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本实用新型提供一种NAND闪存测试治具，涉及闪存测试技术领域，解决了夹具缺少缓冲结构与压紧结构，测试治具与夹具相结合，NAND闪存与测试治具防尘的问题，包括安装壳；所述安装壳开设有螺纹安装孔，螺栓安装孔为阶梯结构，安装壳开设有两个安装孔；所...
该专利属于深圳市卓然电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市卓然电子有限公司授权不得商用。

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