支撑块；36、第二弹簧。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]请参阅图1
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4所示，本技术提供一种技术方案：
[0020]一种集成电路用防触电快速测试装置，包括测试装置本体1，测试装置本体1包括外壳11，外壳11底端表面固定连接有支撑腿12，外壳11上端中间位置插设有动力机构13，动力机构13底端设置有测试探头14，外壳11底端内壁上端固定连接有工作台面15，工作台面15底端中间位置固定连接有限位机构2，限位机构2包括防护壳21，防护壳21内部固定连接有电机22，电机22靠近工作台面15内部的一侧表面套接有转盘23，转盘23侧边铰接有拉杆24，拉杆24远离转盘23的一侧表面铰接有滑动杆25，滑动杆25上端表面固定连接有第一移动块26，第一移动块26远离滑动杆25的一侧表面固定连接有挤压框27，挤压框27底端内壁固定连接有第一弹簧28，第一弹簧28远离挤压框27的一侧表面固定连接有量高板29，动力机构13侧边设置有缓冲机构3，缓冲机构3包括固定框31，固定框31内部开设有调节仓32，调节仓32内部固定连接有滑杆33，滑杆33表面套接有第二移动块34，第二移动块34底端设置
有缓冲支撑块35，缓冲支撑块35远离第二移动块34的一侧表面固定连接有第二弹簧36。
[0021]为了使挤压框27能在工作台面15上方自由移动，本实施例中，优选的，工作台面15靠近第一移动块26的一侧内部开设有滑动槽，工作台面15开设滑动槽的直径与第一移动块26的表面直径相适配，这样可以使第一移动块26在工作台面15开设的滑动槽中稳定进行滑动，有效的避免了第一移动块26在移动过程中出现偏移倾斜的现象。
[0022]为了使转盘23拉动拉杆24转动，本实施例中，优选的，转盘23设置为圆盘状，拉杆24设置有四组，四组拉杆24对称均匀分布在转盘23表面，这样可以在电机22水平转动时，转盘23能带动四周铰接的拉杆24转动，使四组拉杆24能对滑动杆25进行拉动，方便对挤压框27的位置进行调节移动。
[0023]为了对集成电路板进行限位固定，本实施例中，优选的，挤压框27设置为中空结构，量高板29设置为“L”形，挤压框27设置为中空结本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路用防触电快速测试装置，包括测试装置本体，其特征在于：所述测试装置本体包括外壳，所述外壳底端表面固定连接有支撑腿，所述外壳上端中间位置插设有动力机构，所述动力机构底端设置有测试探头，所述外壳底端内壁上端固定连接有工作台面，所述工作台面底端中间位置固定连接有限位机构，所述限位机构包括防护壳，所述防护壳内部固定连接有电机，所述电机靠近工作台面内部的一侧表面套接有转盘，所述转盘侧边铰接有拉杆，所述拉杆远离转盘的一侧表面铰接有滑动杆，所述滑动杆上端表面固定连接有第一移动块，所述第一移动块远离滑动杆的一侧表面固定连接有挤压框，所述挤压框底端内壁固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧远离挤压框的一侧表面固定连接有量高板，所述动力机构侧边设置有缓冲机构，所述缓冲机构包括固定框，所述固定框内部开设有调节仓，所述调节仓内部固定连接有滑杆，所述滑杆表面套接有第二移动块，所述第二移动块底端设置有缓冲支撑块，所述缓冲支撑块远离第二移动块的一侧表面固定连...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖榕弟，岑平森，叶鸿基，黄汉端，陈琪容，周贤亮，杨敬，张榕彬，
申请(专利权)人：深圳市镕创科技有限公司，
类型：新型
国别省市：