一种光学粉尘测量暗室结构制造技术

本实用新型专利技术提供一种光学粉尘测量暗室结构，属于测量设备技术领域。本实用新型专利技术包括箱体，箱体上部分一侧设置有进气口，进气口内部设置有激光器，激光器与进气口开口方向呈反向设置，箱体上与进气口相对的一侧设置有光穴，光穴下方设置有排气口，箱体内部与排气口位置对应处设置有导流板，箱体上方设置有光电倍增管，光电倍增管与箱体内部连通，本实用新型专利技术有效避免了探测仪器被粉尘污染的问题，提高了探测仪器的探测精度，延长了使用寿命，且结构简单，操作简便。操作简便。操作简便。

【技术实现步骤摘要】
一种光学粉尘测量暗室结构


[0001]本技术涉及一种光学粉尘测量暗室结构，属于测量设备


技术介绍

[0002]现有的粉尘质量浓度的测量的光散色法的难点在于光学检测暗室，现有检测暗室光学探测器直接接触含尘气流，光学探测器容易被粉尘污染，难于清理，暗室结构复杂清理积灰难等问题，容易造成测量不准确，甚至无法使用，必须定期进行灰尘清理工作。

技术实现思路

[0003]鉴于以上所述现有技术的缺点，本技术的目的在于提供一种光学粉尘测量暗室结构，用于解决现有技术中现有的光学检测暗室结构复杂，清理积灰困难，光学探测器容易被粉尘污染的问题。
[0004]为实现上述目的及其他相关目的，本技术提供一种光学粉尘测量暗室结构包括：箱体，所述箱体上部分一侧设置有进气口，进气口内部设置有激光器，激光器与进气口开口方向呈反向设置，箱体上与进气口相对的一侧设置有光穴，光穴下方设置有排气口，箱体内部与排气口位置对应处设置有导流板，箱体上方设置有光电倍增管，光电倍增管与箱体内部连通，光电倍增管与箱体连接处设置有滤光镜，箱体下方开设有排污口。
[0005]于本技术的一实施例中，所述导流板倾斜设置在箱体内部，所述排气口与导流板的斜面正对。
[0006]于本技术的一实施例中，所述光电倍增管通过支架可拆卸安装在箱体上方。
[0007]于本技术的一实施例中，所述支架底部设有水平连接板，所述箱体的顶部设有连接耳板，所述滤光镜设置于水平连接板与连接耳板之间，所述水平连接板与连接耳板之间通过螺栓连接。
[0008]于本技术的一实施例中，所述进气口设置为扩口状。
[0009]如上所述，本技术的一种光学粉尘测量暗室结构，具有以下有益效果：
[0010]本技术中在箱体上设置了排污口，光电倍增管与箱体之间采用滤光镜隔开，光电倍增管的探测窗口不受含尘气流的影响，激光器与进气口开口方向呈反向设置，灰尘也不会进入激光器的反射窗，导流板能够对含尘气流进行导流，排污口方便将暗室内积尘排出，有效避免了探测仪器被粉尘污染的问题，提高了探测仪器的探测精度，延长了使用寿命，且结构简单，操作简便。
附图说明
[0011]图1显示为本技术实施例中一种光学粉尘测量暗室结构的剖视结构示意图。
[0012]其中，1、排气口；2、导流板；3、光穴；4、激光；5、滤光镜；6、光电倍增管；7、激光器；8、进气口；9、排污口；10、箱体。
具体实施方式
[0013]以下由特定的具体实施例说明本技术的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本技术的其他优点及功效。
[0014]请参阅图1。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本技术可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更
技术实现思路
下，当亦视为本技术可实施的范畴。
[0015]请参阅图1，本技术提供一种光学粉尘测量暗室结构包括：箱体10，所述箱体10上部分一侧设置有进气口8，进气口8内部设置有激光器7，激光器7与进气口8开口方向呈反向设置，箱体10上与进气口8相对的一侧设置有光穴3，光穴3下方设置有排气口1，箱体10内部与排气口1位置对应处设置有导流板2，导流板2倾斜设置在箱体10内部，排气口1与导流板2的斜面正对，箱体10上方设置有光电倍增管6，光电倍增管6通过支架可拆卸安装在箱体10上方，支架底部设有水平连接板，箱体10的顶部设有连接耳板，所述滤光镜5设置于水平连接板与连接耳板之间，水平连接板与连接耳板之间通过螺栓连接，光电倍增管6与箱体10内部连通，光电倍增管6与箱体10连接处设置有滤光镜5，箱体10下方开设有排污口9。
[0016]一种光学粉尘测量暗室结构的工作原理是：含尘气流惊进气口8进入箱体内部，进气口8内部的激光器7发射激光4，激光4穿过箱体10内部进入光穴3中，含尘气体流动过程中经过激光4，光电倍增管6接收含尘气流反射的光强度，反映出含尘气流中粉尘的含量，然后含尘气体经导流板2的导流从排气口1中排出，箱体10内部积聚的灰尘经排污口9排出。
[0017]综上所述，本技术中在箱体上设置了排污口，光电倍增管与箱体之间采用滤光镜隔开，光电倍增管的探测窗口不受含尘气流的影响，激光器与进气口开口方向呈反向设置，灰尘也不会进入激光器的反射窗，导流板能够对含尘气流进行导流，排污口方便将暗室内积尘排出，有效避免了探测仪器被粉尘污染的问题，提高了探测仪器的探测精度，延长了使用寿命，且结构简单，操作简便。所以，本技术有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
[0018]上述实施例仅例示性说明本技术的原理及其功效，而非用于限制本技术。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本技术的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属
中具有通常知识者在未脱离本技术所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本技术的权利要求所涵盖。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学粉尘测量暗室结构，其特征在于，包括箱体(10)，所述箱体(10)上部分一侧设置有进气口(8)，进气口(8)内部设置有激光器(7)，激光器(7)与进气口(8)开口方向呈反向设置，箱体(10)上与进气口(8)相对的一侧设置有光穴(3)，光穴(3)下方设置有排气口(1)，箱体(10)内部与排气口(1)位置对应处设置有导流板(2)，箱体(10)上方设置有光电倍增管(6)，光电倍增管(6)与箱体(10)内部连通，光电倍增管(6)与箱体(10)连接处设置有滤光镜(5)，箱体(10)下方开设有排污口(9)。2.根据权利要求1所述的一种光学粉尘测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：任茂林，
申请(专利权)人：重庆蓝格科技开发有限公司，
类型：新型
国别省市：