一种设计图之间差异点的检测方法、装置和电子设备制造方法及图纸

本实施例提供了一种设计图之间差异点的检测方法，该方法应用于电子设备，具体为根据用户的比对请求获取第一设计图的全部像素点以及第二设计图的全部像素点；对两个设计图的每个像素点进行比对得到差异像素点；根据差异像素点标注出第一设计图和第二设计图的差异点。本方案无需通过目视即可对差异点进行确定，能够规避了人眼固有的缺陷，从而能够避免遗漏差异点。遗漏差异点。遗漏差异点。

【技术实现步骤摘要】
一种设计图之间差异点的检测方法、装置和电子设备


[0001]本申请涉及辅助设计
，更具体地说，涉及一种设计图之间差异点的检测方法、装置和电子设备。

技术介绍

[0002]设计师在输出设计图后，常常因各种原因对原设计图进行修改，修改后再次输出，导致同样的设计图存在多个版本。在后续的处理流程中，经常需要确定版本之间的差异点，以便比较版本之间的优劣。目前，在比较不同版本的设计图之间的差异点时，通过双栏、蒙版、扫描和差异的实现对差异点的确定，分别如图1a、图1b、图1c和图1d所示。
[0003]上述双栏、蒙版、扫描和差异等方式归根到底需要通过目视方式对差异点进行确定，鉴于人眼的固有缺陷，一些细节部位容易会被遗漏。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请提供一种设计图之间差异点的检测方法、装置和电子设备，用于确定设计图之间的差异点，以避免产生遗漏。
[0005]为了实现上述目的，现提出的方案如下：
[0006]一种设计图之间差异点的检测方法，应用于电子设备，所述检测方法包括步骤：
[0007]响应用户的比对请求，获取第一设计图的全部像素点以及第二设计图的全部像素点；
[0008]依次对所述第一设计图的每个像素点和所述第二设计图的对应像素点进行比对，得到所述第一设计图与所述第二设计图的差异像素点；
[0009]根据所述差异像素点标注出所述第一设计图和第二设计图的差异点。
[0010]可选的，所述依次对所述第一设计图的每个像素点和所述第二设计图的对应像素点进行比对，得到所述第一设计图与所述第二设计图的差异像素点，包括步骤：
[0011]依次对所述第一设计图的每个像素点的色值与所述第二设计图的对应像素点的色值进行比对；
[0012]将色值不同的所述对应像素点确定为所述差异像素点。
[0013]可选的，所述根据所述差异像素点标注出所述第一设计图和第二设计图的差异点，包括步骤：
[0014]对所述差异像素点进行处理，得到所述差异像素点的连通域的最小外切矩形；
[0015]对所述最小外切矩形进行聚类处理，将两者之间距离小于预设距离阈值的多个最小外切矩形合并为一个框，得到所述差异点。
[0016]可选的，所述预设距离阈值为10pix。
[0017]一种设计图之间差异点的检测装置，应用于电子设备，所述检测装置包括：
[0018]像素采集模块，被配置为响应用户的比对请求，获取第一设计图的全部像素点以及第二设计图的全部像素点；
[0019]像素比对模块，被配置为依次对所述第一设计图的每个像素点和所述第二设计图的对应像素点进行比对，得到所述第一设计图与所述第二设计图的差异像素点；
[0020]差异检测模块，被配置为根据所述差异像素点标注出所述第一设计图和第二设计图的差异点。
[0021]可选的，所述像素比对模块包括：
[0022]比对执行单元，用于依次对所述第一设计图的每个像素点的色值与所述第二设计图的对应像素点的色值进行比对；
[0023]差异点确定单元，被配置为将色值不同的所述对应像素点确定为所述差异像素点。
[0024]可选的，所述差异检测模块包括：
[0025]连通处理单元，用于对所述差异像素点进行处理，得到所述差异像素点的连通域的最小外切矩形；
[0026]聚类处理单元，用于对所述最小外切矩形进行聚类处理，将两者之间距离小于预设距离阈值的多个最小外切矩形合并为一个框，得到所述差异点。
[0027]可选的，所述预设距离阈值为10pix。
[0028]一种电子设备，包括如上所述的进厂装置。
[0029]一种电子设备，包括至少一个处理器和与所述处理器连接的存储器，其中：
[0030]所述存储器用于存储计算机程序或指令；
[0031]所述处理器用于执行所述计算机程序或指令，以使所述电子设备实施如上所述的检测方法。
[0032]从上述的技术方案可以看出，本申请公开了本实施例提供了一种设计图之间差异点的检测方法、装置和电子设备，该方法和装置具体为根据用户的比对请求获取第一设计图的全部像素点以及第二设计图的全部像素点；对两个设计图的每个像素点进行比对得到差异像素点；根据差异像素点标注出第一设计图和第二设计图的差异点。本方案无需通过目视即可对差异点进行确定，能够规避了人眼固有的缺陷，从而能够避免遗漏差异点。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0034]图1a为一种差异点比对示意图；
[0035]图1b为另一种差异点比对示意图；
[0036]图1c为又一种差异点比对示意图；
[0037]图1d为又一种差异点比对示意图；
[0038]图2a为本申请实施例的一种设计图之间差异点的检测方法的流程图；
[0039]图2b为本申请实施例的一种显示界面的示意图；
[0040]图2c为本申请实施例的差异像素点连通域的最小外切矩形的示意图；
[0041]图2d为本身亲实施例的差异点的示意图；
[0042]图3为本申请实施例的一种设计图之间差异点的检测装置的框图；
[0043]图4为本申请实施例的一种电子设备的框图。
具体实施方式
[0044]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的全部其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0045]实施例一
[0046]图2a为本申请实施例的一种设计图之间差异点的检测方法的流程图。
[0047]如图2a所示，本实施例提供的检测方法用于对两个设计图之间的差异点进行检测，以使用户能够直观的观察到两个设计图即第一设计图与第二设计图之间的差异点，该检测方法包括如下步骤：
[0048]S1、获取第一设计图和第二设计图的全部像素点。
[0049]这里的第一设计图和第二设计图是指需要进行比对的不同版本的设计图，其中一个由另一个修改而来，一般而言两者存在相应的差异点，该差异点可能是字符、符号或背景图片的部分或全部。
[0050]本方法可以基于具有信息处理能力和数据计算能力的电子设备，如计算机或服务器实现，本申请的技术方案在基于该电子设备实施时，可以基于该电子设备的显示装置上的显示界面接收用户的控制指令，当用户基于该显示界面输入比对请求，例如，如图2b所示，当用户基于该显示界面100上的比对按钮101输入比对指令时，系统获取第一设计图的全部像素点和第二设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设计图之间差异点的检测方法，应用于电子设备，其特征在于，所述检测方法包括步骤：响应用户的比对请求，获取第一设计图的全部像素点以及第二设计图的全部像素点；依次对所述第一设计图的每个像素点和所述第二设计图的对应像素点进行比对，得到所述第一设计图与所述第二设计图的差异像素点；根据所述差异像素点标注出所述第一设计图和第二设计图的差异点。2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述依次对所述第一设计图的每个像素点和所述第二设计图的对应像素点进行比对，得到所述第一设计图与所述第二设计图的差异像素点，包括步骤：依次对所述第一设计图的每个像素点的色值与所述第二设计图的对应像素点的色值进行比对；将色值不同的所述对应像素点确定为所述差异像素点。3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述差异像素点标注出所述第一设计图和第二设计图的差异点，包括步骤：对所述差异像素点进行处理，得到所述差异像素点的连通域的最小外切矩形；对所述最小外切矩形进行聚类处理，将两者之间距离小于预设距离阈值的多个最小外切矩形合并为一个框，得到所述差异点。4.如权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述预设距离阈值为10pix。5.一种设计图之间差异点的检测装置，应用于电子设备，其特征在于，所述检测装置包括：像素采集模块，被配置为响应用户的比对请求，获取第一设计图的全部像素...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐明雪，
申请(专利权)人：北京尽微致广信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：