工业系统控制方法、装置及非易失性存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种工业系统控制方法、装置及非易失性存储介质。其中，该方法包括：确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标，当前测量值为采集时间点距离当前时间点最近的测量值；依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；依据优化后的控制器参数，控制工业系统的工作状态。本发明专利技术解决了由于现有技术不能在振荡周期不断变化的情况下确定目标指标的振荡特征造成的无法实现工业系统的快速稳定的技术问题。现工业系统的快速稳定的技术问题。现工业系统的快速稳定的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
工业系统控制方法、装置及非易失性存储介质


[0001]本专利技术涉及自动化领域，具体而言，涉及一种工业系统控制方法、装置及非易失性存储介质。

技术介绍

[0002]各类工业系统的稳定运行离不开对关键工艺指标的稳定控制，生产扰动会造成指标偏离，一般可采取PID、MPC等控制手段进行修正。但是如果扰动是周期性的，或者由于控制参数设置不合理，扰动激发了控制输出上下振荡，则工艺指标也会出现周期性波动。目前现有技术对于检测预定周期的振荡比较有效，但工艺指标的振荡周期常常是多变的，现有技术不能实现宽频普覆盖。
[0003]针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种工业系统控制方法、装置及非易失性存储介质，以至少解决由于现有技术不能在振荡周期不断变化的情况下确定目标指标的振荡特征造成的无法实现工业系统的快速稳定的技术问题。
[0005]根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种工业系统控制方法，包括：确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标，当前测量值为采集时间点距离当前时间点最近的测量值；依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；依据优化后的控制器参数，控制工业系统的工作状态。
[0006]可选地，依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据包括：依据当前测量值或历史测量值确定基准值；确定历史测量值的预设数量，其中，预设数量为确定目标工艺指标的振幅特征数据时使用的历史测量值的数量；依次读取历史测量值，直到预设数量的历史测量值读取完毕，并在每次读取历史测量值后，计算当前测量值和历史测量值的差值，以及差值的差值绝对值；依据差值和差值绝对值，确定目标工艺指标的振幅特征数据。
[0007]可选地，依据当前测量值或历史测量值确定基准值包括：将当前测量值作为基准值；以及，将历史测量值的平均值作为基准值。
[0008]可选地，依据差值和差值绝对值，确定目标工艺指标的振幅特征数据包括：在每次计算当前测量值和历史测量值的差值之后，计算当前测量值和历史测量值的差值累计值，其中，差值累计值等于历次当前测量值与历史测量值的差值之和；以及，在每次计算当前测量值和历史测量值的差值的差值绝对值之后，计算当前测量值和历史测量值的差值绝对值的累计值，其中，差值绝对值的累计值等于历次测量值与历史测量值的差值之和；依据差值累计值和差值绝对值的累计值，确定目标工艺指标的振幅特征数据。
[0009]可选地，依据差值累计值和差值绝对值的累计值，确定目标工艺指标的振幅特征数据包括：在每次得到差值累计值和差值绝对值的累积值后，依据差值累计值的绝对值，差值绝对值的累计值以及当前已读取的历史测量值的累积数量，计算目标工艺指标的平均振幅；从计算得到的多个平均振幅中确定最大平均振幅，并将最大平均振幅作为目标工艺指标的振幅特征数据。
[0010]可选地，依据差值累计值和差值绝对值的累计值，确定目标工艺指标的振幅特征数据包括：在读取了预设数量个历史测量值后，依据本次读取历史测量值时计算得到的差值累计值的绝对值，差值绝对值的累积值，以及预设数量计算目标工艺指标的平均振幅，并将平均振幅作为目标工艺指标的振幅特征数据。
[0011]可选地，在确定目标工艺指标的振幅特征数据后，方法还包括：对目标工艺指标的振幅特征数据进行滤波。
[0012]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种工业系统控制装置，包括：处理模块，用于确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标；第一计算模块，用于依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；第二计算模块，用于依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；控制模块，用于依据优化后的目标控制器，控制工业系统的工作状态。
[0013]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种非易失性存储介质，非易失性存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制非易失性存储介质所在设备执行工业系统控制方法。
[0014]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种电子设备，电子设备包括处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行工业系统控制方法。
[0015]在本专利技术实施例中，采用确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，目标工艺指标为工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标，当前测量值为采集时间点距离当前时间点最近的测量值；依据当前测量值和历史测量值，确定目标工艺指标的振幅特征数据；依据振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，目标控制器为控制工业系统工作状态的控制器；依据优化后的控制器参数，控制工业系统的工作状态的方式，通过结合当前测量值和历史测量值共同确定目标工艺指标的振幅特征，达到了在扰动的振荡周期不断变化的情况等下准确确定目标工艺指标的振幅特征的目的，从而实现了在扰动的振荡周期不断变化的情况下保证工业系统的稳定运行的技术效果，进而解决了由于现有技术不能在振荡周期不断变化的情况下确定目标指标的振荡特征造成的无法实现工业系统的快速稳定技术问题。
附图说明
[0016]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0017]图1是根据本专利技术实施例提供的一种工业系统控制方法的流程示意图；
[0018]图2是根据本专利技术实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
[0019]图3是根据本专利技术实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
[0020]图4是根据本专利技术实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
[0021]图5是根据本专利技术实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
[0022]图6是根据本专利技术实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
[0023]图7是根据本专利技术实施例提供的一种目标工艺指标的振幅特征数据确定流程的流程示意图；
[0024]图8是根据本专利技术实施例提供的一种工业系统控制装置的结构示意图。
具体实施方式
[0025]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0026]需要说明的是，本专利技术的说明书和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种工业系统控制方法，其特征在于，包括：确定目标工艺指标的当前测量值和历史测量值，其中，所述目标工艺指标为所述工业系统工作时对应的多项工艺指标中的任意一项工艺指标，所述当前测量值为采集时间点距离当前时间点最近的测量值；依据所述当前测量值和所述历史测量值，确定所述目标工艺指标的振幅特征数据；依据所述振幅特征数据，对目标控制器的控制器参数进行优化，其中，所述目标控制器为控制所述工业系统工作状态的控制器；依据优化后的所述控制器参数，控制所述工业系统的工作状态。2.根据权利要求1所述的工业系统控制方法，其特征在于，依据所述当前测量值和所述历史测量值，确定所述目标工艺指标的振幅特征数据包括：依据所述当前测量值或所述历史测量值确定基准值；确定所述历史测量值的预设数量，其中，所述预设数量为确定所述目标工艺指标的振幅特征数据时使用的所述历史测量值的数量；依次读取所述历史测量值，直到所述预设数量的历史测量值读取完毕，并在每次读取所述历史测量值后，计算所述当前测量值和所述历史测量值的差值，以及所述差值的差值绝对值；依据所述差值和所述差值绝对值，确定所述目标工艺指标的振幅特征数据。3.根据权利要求2所述的工业系统控制方法，其特征在于，依据所述当前测量值或所述历史测量值确定基准值包括：将所述当前测量值作为所述基准值；以及，将所述历史测量值的平均值作为所述基准值。4.根据权利要求2所述的工业系统控制方法，其特征在于，依据所述差值和所述差值绝对值，确定所述目标工艺指标的振幅特征数据包括：在每次计算所述当前测量值和所述历史测量值的差值之后，计算所述当前测量值和所述历史测量值的差值累计值，其中，所述差值累计值等于历次所述当前测量值与所述历史测量值的差值之和；以及，在每次计算所述当前测量值和所述历史测量值的差值的差值绝对值之后，计算所述当前测量值和所述历史测量值的差值绝对值的累计值，其中，所述差值绝对值的累计值等于历次所述测量值与所述历史测量值的差值之和；依据所述差值累计值和所述差值绝对值的累计值，确定所述目标工艺指标的振幅特征数据。5.根据权利要求4...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘双刚，史国芳，叶蓬，古勇，陆海琛，张军，陈应书，王勇，郑群辉，魏捷，马越峰，刘金刚，韩斌，
申请(专利权)人：浙江中控技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：