【技术实现步骤摘要】
一种用于检测线路板过孔CAF失效性的测试方法
[0001]本专利技术涉及电子产品检测
,尤其涉及一种用于检测线路板过孔CAF失效性的测试方法。
技术介绍
[0002]近年来,随着电子产品向着轻、薄、短、小和多功能化方向发展促使线路板上的线路设计趋于密集化,精细化,电路集成密度越来越高,孔间距越来越小。这使得印制电路板对过孔的可靠性要求也相应提高,特别在汽车电子领域中,对耐高温高湿环境的要求较高。往往线路板过孔设计的不合理,将会容易导致出现孔铜断层或断裂等不良缺陷现象。如果线路板的过孔出现CAF(Conductive Anodic Filament,导电阳极丝、阳极性玻纤维漏电),将会影响到整个产品的性能,严重地会影响到汽车安全功能。因此,需要一种CAF失效测试方法,得到退化失效的测试数据,从而推算出失效和退化时间,来提高产品的可靠性。
技术实现思路
[0003]本专利技术公开一种用于检测线路板过孔CAF失效性的测试方法,用于解决现有技术中,线路板过孔的不良现象影响产品可靠性的问题。
[0004] ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种线路板过孔CAF失效性测试方法,其特征在于,包括:提供一个测试板,所述测试板一端设有至少两个焊盘,用于与电阻测试仪连接,另一端设有多个过孔,所述过孔之间通过走线连接;所述测试板的过孔大小、所述过孔的间距、所述走线的宽度,与待测试的线路板的过孔大小、过孔间距、走线宽度相同;测量所述测试板的过孔电阻值,为初始电阻值;将所述测试板放入冷热冲击实验设备,并采用第一温度和第二温度循环实验;取出所述测试板,放置室温下静置;使用电阻测试仪测量所述测试板的过孔电阻值,为实验电阻值;计算所述实验电阻值和所述初始电阻值的变化率;若所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率不低于设定阈值,结束测试,推算失效时间;若所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率小于设定阈值,再次将所述测试板放入冷热冲击实验设备,并采用所述第一温度和第二温度循环,并取出所述测试板,放置室温下静置,再次测试所述实验电阻值,直至测试的所述实验电阻值与所述初始电阻值的变化率不低于设定阈值,结束测试,推算失效时间。2.根据权利要求1所述的线路板过孔CAF失效性测试方法,其特征在于,所述第一温度为100~150℃,所述第二温度为
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50~
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30℃。3.根据权利要求1所述的线路板过孔CAF失效性测试方法,其特征在于,每次所述测试板放入冷热冲击实验设备后,所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐小古,
申请(专利权)人:信利光电股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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