一种测试探针自动变距方法、系统、设备及介质技术方案

本发明专利技术提供了电池测试设备技术领域的一种测试探针自动变距方法、系统、设备及介质，方法包括如下步骤：步骤S10、PLC控制各探针块复位，并分别为各测试探针设定一探针编号；步骤S20、基于锂电池组的电池型号，控制各探针块联动测试探针分别移动到一巴片的正上方；步骤S30、PLC将各测试探针的探针位置、探针编号以及电池型号写入探针块携带的RFID芯片内；步骤S40、PLC控制各探针块复位，基于所述电池型号从RFID芯片读取对应的探针位置以及探针编号，进而控制各测试探针进行自动变距。本发明专利技术的优点在于：极大的提升了测试探针变距效率。极大的提升了测试探针变距效率。极大的提升了测试探针变距效率。

A method, system, equipment and medium for automatic distance variation of test probe

【技术实现步骤摘要】
一种测试探针自动变距方法、系统、设备及介质


[0001]本专利技术涉及电池测试设备
，特别指一种测试探针自动变距方法、系统、设备及介质。

技术介绍

[0002]随着新能源的兴起和发展，锂电池作为绿色高能化学电源，具有高能量、高功率、低成本等优点，在新能源行业中得到广泛的应用。为了保障锂电池使用的安全性，出厂前需要对锂电池进行一系列的测试。
[0003]在对锂电池组进行测试前，需要将测试设备上的探针块上的测试探针与锂电池组的巴片进行抵接，而一个锂电池组具有多个巴片，因此需要多根测试探针分别进行抵接。由于不同款式的锂电池组的巴片位置不同，因此更换不同款式的锂电池组进行测试时，需要调整各测试探针的间距。
[0004]针对测试探针间距的调整，传统上采用人工移动探针块进而联动测试探针的方法，传统的方法由于需要人工手动操作，导致间距调整效率低下，进而影响锂电池组的测试效率。因此，如何提供一种测试探针自动变距方法、系统、设备及介质，实现提升测试探针变距效率，成为一个亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术要解决的技术问题，在于提供一种测试探针自动变距方法、系统、设备及介质，实现提升测试探针变距效率。
[0006]第一方面，本专利技术提供了一种测试探针自动变距方法，包括如下步骤：
[0007]步骤S10、PLC控制各探针块复位，并分别为各测试探针设定一探针编号；
[0008]步骤S20、基于锂电池组的电池型号，控制各探针块联动测试探针分别移动到一巴片的正上方；
[0009]步骤S30、PLC将各测试探针的探针位置、探针编号以及电池型号写入探针块携带的RFID芯片内；
[0010]步骤S40、PLC控制各探针块复位，基于所述电池型号从RFID芯片读取对应的探针位置以及探针编号，进而控制各测试探针进行自动变距。
[0011]进一步地，所述步骤S10具体为：
[0012]PLC通过伺服驱动器驱动丝杆，进而通过丝杆联动各探针块复位，并分别为各探针块安装的测试探针设定一探针编号。
[0013]进一步地，所述步骤S20具体为：
[0014]PLC基于锂电池组的电池型号，通过伺服驱动器驱动丝杆，进而通过丝杆控制各探针块联动测试探针分别移动到一巴片的正上方。
[0015]进一步地，所述步骤S30具体为：
[0016]PLC通过伺服驱动器获取丝杆的转动行程，进而计算得到各测试探针的探针位置，
将所述探针位置、探针编号以及电池型号进行绑定后写入探针块携带的RFID芯片内。
[0017]第二方面，本专利技术提供了一种测试探针自动变距系统，包括如下模块：
[0018]探针块复位模块，用于PLC控制各探针块复位，并分别为各测试探针设定一探针编号；
[0019]测试探针初始位置设定模块，用于基于锂电池组的电池型号，控制各探针块联动测试探针分别移动到一巴片的正上方；
[0020]RFID芯片数据写入模块，用于PLC将各测试探针的探针位置、探针编号以及电池型号写入探针块携带的RFID芯片内；
[0021]自动变距模块，用于PLC控制各探针块复位，基于所述电池型号从RFID芯片读取对应的探针位置以及探针编号，进而控制各测试探针进行自动变距。
[0022]进一步地，所述探针块复位模块具体为：
[0023]PLC通过伺服驱动器驱动丝杆，进而通过丝杆联动各探针块复位，并分别为各探针块安装的测试探针设定一探针编号。
[0024]进一步地，所述测试探针初始位置设定模块具体为：
[0025]PLC基于锂电池组的电池型号，通过伺服驱动器驱动丝杆，进而通过丝杆控制各探针块联动测试探针分别移动到一巴片的正上方。
[0026]进一步地，所述RFID芯片数据写入模块具体为：
[0027]PLC通过伺服驱动器获取丝杆的转动行程，进而计算得到各测试探针的探针位置，将所述探针位置、探针编号以及电池型号进行绑定后写入探针块携带的RFID芯片内。
[0028]第三方面，本专利技术提供了一种测试探针自动变距设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现第一方面所述的方法。
[0029]第四方面，本专利技术提供了一种测试探针自动变距介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现第一方面所述的方法。
[0030]本专利技术实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
[0031]通过在探针块上设置RFID芯片，再各探针块复位后，基于锂电池组的电池型号移动探针块，进而联动测试探针分别移动到一巴片的正上方，再将各测试探针对应的探针位置、探针编号以及电池型号写入RFID芯片内，后续测试探针需要进行变距时，只需先对探针块进行复位，再基于电池型号从RFID芯片读取对应的探针位置以及探针编号，进而控制各测试探针进行自动变距，无需像传统上人工手动操作，最终极大的提升了测试探针变距效率。
[0032]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。
附图说明
[0033]下面参照附图结合实施例对本专利技术作进一步的说明。
[0034]图1是本专利技术一种测试探针自动变距方法的流程图。
[0035]图2是本专利技术一种测试探针自动变距系统的结构示意图。
[0036]图3是本专利技术一种测试探针自动变距设备的结构示意图。
[0037]图4是本专利技术一种测试探针自动变距介质的结构示意图。
具体实施方式
[0038]本申请实施例通过提供一种测试探针自动变距方法、系统、设备及介质，实现提升测试探针变距效率。
[0039]本申请实施例中的技术方案，总体思路如下：对各探针块复位后，基于电池型号移动探针块进而联动测试探针分别移动到一巴片的正上方，再将各测试探针对应的探针位置、探针编号以及电池型号写入RFID芯片内，后续只需先对探针块进行复位，再基于电池型号从RFID芯片读取对应的探针位置以及探针编号即可进行自动变距，以提升测试探针变距效率。
[0040]实施例一
[0041]本实施例提供一种测试探针自动变距方法，如图1所示，包括如下步骤：
[0042]步骤S10、PLC控制各探针块复位，并分别为各测试探针设定一唯一的探针编号；
[0043]步骤S20、基于锂电池组的电池型号，控制各探针块联动测试探针分别移动到一巴片的正上方；不同电池型号的锂电池组对应不同的巴片间距；
[0044]步骤S30、PLC将各测试探针的探针位置、探针编号以及电池型号写入探针块携带的RFID芯片内；后续PLC可基于电池型号精准控制各探针块进行移动，即自动进行测试探针的变距，以实现快速换型，提高生产效率；
[0045]步骤S40、P本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试探针自动变距方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤S10、PLC控制各探针块复位，并分别为各测试探针设定一探针编号；步骤S20、基于锂电池组的电池型号，控制各探针块联动测试探针分别移动到一巴片的正上方；步骤S30、PLC将各测试探针的探针位置、探针编号以及电池型号写入探针块携带的RFID芯片内；步骤S40、PLC控制各探针块复位，基于所述电池型号从RFID芯片读取对应的探针位置以及探针编号，进而控制各测试探针进行自动变距。2.如权利要求1所述的一种测试探针自动变距方法，其特征在于：所述步骤S10具体为：PLC通过伺服驱动器驱动丝杆，进而通过丝杆联动各探针块复位，并分别为各探针块安装的测试探针设定一探针编号。3.如权利要求1所述的一种测试探针自动变距方法，其特征在于：所述步骤S20具体为：PLC基于锂电池组的电池型号，通过伺服驱动器驱动丝杆，进而通过丝杆控制各探针块联动测试探针分别移动到一巴片的正上方。4.如权利要求1所述的一种测试探针自动变距方法，其特征在于：所述步骤S30具体为：PLC通过伺服驱动器获取丝杆的转动行程，进而计算得到各测试探针的探针位置，将所述探针位置、探针编号以及电池型号进行绑定后写入探针块携带的RFID芯片内。5.一种测试探针自动变距系统，其特征在于：包括如下模块：探针块复位模块，用于PLC控制各探针块复位，并分别为各测试探针设定一探针编号；测试探针初始位置设定模块，用于基于锂电池组的电池型号，控制各探针块联...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘作斌，张峰君，张飞，林诗田，
申请(专利权)人：福建星云电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：