X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元制造方法及图纸

技术编号:34003940 阅读:27 留言:0更新日期:2022-07-02 12:52
本发明专利技术提供一种X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元,该X射线摄像装置具备X射线照射部、X射线检测部、能够在支承X射线照射部的状态下移动的移动机构部、设置于X射线照射部和X射线检测部中的任一方,通过光学地检测设置于另一方的特征点来获取特征点的位置的光学式特征点获取部、基于特征点的位置来获取X射线照射部与X射线检测部的相对位置的位置偏移的位置偏移获取部、以及进行基于位置偏移的通知的通知部。位置偏移的通知的通知部。位置偏移的通知的通知部。

【技术实现步骤摘要】
X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元


[0001]本专利技术涉及一种X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元,尤其涉及一种探测X射线照射部与X射线检测部的相对位置的位置偏移的X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元。

技术介绍

[0002]以往,已知一种探测X射线照射部与X射线检测部的相对位置的位置偏移的X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元。例如在日本特表2013

523396号公报中公开了这样的X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元。
[0003]日本特表2013

523396号公报所公开的放射线照相摄影装置具备放射线源、显像器、准直器以及显示装置。另外,在日本特表2013

523396号公报所公开的准直器中设置有传感器元件。另外,在日本特表2013

523396号公报中公开了一种具备用于保持显像器的保持件的结构。另外,保持件保持显像器,并且保持电磁线圈。在日本特表2013
‑<br/>523396本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线摄像装置,具备:X射线照射部,其向被检者照射X射线;X射线检测部,在进行X射线的照射时配置所述X射线检测部,所述X射线检测部用于检测从所述X射线照射部照射来的X射线;移动机构部,其能够在支承所述X射线照射部的状态下移动;光学式特征点获取部,其设置于所述X射线照射部和所述X射线检测部中的任一方,通过光学地检测设置于所述X射线照射部和所述X射线检测部中的另一方的特征点来获取所述特征点的位置;位置偏移获取部,其基于所述光学式特征点获取部获取到的所述特征点的位置来获取所述X射线照射部与所述X射线检测部的相对位置的位置偏移;以及通知部,其进行基于通过所述位置偏移获取部获取到的所述位置偏移的通知。2.根据权利要求1所述的X射线摄像装置,其特征在于,所述特征点设置于所述X射线检测部,所述光学式特征点获取部包括摄像部,所述摄像部设置于所述X射线照射部,所述摄像部通过拍摄所述特征点来获取所述特征点的位置信息。3.根据权利要求2所述的X射线摄像装置,其特征在于,在进行X射线的照射时所述X射线检测部被配置于所述被检者与用于载置所述被检者的顶板之间,所述特征点设置于所述X射线检测部的角部。4.根据权利要求3所述的X射线摄像装置,其特征在于,所述特征点以能够移动至与所述X射线检测部的角部分离规定的距离的位置的方式设置于所述X射线检测部。5.根据权利要求2至4中的任一项所述的X射线摄像装置,其特征在于,所述特征点包括面状标记,所述面状标记包括通过所述摄像部进行识别的三个以上的识别点,在所述X射线检测部设置有至少一个所述面状标记。6.根据权利要求5所述的X射线摄像装置,其特征在于,所述面状标记至少包括印刷出的图形和所述X射线检测部的外形中的任一方。7.根据权利要求2至4中的任一项所述的X射线摄像装置,其特征在于,所述特征点包括点状标记,所述点状标记由通过所述摄像部进行识别的一个识别点构成,在所述X射线检测部设置有至少三个所述点状标记...

【专利技术属性】
技术研发人员:田中真人日比柾宏木下博之
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:

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