一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法及系统技术方案

技术编号:34081601 阅读:36 留言:0更新日期:2022-07-11 19:00
本发明专利技术公开了一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法及系统,节省了对位工艺中的预对位环节,直接从从来料过渡到精对位环节,有效降低了机台该工艺工位的机台成本,提高该工艺的运行效率,由此对位套件硬件预计可节约成本20%

【技术实现步骤摘要】
一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法及系统


[0001]本专利技术涉及机器视觉
,具体涉及一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法及系统。

技术介绍

[0002]对位是现代工业生产中,器件精密装配这个环节的一个专业名称,其典型应用如,以手机生产为典型代表的各种柔性或刚性器件的安装。其具体实现过程是,将位置A的物体1与位置B的物体2安装在一起,在此安装过程中,需要对物体1或物体2的水平,竖直或旋转方向有调整。实现对位功能好坏的一个关键环节在于,是否可以获得上述物体1和物体2的精确位置。为了实现位置的精确调整,工作中将会通过视觉对位系统对物体进行拍摄,并指导实现整个对位过程。
[0003]在常见的对位过程中,一般采用“预对位”和“精对位”两个工艺步骤来完成整个对位过程,“预对位”主要负责将摆放位置较为分散的工件做初步的调整,“精对位”则在“预对位”初步调整基础上完成最终的高精度对位工作。这两个工艺步骤中主要特点如下:(1)预对位前工件位置放置的比较分散,分布区域相对较广,区域大了之后,配套的照明光源的照明范围和光照稳定性要求也本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法,其特征在于,包括:获取第一目标物体在第一平台上的图像作为第一目标图像;根据所述第一目标图像计算所述第一目标物体相对于基准位置的偏移数据作为第一偏移数据;根据所述第一偏移数据将第二目标物体与所述第一目标物体对位。2.根据权利要求1所述的一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法,其特征在于,根据所述第一目标图像计算所述第一目标物体相对于基准位置的第一偏移数据包括:从所述第一目标图像中获取所述第一目标物体在第一平台上的第一预设定位位置;根据所述第一预设定位位置确定第一搜索区域的初始值,并确定所述第一搜索区域;在所述第一搜索区域内搜索第一特征图像,并根据第一基准模板图像计算所述第一特征图像的第一偏移数据。3.根据权利要求2所述的一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法,其特征在于,根据第一基准模板图像计算所述第一特征图像的第一偏移数据包括:根据所述第一基准模板图像与所述第一特征图像之间的水平差异计算水平偏移数据;根据所述第一基准模板图像与所述第一特征图像之间的竖向差异计算竖向偏移数据;根据所述第一基准模板图像与所述第一特征图像之间的角度差异计算角度偏移数据;将所述水平偏移数据、所述竖向偏移数据和所述角度偏移数据作为所述第一偏移数据。4.根据权利要求1所述的一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法,其特征在于,根据所述第一偏移数据将第二目标物体与所述第一目标物体对位包括:根据所述第一偏移数据调节所述第一平台的位置至所述第一目标物体匹配于所述基准位置;控制机械手将所述第二目标物体根据对应所述基准位置的预设方位放置于所述第一目标物体上完成对位。5.根据权利要求1所述的一种融合目标检测和模板匹配的高精度对位方法,其特征在于,所述第二目标物体放置于第二平台上;根据所述第一偏移数据将第二目标物体与所述第一目标物体对位包括:获取第二目标物体在第二平台上的图像作为第二目标图像;根据所述第二目标图像计算所述第二目标物体相对于基准位置的偏移数据作为第二偏移数据;根据所述第一偏移数据调节所述第一平台的位置至所述第一目标物体匹配于所述基准位置,并根据第二偏移数据调节所述第二平台的位置至所述第二目标物体匹配于所述基准位置;根据对应所述基准位置的预设方位调整所述第一平台和所述第二平台的相对位置完成所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员:虞建王盼曾东王亚宁陈少俊张勇刘中
申请(专利权)人:成都新西旺自动化科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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