一种NAND闪存测试治具制造技术

本实用新型专利技术提供一种NAND闪存测试治具，涉及闪存测试技术领域，解决了夹具缺少缓冲结构与压紧结构，测试治具与夹具相结合，NAND闪存与测试治具防尘的问题，包括安装壳；所述安装壳开设有螺纹安装孔，螺栓安装孔为阶梯结构，安装壳开设有两个安装孔；所述锁定销穿插于安装壳的安装孔内；所述定位板卡接在安装壳的内侧，定位板开设有CPU和NAAD闪存的放置槽。通过安装壳和密封盖形成一个密封空间，密封盖对测试治具和夹紧机构进行防尘与密封，避免了灰尘粘附在测试治具和夹紧机构表面，通过安装壳和锁定销相配合对定位板的固定螺栓进行防松，同时安装壳对固定螺栓进行保护与防尘。时安装壳对固定螺栓进行保护与防尘。时安装壳对固定螺栓进行保护与防尘。

A NAND flash memory test fixture

【技术实现步骤摘要】
一种NAND闪存测试治具


[0001]本技术属于闪存测试
，更具体地说，特别涉及一种NAND闪存测试治具。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，原来的内存即将淘汰，现有的NAND闪存具有储存块的效果，存储速度要快3倍左右，但是NAND闪存也会损坏，在NAND闪存损坏后需要通过治具进行测试，还需要对闪存通过夹具进行夹紧。
[0003]基于上述，现有的电路板与闪存的夹具在使用时，一个是夹具缺少缓冲结构，在电路板夹紧时用力过小造成的夹紧不牢固，用力过大对电路板造成的损坏，另一个是夹具缺少对NAND闪存的压紧结构，从而不方便对夹具与NAND闪存同时携带，测试治具需要单独进行储存，测试治具与夹具不能有效的结合，在NAND闪存与测试治具在放置过程中，空气中的灰尘会腐蚀NAND闪存与测试治具表面。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本技术提供一种NAND闪存测试治具，以解决夹具缺少缓冲结构，夹具缺少对NAND闪存的压紧结构，测试治具需要单独进行储存，测试治具与夹具不能有效的结合，空气中的灰尘会腐蚀NAND闪存与测试治本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种NAND闪存测试治具，其特征在于：包括安装壳(1)；所述安装壳(1)开设有螺纹安装孔，螺栓安装孔为阶梯结构，安装壳(1)开设有两个安装孔；锁定销(2)，所述锁定销(2)穿插于安装壳(1)的安装孔内；定位板(3)，所述定位板(3)卡接在安装壳(1)的内侧，定位板(3)开设有CPU和NAAD闪存的放置槽；测试结构(4)，所述测试结构(4)安装在定位板(3)的上方；压紧条(5)，所述压紧条(5)通过螺栓安装在定位板(3)的上方；夹紧机构(6)，所述夹紧机构(6)安装在定位板(3)的上方。2.如权利要求1所述一种NAND闪存测试治具，其特征在于：所述安装壳(1)包括有：密封盖(101)，密封盖(101)在安装壳(1)的上方，安装壳(1)开设有两个安装孔，密封盖(101)的底部有两个卡块。3.如权利要求1所述一种NAND闪存测试治具，其特征在于：所述锁定销(2)包括有：锁定块(201)，锁定块(201)开设有一个螺纹槽，锁定销(2)开设有外螺纹，锁定块(201)安装在锁定销(2)的外侧，定位板(3)对称开设有两个卡槽，锁定块(201)卡接在卡槽内，锁定销(2)的外侧套接有一个支撑弹簧。4.如权利要求1所述一种NAND闪存测试治具，其特征在于：所述测试结构(4)包括有：安装板(401)，安装板(401)的底部开设有四个螺纹槽，安装壳(1)的上方开设有一个安装槽，安装板(401)卡接在安装槽内，安装板(401)通过螺栓固定在安装壳(1)的上方；测试治具(402)，测试治具(402)的底部有四...

【专利技术属性】
技术研发人员：王玉伟，
申请(专利权)人：深圳市卓然电子有限公司，
类型：新型
国别省市：