【技术实现步骤摘要】
本专利技术与差动放大器的技术有关，特别是与工作在电阻区的结型场效应晶体管放大器有关。差动放大器在此将作为电表的输入级被描述;但是本专利技术可以应用于其它方面，如测量电压时呈现高输入阻抗的放大器和测量电流时呈现低输入偏压电流或泄放电流的放大器。差动放大器经常用于测量电压和电流，并且经常用在电表的输入级。人们在技术上对于电表已十分了解，它通常主要用来测量直流电压和电流，而且还包括许多参数的扩展测量，如电阻或页载的测量。对于电压的测量，该仪表的显著特点是具有高输入电阻，其典型值在103到1015欧姆之间。这对于用普通数字伏特计(DVM)在可能引起过载的情况下测量具有高串连电阻电源的电压来说是重要的。例如测量电化学电动势或PH值时，电表要有高输入电阻。当电表用于测量电流时，它应呈现非常低的输入偏压电流(泄放电流)，因为电表的微微安培档的电流分辨能力可以在fA(10-15A或aA10-18A)的范围内。电表微微安培档的主要用途是靠跨接在与微微安培计串联的电阻上的外加电压来测量非常高的电阻，其阻值在1012到1016欧姆。为了使电表的输入级具有高输入阻抗和低泄放电流，通常使用的...
【技术保护点】
ＪＦＥＴ差动放大器，包括：第一和第二ＪＦＥＴ晶体管，其漏极连接在一起，第一和第二电阻器，它们分别连接到上述晶体管的源极并汇成一个结点，一个连接到上述晶体管栅极的输入电路和一个连接到上述晶体管源极的输出电路。为了通过上述电阻器给上述源极加偏置，对上述结点提供直流偏置电压Ｖ↓［ＳＳ］的装置，提供一直流漏极偏压Ｖ↓［ＤＤ］至所说共同连接的漏极的装置，其特征是：上述偏置电压供给装置提供选定数值的电压，以使上述ＪＦＥＴ晶体管工作在漏电流Ｉ↓［Ｄ］一漏源电压Ｖ↓［ＤＳ］特性曲线的电阻区，由此作为电压控制的电阻器，其阻值随栅一源电压Ｖ↓［ＧＳ］的大小而变化。
【技术特征摘要】
所定义的。CPEL85542786.11.2985106483勘误表 勘误表权利要求1.JFET差动放大器，包括第一和第二JFET晶体管，其漏极连接在一起，第一和第二电阻器，它们分别连接到上述晶体管的源极并汇成一个结点，一个连接到上述晶体管栅极的输入电路和一个连接到上述晶体管源极的输出电路。为了通过上述电阻器给上述源极加偏置，对上述结点提供直流偏置电压VSS的装置，提供一直流漏极偏压VDD至所说共同连接的漏极的装置，其特征是上述偏置电压供给装置提供选定数值的电压，以使上述JFET晶体管工作在漏电流ID一漏源电压VDS特性曲线的电阻区，由此作为电压控制的电阻器，其阻值随栅一源电压VGS的大小而变化。2.如权利要求1中所...
【专利技术属性】
技术研发人员：肯尼思艾伦赖德尔，托马斯约瑟梅戈，
申请(专利权)人：基思利仪器公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。