一种射频测试工装的校准方法技术

一种射频测试工装的校准方法，所述射频测试工装包括测试仪器和屏蔽箱，所述测试仪器具有第一信号接口和第二信号接口，所述屏蔽箱内设有固定台，所述固定台上安装有耦合板，所述屏蔽箱的侧壁上设有第一连接点和第二连接点，所述第二信号接口与所述第二连接点之间通过第三线缆连接，所述第二连接点与所述耦合板之间通过第四线缆连接。该校准方法包括如下步骤：测量出整个回路的线损，测量所述第五线缆的线损，测量出所述第一线缆和所述第二线缆的线损和；计算射频测试工装的线损。采用该校准方法可大幅调高射频测试工装校准的效率，同时大幅降低了成本。大幅降低了成本。大幅降低了成本。

【技术实现步骤摘要】
一种射频测试工装的校准方法


[0001]专利技术涉及电子设备生产制造及测试领域，具体涉及一种射频测试工装的校准方法。

技术介绍

[0002]在射频产品的研发和生产过程中，对射频产品的相关参数(如发射功率、频率误差、相位误差、接收灵敏度等)进行测试的步骤是必不可少。现有技术中是通过综合测试仪对产品的射频信号的射频指标进行检测，在进行检测时，综合测试仪需要通过射频线连接产品，而射频线也存在信号衰减，因此在对产品射频信号的射频指标进行检测时，需要对射频线进行校准。
[0003]目前，业界一般是采用金机的模式进行校准，在这里，金机是各项指标和参数都调整到固定的最佳值的产品，在进行测试时，金机通过射频线连接综合测试仪，而金机的射频指标是确定的，故而可以金机为标准来对射频线以及综合测试仪同时进行校准。该种校准方式的最大的缺点在于：
[0004]1)在NPI阶段，一般来不及进行金机生成，这样在生产时效上存在明显不足；
[0005]2)在NPI阶段，通常需要频繁的更换金机，导致研发和生产成品居高不下。

技术实现思路

[0006]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种射频测试工装的校准方法，旨在解决现有射频产品NPI阶段射频测试的效率低、成本高的问题。
[0007]为解决上述技术问题，专利技术所采用的技术方案是提供一种射频测试工装的校准方法，所述射频测试工装包括测试仪器和屏蔽箱，所述测试仪器具有第一信号接口和第二信号接口，所述屏蔽箱内设有固定台，所述固定台上安装有耦合板，所述屏蔽箱的侧壁上设有第一连接点和第二连接点，所述第二信号接口与所述第二连接点之间通过第三线缆连接，所述第二连接点与所述耦合板之间通过第四线缆连接；所述校准方法包括如下步骤：
[0008]步骤S1，将待测设备安装到所述固定台上，用所述第一线缆连接将所述第一信号接口与所述第一连接点连接，在所述待测设备的一端连接第五线缆，用第二线缆将所述第五线缆与所述第一线缆连接，测量出整个回路的线损，并将测量结果记为Loss1；
[0009]步骤S2，测量所述第五线缆的线损，并将测量结果记为Loss2；
[0010]步骤S3，分离所述第一线缆与所述第一连接点，分离所述第三线缆与所述第二信号接口，将所述第二线缆取出后，将所述第二线缆的两端分别连接所述第一线缆的末端和所述第二信号接口，测量出所述第一线缆和所述第二线缆的线损和，并将测量结果记为Loss3；
[0011]步骤S4，按照如下公式计算射频测试工装的线损：Loss＝Loss1
‑
Loss2
‑
Loss3，其中，Loss为射频测试工装的线损。
[0012]在上述技术方案中，通过以上步骤先后测量整个回路的线损Loss1、第五线缆的线
损Loss2、所述第一线缆和所述第二线缆的线损和Loss3，再根据公式进行计算即可得到射频测试工装的线损Loss，实现对射频测试工装的快速校准。整个校准过程操作步骤简单且容易实现，最重要的是，无需采用金机，可大幅调高射频测试工装校准的效率，同时大幅降低了成本。
[0013]本专利技术提供的射频测试工装的校准方法中，所述待测设备包括PCB板，以及贴装在所述PCB板上的天线和天线匹配元件。
[0014]本专利技术提供的射频测试工装的校准方法中，所述测试仪器为RF测试仪器。
[0015]本专利技术提供的射频测试工装的校准方法中，所述固态台上设有第一安装腔，所述耦合板固定于所述第一安装腔内。
[0016]本专利技术提供的射频测试工装的校准方法中，所述固态台上设有第二安装腔；在所述步骤S1中，所述的“将待测设备安装到所述固定台上”的步骤中，是将所述待测设备固定在所述第二安装腔内。
[0017]本专利技术提供的射频测试工装的校准方法中，所述第五线缆包括射频线和射频端子。
[0018]实施本专利技术的射频测试工装的校准方法至少可以达到以下有益效果：通过以上步骤先后测量整个回路的线损Loss1、第五线缆的线损Loss2、所述第一线缆和所述第二线缆的线损和Loss3，再根据公式进行计算即可得到射频测试工装的线损Loss，实现对射频测试工装的快速校准。整个校准过程操作步骤简单且容易实现，最重要的是，无需采用金机，可大幅调高射频测试工装校准的效率，同时大幅降低了成本。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图：
[0020]图1为本专利技术实施例中提供的校准方法中测量整个回路的线损时的线路连接示意图；
[0021]图2为本专利技术实施例中提供的校准方法中测量第一线缆和第二线缆的线损和时的线路连接示意图；
[0022]图3为本专利技术实施例提供的校准方法的步骤流程图。
[0023]具体实施方式中的附图标号说明：
[0024]屏蔽箱11测试仪器12第一信号接口121第二信号接口122固定台111耦合板1111第一连接点112第二连接点113第一线缆13第二线缆14第三线缆15第四线缆16待测设备2第五线缆3
具体实施方式
[0025]为了便于理解专利技术，下面将参照相关附图对专利技术进行更全面的描述。附图中给出了专利技术的典型实施例。但是，专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对专利技术的公开内容更加透彻全面。
[0026]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制专利技术。
[0027]本实施例提供了一种射频测试工装的校准方法。
[0028]为了便于理解本实施例提供的校准方法，有必要先对所述射频测试工装进行介绍说明。参见图1，所述的射频测试工装包括测试仪器12和屏蔽箱11。所述测试仪器12为RF测试仪器12，在这里，我们选用的是型号为CMW500的RF测试仪器12，所述测试仪器12具有第一信号接口121和第二信号接口122，在这里，第一信号接口121为信号发射端，第二信号接口122为信号接收端。所述屏蔽箱11为中空的长方体结构，可以是由铝制成。其内部设有一个固定台111，所述固定台111上安装有耦合板1111。在这里，所述固态台上设有第一安装腔和第二安装腔，所述耦合板1111是固定于所述第一安装腔内的。所述屏蔽箱11的竖直的侧壁上设有第一连接点112和第二连接点113，在这里，所述第一连接点112和第二连接点113分别是贯通所述侧壁的第一金属端子和第二金属端子。所述第二信号接口122与所述第二连接点113之间通过第三线缆15连接，所述第二连接点113与所述耦合板1111之间通过设于所述屏蔽箱11内的第四线缆16连接。
[0029]与所述第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频测试工装的校准方法，其特征在于，所述射频测试工装包括测试仪器(12)和屏蔽箱(11)，所述测试仪器(12)具有第一信号接口(121)和第二信号接口(122)，所述屏蔽箱(11)内设有固定台(111)，所述固定台(111)上安装有耦合板(1111)，所述屏蔽箱(11)的侧壁上设有第一连接点(112)和第二连接点(113)，所述第二信号接口(122)与所述第二连接点(113)之间通过第三线缆(15)连接，所述第二连接点(113)与所述耦合板(1111)之间通过第四线缆(16)连接；所述校准方法包括如下步骤：步骤S1，将待测设备(2)安装到所述固定台(111)上，用所述第一线缆(13)连接将所述第一信号接口(121)与所述第一连接点(112)连接，在所述待测设备(2)的一端连接第五线缆(3)，用第二线缆(14)将所述第五线缆(3)与所述第一线缆(13)连接，测量出整个回路的线损，并将测量结果记为Loss1；步骤S2，测量所述第五线缆(3)的线损，并将测量结果记为Loss2；步骤S3，分离所述第一线缆(13)与所述第一连接点(112)，分离所述第三线缆(15)与所述第二信号接口(122)，将所述第二线缆(14)取出后，将所述第二线缆...

【专利技术属性】
技术研发人员：张俭，刘晖，覃江华，胡小玲，
申请(专利权)人：深圳长城开发科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：