X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元，该X射线摄像装置具备X射线照射部、X射线检测部、能够在支承X射线照射部的状态下移动的移动机构部、设置于X射线照射部和X射线检测部中的任一方，通过光学地检测设置于另一方的特征点来获取特征点的位置的光学式特征点获取部、基于特征点的位置来获取X射线照射部与X射线检测部的相对位置的位置偏移的位置偏移获取部、以及进行基于位置偏移的通知的通知部。位置偏移的通知的通知部。位置偏移的通知的通知部。

【技术实现步骤摘要】
X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元


[0001]本专利技术涉及一种X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元，尤其涉及一种探测X射线照射部与X射线检测部的相对位置的位置偏移的X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元。

技术介绍

[0002]以往，已知一种探测X射线照射部与X射线检测部的相对位置的位置偏移的X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元。例如在日本特表2013
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523396号公报中公开了这样的X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元。
[0003]日本特表2013
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523396号公报所公开的放射线照相摄影装置具备放射线源、显像器、准直器以及显示装置。另外，在日本特表2013
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523396号公报所公开的准直器中设置有传感器元件。另外，在日本特表2013
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523396号公报中公开了一种具备用于保持显像器的保持件的结构。另外，保持件保持显像器，并且保持电磁线圈。在日本特表2013
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523396号公报中公开了如下一种结构：通过利用设置于准直器的传感器元件探测从被保持件保持的电磁线圈发出的电磁波，来探测放射线源与显像器之间的位置的偏移。
[0004]然而，如日本特表2013
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523396号公报所公开的那样，在通过传感器元件探测从电磁线圈发出的电磁波的结构中，存在以下问题：由于从配置于放射线照相摄影装置(X射线摄像装置)的附近的电子设备发出的电磁波，而传感器元件对电磁波的探测精度下降。在传感器元件对电磁波的探测精度下降的情况下，存在以下问题：放射线源(X射线照射部)与显像器(X射线检测部)的位置偏移的检测精度下降。

技术实现思路

[0005]专利技术要解决的问题
[0006]本专利技术是为了解决上述的问题而完成的，本专利技术的一个目的在于提供一种能够抑制由于配置于周围的电子设备而X射线照射部与X射线检测部的位置偏移的探测精度下降的X射线摄像装置和X射线摄像装置用位置偏移探测单元。
[0007]用于解决问题的方案
[0008]为了达成上述目的，本专利技术的第一方面的X射线摄像装置具备：X射线照射部，其向被检者照射X射线；X射线检测部，在进行X射线的照射时配置所述X射线检测部，所述X射线检测部用于检测从X射线照射部照射来的X射线；移动机构部，其能够在支承X射线照射部的状态下移动；光学式特征点获取部，其设置于X射线照射部和X射线检测部中的任一方，通过光学地检测设置于X射线照射部和X射线检测部中的另一方的特征点来获取特征点的位置；位置偏移获取部，其基于光学式特征点获取部获取到的特征点的位置，来获取X射线照射部与X射线检测部的相对位置的位置偏移；以及通知部，其进行基于通过位置偏移获取部获取到的位置偏移的通知。
[0009]另外，为了达成上述目的，本专利技术的第二方面的X射线摄像装置用位置偏移探测单
元被用于X射线摄像装置中，所述X射线摄像装置具备：X射线照射部，其向被检者照射X射线；X射线检测部，在进行X射线的照射时配置所述X射线检测部，所述X射线检测部用于检测从X射线照射部照射来的X射线；以及移动机构部，其能够在支承X射线照射部的状态下移动，所述X射线摄像装置用位置偏移探测单元具备：光学式特征点获取部，其设置于X射线照射部和X射线检测部中的任一方，通过光学地检测设置于X射线照射部和X射线检测部中的另一方的特征点来获取特征点的位置；位置偏移获取部，其基于光学式特征点获取部获取到的特征点的位置，来获取X射线照射部与X射线检测部的相对位置的位置偏移；以及通知部，其进行基于通过位置偏移获取部获取到的位置偏移的通知。
[0010]在上述第一方面的X射线摄像装置中，如上所述，具备：光学式特征点获取部，其通过光学地检测特征点来获取特征点的位置；位置偏移获取部，其获取X射线照射部与X射线检测部的相对位置的位置偏移；以及通知部，其进行基于位置偏移的通知。由此，通过利用光学式特征点获取部光学地获取特征点的位置，即使从配置于X射线摄像装置的附近的其它电子设备发出电磁波，也能够通过光学式特征点获取部准确地获取特征点的位置。因而，能够抑制由于从其它电子设备发出的电磁波而获取特征点的位置的精度下降。其结果是，能够提供一种能够抑制由于配置于周围的电子设备而X射线照射部与X射线检测部的位置偏移的探测精度下降的X射线摄像装置。
[0011]另外，上述第二方面的X射线摄像装置用位置偏移探测单元具备：光学式特征点获取部，其通过光学地检测特征点来获取特征点的位置；位置偏移获取部，其获取X射线照射部与X射线检测部的相对位置的位置偏移；以及通知部，其进行基于位置偏移的通知。由此，能够提供一种能够与上述第一方面的X射线摄像装置同样地抑制由于配置于周围的电子设备而X射线照射部与X射线检测部的位置偏移的探测精度下降的X射线摄像装置用位置偏移探测单元。
附图说明
[0012]图1是表示一个实施方式的X射线摄像装置的整体结构的框图。
[0013]图2是表示一个实施方式的X射线摄像装置的整体结构的侧视图。
[0014]图3是表示一个实施方式的X射线摄像装置的摄影时的情形的侧视图。
[0015]图4是用于说明一个实施方式的设置于X射线检测部的特征点的示意图。
[0016]图5是用于说明一个实施方式的位置偏移获取部基于特征点来获取X射线照射部与X射线检测部的位置偏移的结构的示意图。
[0017]图6是用于说明一个实施方式的位置偏移获取部获取X射线照射部的中心的位置的结构的示意图。
[0018]图7是用于说明一个实施方式的位置偏移获取部获取X射线探测部的中心的位置的结构的示意图。
[0019]图8是用于说明一个实施方式的显示部中显示的表示X射线的照射范围的中心的轴线和表示X射线检测部的中心的轴线的示意图。
[0020]图9是用于说明一个实施方式的位置偏移获取部获取X射线照射部与X射线检测部的位置偏移的处理的流程图。
[0021]图10是表示第一变形例的X射线摄像装置的整体结构的框图。
[0022]图11是用于说明第一变形例的位置偏移获取部基于特征点来获取X射线照射部与X射线检测部的位置偏移的结构的示意图。
[0023]图12是用于说明第一变形例的位置偏移获取部获取X射线照射部与X射线检测部的位置偏移的处理的流程图。
[0024]图13是用于说明第二变形例的设置于X射线检测部的特征点的示意图。
[0025]图14是用于说明第三变形例的X射线检测部的结构的示意图。
具体实施方式
[0026](X射线摄像装置的结构)
[0027]参照图1来说明一个实施方式的X射线摄像装置100的结构。
[0028]如图1所示，本实施方式的X射线摄像装置100具备X射线照射部1、X射线检测部2、移动机构部3、位置偏移探测单元4、控制部5、通信部6、存储部7、显示操作部8以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线摄像装置，具备：X射线照射部，其向被检者照射X射线；X射线检测部，在进行X射线的照射时配置所述X射线检测部，所述X射线检测部用于检测从所述X射线照射部照射来的X射线；移动机构部，其能够在支承所述X射线照射部的状态下移动；光学式特征点获取部，其设置于所述X射线照射部和所述X射线检测部中的任一方，通过光学地检测设置于所述X射线照射部和所述X射线检测部中的另一方的特征点来获取所述特征点的位置；位置偏移获取部，其基于所述光学式特征点获取部获取到的所述特征点的位置来获取所述X射线照射部与所述X射线检测部的相对位置的位置偏移；以及通知部，其进行基于通过所述位置偏移获取部获取到的所述位置偏移的通知。2.根据权利要求1所述的X射线摄像装置，其特征在于，所述特征点设置于所述X射线检测部，所述光学式特征点获取部包括摄像部，所述摄像部设置于所述X射线照射部，所述摄像部通过拍摄所述特征点来获取所述特征点的位置信息。3.根据权利要求2所述的X射线摄像装置，其特征在于，在进行X射线的照射时所述X射线检测部被配置于所述被检者与用于载置所述被检者的顶板之间，所述特征点设置于所述X射线检测部的角部。4.根据权利要求3所述的X射线摄像装置，其特征在于，所述特征点以能够移动至与所述X射线检测部的角部分离规定的距离的位置的方式设置于所述X射线检测部。5.根据权利要求2至4中的任一项所述的X射线摄像装置，其特征在于，所述特征点包括面状标记，所述面状标记包括通过所述摄像部进行识别的三个以上的识别点，在所述X射线检测部设置有至少一个所述面状标记。6.根据权利要求5所述的X射线摄像装置，其特征在于，所述面状标记至少包括印刷出的图形和所述X射线检测部的外形中的任一方。7.根据权利要求2至4中的任一项所述的X射线摄像装置，其特征在于，所述特征点包括点状标记，所述点状标记由通过所述摄像部进行识别的一个识别点构成，在所述X射线检测部设置有至少三个所述点状标记...

【专利技术属性】
技术研发人员：田中真人，日比柾宏，木下博之，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：