目标测量方法、装置、计算机设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开一种目标测量方法及装置、计算机设备及介质。在一具体实施方式中，该目标测量方法包括：对包含目标的待测图像进行二值化处理得到二值化图像，其中，所述二值化图像包含背景区域和目标区域，所述目标区域延伸至所述二值化图像的至少两个图像边界处；对所述二值化图像进行数字信号处理得到所述目标区域的轮廓数据，并根据所述轮廓数据和所述二值化图像确定所述目标区域的尺寸信息。二值化图像确定所述目标区域的尺寸信息。二值化图像确定所述目标区域的尺寸信息。

Target measurement method, device, computer equipment and medium

【技术实现步骤摘要】
目标测量方法、装置、计算机设备及介质


[0001]本专利技术涉及测量测试
更具体地，涉及一种目标测量方法、装置、计算机设备及介质。

技术介绍

[0002]目前，很多测试场景中存在对目标尺寸测量的需求。例如，在显示面板测试的场景中，需要测量用于粘接膜层的条状的透明封框胶(Optically Clear Adhesive，OCA)的尺寸信息是否符合要求，例如涂覆宽度。现有的例如基于目标边缘检测确定目标尺寸信息等的测量方法存在测量效率低以及测量精度低等问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种目标测量方法及装置、计算机设备及介质，以解决现有技术存在的问题中的至少一个。
[0004]为达到上述目的，本专利技术采用下述技术方案：
[0005]本专利技术第一方面提供了一种目标测量方法，包括：
[0006]对包含目标的待测图像进行二值化处理得到二值化图像，其中，所述二值化图像包含背景区域和目标区域，所述目标区域延伸至所述二值化图像的至少两个图像边界处；
[0007]对所述二值化图像进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种目标测量方法，其特征在于，包括：对包含目标的待测图像进行二值化处理得到二值化图像，其中，所述二值化图像包含背景区域和目标区域，所述目标区域延伸至所述二值化图像的至少两个图像边界处；对所述二值化图像进行数字信号处理得到所述目标区域的轮廓数据，并根据所述轮廓数据和所述二值化图像确定所述目标区域的尺寸信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对包含目标的待测图像进行二值化处理得到二值化图像包括：利用已训练的Burrito
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Net网络对所述待测图像进行二值化处理；所述利用已训练的Burrito
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Net网络对所述待测图像进行二值化处理进一步包括：将所述包含目标的待测图像输入Burrito
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Net网络的堆叠层，所述堆叠层将所述待测图像进行拆分和填充后得到多通道特征图，所述多通道特征图包括多个依次堆叠的待测图像的行图像块；将所述堆叠层输出的所述多通道特征图输入Burrito
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Net网络的提取层，所述提取层将所述多通道特征图进行卷积提取并输出多层特征图；将所述堆叠层输出的所述多层特征图输入Burrito
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Net网络的扩展层，所述扩展层将所述多层特征图进行扩展得到所述二值化图像。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述堆叠层将所述待测图像进行拆分和填充后得到多通道特征图进一步包括：依次遍历所述待测图像的每一行的行图像；将每一所述行图像的像素值依次填充到预设边长的图像块，其中，所述图像块中未填充的像素值为0；将全部填充后的所述行图像的图像块进行堆叠以生成多通道特征图。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述提取层包括：第一卷积神经网络，所述第一卷积神经网络包括至少两个串联的第一卷积神经网络模块；与所述第一卷积神经网络串联的残差网络，所述残差网络包括多个串联的残差模块；与所述残差网络串联的第二卷积神经网络，所述第二卷积神经网络包括至少两个串联的第二卷积神经网络模块。5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述扩展层将所述多层特征图进行扩展得到所述二值化图像进一步包括：将所述多层特征图的每一层的单层特征图解码得到所述全部填充后的所有行图像的图像块；将所述全部填充后的所有行图像的图像块分别扩展为所述待测图像的每一行的行图像；堆叠所述每一行的行图像以生成所述二值化图像。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对包含目标的待测图像进行二值化处理得到二值化图像还包括：利用已训练的U
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Net网络对所述待测图像进行二值化处理。7.根据权利要求1～6中任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述二值化图像进行数字信号处理得到所述目标区域的轮廓数据，并根据所述轮廓数据和所述二值化图像确定所述目标区域的尺寸信息进一步包括：
S21、查找所述二值化图像中的目标区域的轮廓以得到所述目标区域的轮廓数据；S22、对所述轮廓数据进行分类，以得到位于所述目标区域的第一边界的第一轮廓数据和位于所述目标区域的第二边界的第二轮廓数据，其中，所述目标区域延伸至所述二值化图像的图像边界处的轮廓形成所述第一边界和平行于所述第一边界的所述第二边界；S23、根据第一轮廓数据和第二轮廓数据确定所述目标区域的尺寸信息。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据第一轮廓数据和第二轮廓数据确定所述目标区域的尺寸信息进一步包括：对第一轮廓数据和第二轮廓数据进行插值，使得插值后的第一边界的第一轮廓数据一一对应于插值后的第二边界的第二轮廓数据；分别计算对应的第一轮廓数据和第二轮廓数据之间的第二距离，以得到包括多个第二距离的第二距离集；根据所述第二距离...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏书琪，哈谦，姜博然，冀潮，欧歌，钟楚千，王友学，侯孟军，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：