一种用于在机检测的测量路径规划方法技术

本发明专利技术属于在机检测领域，具体涉及一种用于在机检测的测量路径规划方法，本方法包括：获取测量轨迹衔接点信息，获取机床结构信息及各运动轴速度信息，将衔接点位置信息转化为机床运动轴位置信息，确定两衔接点各运动轴所需运动时间的函数，计算任意两衔接点之间真实运动时间，求解最优测量路径。本发明专利技术以测量时间为约束条件计算测量路径，同时考虑了旋转轴的运动问题，相对于路径最短的轨迹规划方法，能够更加显著的提升测量轨迹规划质量，提高测量效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于在机检测的测量路径规划方法


[0001]本专利技术属于在机检测领域，具体涉及一种用于在机检测的测量路径规划方法。

技术介绍

[0002]在机检测能够在不拆卸工件的条件下完成对零件尺寸的测量，从而避免二次装夹带来安装误差、薄壁零件变形、测量效率损失等问题，提高测量质量与测量效率，在航空制造业中得到了越来越广泛的应用。
[0003]当前，在机检测主要测量对象为点特征与孔特征，此类特征的测量轨迹相对固定，一般由测量软件自动处理，不需要进行轨迹规划。但特征之间的测量顺序通常不在测量软件的自动处理范围之内，基本由工艺人员自行决定，不当的测量轨迹将会造成机床空行程增加，造成测量效率损失。因此，合理规划各测量特征之间的测量轨迹，可以提高在机检测的测量效率，具有显著的经济效益。
[0004]目前，在确定测量特征之间的测量轨迹方面，主要有以下两种做法：一是直接使用测量特征的自然顺序进行轨迹串联，此方法不对测量轨迹进行额外的规划，而仅仅沿用测量内容的先后顺序进行测量，其测量轨迹的质量与测量效率均得不到保障；二是按测量轨迹最短的路径作为测量路本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于在机检测的测量轨迹规划方法，其特征在于：包括如下步骤，s1获取测量轨迹衔接点信息集合P；s2获取机床结构信息及各运动轴速度信息v
Lm
；s3将衔接点位置信息集合P根据机床结构信息与，转化为机床运动轴位置信息集合Q；s4根据机床各运动轴速度信息，确定机床运动轴位置信息集合Q中任意两元素q
i
，q
j
之间各轴所需运动时间的函数f
tm
(i,j)；s5获取Q中任意两元素q
i
，q
j
之间的真实运动时间f
t
(i,j)；s6以运动时间最短为约束条件求解最优测量路径。2.根据权利要求1所述的一种用于在机检测的测量轨迹规划方法，其特征在于：s1中轨迹衔接点信息集合P中各元素由一对位姿数据构成，即p
i
＝(p
is
,p
ie
)，其中，p
is
为单个特征测量轨迹的起始点，p
ie
为单个特征测量轨迹的终止点，其中，为衔接点起始位置坐标，为衔接点起始位置法矢；为衔接点终止位置坐标，为衔接点终止位置法矢。3.根据权利要求2所述的一种用于在机检测的测量轨迹规划方法，其特征在于：s3中的机床运动轴位置信息集合Q中各元素由一对位姿数据构成，即q
i
＝(q
is
,q
ie
)，其中，q
is
与p
is
对应，q
ie
与p
ie
对应。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：张桂，章绍昆，罗晓彦，赵国波，王鹏程，李卫东，罗捷，杜强，
申请(专利权)人：成都飞机工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：