基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法、设备技术

本发明专利技术公开了基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法、设备，属于超声无损探测技术领域，包括步骤：在对结构表面的多种形状减薄缺陷进行超声横波探测时，通过检测减薄缺陷起始位置点的反射叠加波幅值，实现减薄缺陷起始点的精确定位。本发明专利技术提高对减薄缺陷所在位置的识别精度，从而为结构的安全评估提供最准确的基准数据和评价依据。最准确的基准数据和评价依据。最准确的基准数据和评价依据。

【技术实现步骤摘要】
基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法、设备


[0001]本专利技术涉及超声无损探测
，更为具体的，涉及一种基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法、设备。

技术介绍

[0002]利用超声横波对结构缺陷进行探测识别是无损检测的重要方法之一，具有非接触测量、对缺陷识别的准确度高、实时性好等优点。
[0003]如图1所示，在航空航天、能源化工等领域，长时间的高温氧化、流体高速冲刷等因素导致结构表面产生厚度减薄缺陷，一定程度上给设备的正常运行带来安全隐患。传统超声方法对结构表面减薄缺陷进行所处位置的确定时，通常利用来自减薄位置处和未减薄位置处的超声回波存在声时差来大致粗略确定减薄缺陷位置，并未对结构表面减薄缺陷到底是从哪个位置开始出现的（即减薄缺陷的起始点）提出相应精度较高的检测方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法、设备，提高对减薄缺陷所在位置的识别精度，从而为结构的安全评估提供最准确的基准数据和评价依据等。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，包括步骤：在对结构表面的多种形状减薄缺陷进行超声横波探测时，通过检测减薄缺陷起始点的反射叠加波幅值来对减薄缺陷起始点的精确定位。2.一种基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，包括步骤：在对结构表面的多种形状减薄缺陷进行超声横波探测时，通过检测减薄缺陷起始点的反射叠加波幅值来对减薄缺陷起始点的精确定位。3.根据权利要求1所述的基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，所述多种形状包括矩形、椭圆形、三角形。4.根据权利要求1所述的基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，所述在对结构表面的多种形状减薄缺陷进行超声横波探测包括使用超声C扫描的方法。5.根据权利要求1所述的基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，所述结构表面所处的环境包括常温环境和高温环境。6.根据权利要求4所述的基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，所述超声C扫描的方法包括如下子步骤：S1，在结构表面产生减薄缺陷位置的上方范围内进行超声C首轮粗扫描；S2，在完成首轮粗扫描后，缩小超声C扫描范围，细化减小扫描步长，以此类推进行细扫描；S3，当结构表面的减薄缺陷位置...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔悦，魏东，杜雁霞，向静，童福林，肖光明，石友安，桂业伟，
申请(专利权)人：中国空气动力研究与发展中心计算空气动力研究所，
类型：发明
国别省市：