本实用新型专利技术公开了一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置，包括支架，所述支架的底端安装有封片，所述支架的外部设有滑杆，所述滑杆的中心位置设有安装槽，所述安装槽的外部螺纹连接有螺栓，所述安装槽的内侧通过螺栓安装有测量探头，所述支架与滑杆之间设有限位结构，所述支架的后部设有安装结构，所述限位结构包括有压柄、滑槽和弹簧，所述压柄贯穿在支架的顶端，所述滑槽开设在支架的内部，所述弹簧连接在封片的上部位于滑槽的内侧，所述滑杆与滑槽滑动连接，所述压柄的底端与滑杆固定连接。本实用新型专利技术所述的一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置，有效提高测量精度，而且操作方便、结构简单。结构简单。结构简单。
【技术实现步骤摘要】
一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置
[0001]本技术涉及氧化膜厚度测量领域，特别涉及一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置。
技术介绍
[0002]在工业加工中，工件表面会产生氧化膜，为了更精准的加工以及便于了解工件性能通常需要对氧化膜的厚度进行测量，测量的方式有多种，其中就需要使用到覆层测量仪，主要有仪器主体和测量探头组成；
[0003]但现有的氧化膜厚度测量装置在使用时存在着一定的不足之处有待改善，现有的氧化膜厚度测量装置不具备限位功能，通常测量过程中均采用手持的方式进行操作测量探头，探头稳定性差，测量精度低下。
技术实现思路
[0004]本技术的主要目的在于提供一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置，可以有效解决
技术介绍
中：现有的氧化膜厚度测量装置不具备限位功能，通常测量过程中均采用手持的方式进行操作测量探头，探头稳定性差，测量精度低下的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：
[0006]一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置，包括支架，所述支架的底端安装有封片，所述支架的外部设有滑杆，所述滑杆的中心位置设有安装槽，所述安装槽的外部螺纹连接有螺栓，所述安装槽的内侧通过螺栓安装有测量探头，所述支架与滑杆之间设有限位结构，所述支架的后部设有安装结构。
[0007]作为本技术的进一步方案，所述限位结构包括有压柄、滑槽和弹簧，所述压柄贯穿在支架的顶端，所述滑槽开设在支架的内部，所述弹簧连接在封片的上部位于滑槽的内侧。
[0008]作为本技术的进一步方案，所述滑杆与滑槽滑动连接，所述压柄的底端与滑杆固定连接。
[0009]作为本技术的进一步方案，所述安装结构包括有安装座、T形槽、丝杆、夹座和挡块，所述安装座固定安装在支架的后部，所述T形槽开设在安装座的后表面，所述丝杆贯穿在T形槽的内部，所述夹座与T形槽滑动连接，所述挡块安装在夹座的底部。
[0010]作为本技术的进一步方案，所述夹座与T形槽之间设有T形块，所述丝杆与T形块螺纹连接。
[0011]作为本技术的进一步方案，所述夹座呈中空式结构，且夹座设有两个，两个夹座对称设置。
[0012]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：本技术中，通过设置限位结构，在测量氧化膜厚度的时候，将封片接触在工件表面，然后施力按压压柄，压柄推动滑杆通过滑槽滑动，同时弹簧受力收缩，使得测量探头接触到工件、设备表面，进行氧化膜的厚
度测量工作，当压柄失去压力的时候，弹簧扩张，推动压柄和滑杆复位，使得测量探头复位，相比传统手持测量探头进行测量的方式，使得探头更加稳定，有效提高测量精度，而且操作方便、结构简单；
[0013]通过设置安装结构，覆层测量仪放置到安装座的后部位于两个夹座之间，然后转动丝杆，丝杆带动两个夹座同时以相对的方向移动，从而将覆层测量仪夹持固定，便于同时在支架上安装覆膜测量仪，便于与测量探头进行配合使用，配合安装槽和螺栓，方便将覆膜测量仪以及测量探头与支架和滑杆进行安装，提高使用的便捷性。
附图说明
[0014]图1为本技术一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置的整体结构示意图；
[0015]图2为本技术一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置的爆炸图；
[0016]图3为本技术一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置的后部结构图。
[0017]图中：1、支架；2、封片；3、滑杆；4、安装槽；5、螺栓；6、测量探头；7、限位结构；8、压柄；9、滑槽；10、弹簧；11、安装结构；12、安装座；13、T形槽；14、丝杆；15、夹座；16、挡块。
具体实施方式
[0018]为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本技术。
[0019]如图1
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3所示，一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置，包括支架1，支架1的底端安装有封片2，支架1的外部设有滑杆3，滑杆3的中心位置设有安装槽4，安装槽4的外部螺纹连接有螺栓5，安装槽4的内侧通过螺栓5安装有测量探头6，支架1与滑杆3之间设有限位结构7，支架1的后部设有安装结构11。
[0020]本实施例中，限位结构7包括有压柄8、滑槽9和弹簧10，压柄8贯穿在支架1的顶端，滑槽9开设在支架1的内部，弹簧10连接在封片2的上部位于滑槽9的内侧。
[0021]在测量氧化膜厚度的时候，将封片2接触在工件表面，然后施力按压压柄8，压柄8推动滑杆3通过滑槽9滑动，同时弹簧10受力收缩，使得测量探头6接触到工件、设备表面，进行氧化膜的厚度测量工作，当压柄8失去压力的时候，弹簧10扩张，推动压柄8和滑杆3复位，使得测量探头6复位，相比传统手持测量探头6进行测量的方式，使得探头更加稳定，有效提高测量精度，而且操作方便、结构简单。
[0022]本实施例中，滑杆3与滑槽9滑动连接，压柄8的底端与滑杆3固定连接。
[0023]通过推动压柄8即可带动滑杆3通过滑槽9滑动。
[0024]本实施例中，安装结构11包括有安装座12、T形槽13、丝杆14、夹座15和挡块16，安装座12固定安装在支架1的后部，T形槽13开设在安装座12的后表面，丝杆14贯穿在T形槽13的内部，夹座15与T形槽13滑动连接，挡块16安装在夹座15的底部。
[0025]将覆层测量仪放置到安装座12的后部位于两个夹座15之间，然后转动丝杆14，丝杆14带动两个夹座15同时以相对的方向移动，从而将覆层测量仪夹持固定，便于同时在支架1上安装覆膜测量仪，便于与测量探头6进行配合使用，配合安装槽4和螺栓5，方便将覆膜测量仪以及测量探头6与支架1和滑杆3进行安装，提高使用的便捷性。
[0026]本实施例中，夹座15与T形槽13之间设有T形块，丝杆14与T形块螺纹连接。
[0027]T形块能够起到滑动连接的作用，使得丝杆14转动的时候能够推动夹座15移动。
[0028]本实施例中，夹座15呈中空式结构，且夹座15设有两个，两个夹座15对称设置。
[0029]中空式结构的夹座15，能够便于贯穿覆层测量仪与测量探头6之间的导线。
[0030]需要说明的是，本技术为一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置，在使用时，将覆层测量仪放置到安装座12的后部位于两个夹座15之间，然后转动丝杆14，丝杆14带动两个夹座15同时以相对的方向移动，从而将覆层测量仪夹持固定，将覆层测量仪的导线贯穿夹座15后与测量探头6连接，将封片2接触在工件表面，然后施力按压压柄8，压柄8推动滑杆3通过滑槽9滑动，同时弹簧10受力收缩，使得测量探头6接触到工件、设备表面，进行氧化膜的厚度测量工作，当压柄8失去压力的时候，弹簧10扩张，推动压柄8和滑杆3复位，使得测量探头6复位。
[0031]本技术通过设置限位结构7，在测量氧化膜厚度的时候，将封片2接触在工件表面，然后施力按压本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置，其特征在于：包括支架(1)，所述支架(1)的底端安装有封片(2)，所述支架(1)的外部设有滑杆(3)，所述滑杆(3)的中心位置设有安装槽(4)，所述安装槽(4)的外部螺纹连接有螺栓(5)，所述安装槽(4)的内侧通过螺栓(5)安装有测量探头(6)，所述支架(1)与滑杆(3)之间设有限位结构(7)，所述支架(1)的后部设有安装结构(11)。2.根据权利要求1所述的一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置，其特征在于：所述限位结构(7)包括有压柄(8)、滑槽(9)和弹簧(10)，所述压柄(8)贯穿在支架(1)的顶端，所述滑槽(9)开设在支架(1)的内部，所述弹簧(10)连接在封片(2)的上部位于滑槽(9)的内侧。3.根据权利要求2所述的一种具有限位结构的氧化膜厚度测量装置，其特征在于：所述滑杆(3)与滑槽(9)滑动连接，...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖高磊，陈文鹏，万浚，
申请(专利权)人：深圳市飞航精工科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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