ECC校验算法的识别方法、设备、存储介质及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及存储芯片技术领域，公开了一种ECC校验算法的识别方法、设备、存储介质及装置。本发明专利技术通过获取待识别存储芯片的带外数据；对所述带外数据进行统计，生成数据频度表；根据所述数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组；根据所述频度差数组得到变异系数；根据所述变异系数确定所述待识别存储芯片中的ECC字段区域；根据所述ECC字段区域确定ECC校验算法，以实现对所述ECC校验算法的识别。因此，通过存储芯片的带外数据的特征值快速的逆向算出该存储芯片的带外数据用的纠错算法类型，从而实现存储芯片ECC校验算法的快速识别。快速识别。快速识别。

【技术实现步骤摘要】
ECC校验算法的识别方法、设备、存储介质及装置


[0001]本专利技术涉及存储芯片领域，尤其涉及ECC校验算法的识别方法、设备、存储介质及装置。

技术介绍

[0002]现代社会各种电子产品，如手机，电脑，录音笔，固态硬盘等各种存储设备的发展，个人数据成了重要的东西都被存储在这些设备里面，大部分是具有个人隐私、商业秘密以及犯罪活动的数据，但是会由于外界的干扰或者本身存储数据的闪存质量问题导致数据会出错甚至丢失，所以在存储芯片中出现了ECC(Error Correcting Code)校验，可以在一定程度上自行发现和纠正传输过程中发生的错误，常见的有BCH和RS算法。但由于这种算法厂商在设计芯片的时候都存在于硬件电路中，而且各个厂商的纠错算法都不一样。
[0003]为了实现对算法的识别，一般为通过遍历伽罗华域的每一个阶数的值识别码长，从而得到纠错，但是耗时较长。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供ECC校验算法的识别方法、设备、存储介质及装置，旨在解决如何提高存储芯片中ECC校验算法的识别效率的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供一种ECC校验算法的识别方法，所述ECC校验算法的识别方法包括以下步骤：
[0006]获取待识别存储芯片的带外数据；
[0007]对所述带外数据进行统计，生成数据频度表；
[0008]根据所述数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组；
[0009]根据所述频度差数组得到变异系数；/>[0010]根据所述变异系数确定所述待识别存储芯片中的ECC字段区域；
[0011]根据所述ECC字段区域确定ECC校验算法，以实现对所述ECC校验算法的识别。
[0012]可选地，所述获取待识别存储芯片的带外数据，包括：
[0013]获取待识别存储芯片的芯片类型；
[0014]根据所述芯片类型下载数据手册；
[0015]根据所述数据手册得到所述待识别存储芯片的带外数据。
[0016]可选地，所述根据所述数据手册得到所述待识别存储芯片的带外数据，包括：
[0017]获取预设分离固件工具；
[0018]根据所述预设分离固件工具通过所述带外数据的数据大小从所述数据手册中进行分离，得到分离的带外数据块；
[0019]将所述分离的带外数据块作为带外数据。
[0020]可选地，所述根据所述数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组之前，还包括：
[0021]获取所述数据频度表中的频度值；
[0022]将所述频度值中的预设频度值以及预设字节对应的元素进行删除，得到更新后的数据频度表；
[0023]所述根据所述数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组，包括：
[0024]根据所述更新后的数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组。
[0025]可选地，所述根据所述数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组，包括：
[0026]获取所述数据频度表中列方向上的元素；
[0027]将所述列方向上的元素中的相邻元素进行相减，得到二维数组；
[0028]将所述二维数组作为频度差数组。
[0029]可选地，所述根据所述频度差数组得到变异系数，包括：
[0030]获取所述频度差数组中每个元素对应的平均值和标准偏差；
[0031]根据所述平均值和标准偏差得到变异系数。
[0032]可选地，所述根据所述平均值和标准偏差得到变异系数之前，还包括：
[0033]根据所述平均值和标准偏差得到每个元素的分数值；
[0034]将所述分数值与预设分数阈值进行比较，根据比较结果将大于所述预设分数阈值对应的元素进行删除，得到更新后的频度差数组；
[0035]所述获取所述频度差数组中每个元素对应的平均值和标准偏差，包括：
[0036]获取所述更新后的频度差数组中每个元素对应的平均值和标准偏差。
[0037]可选地，所述根据所述变异系数确定所述待识别存储芯片中的ECC字段区域，包括：
[0038]根据所述变异系数，得到满足ECC字段条件的变异系数对应的元素的数据字节；
[0039]根据所述数据字节得到ECC字段区域。
[0040]可选地，所述根据所述ECC字段区域确定ECC校验算法，包括：
[0041]根据所述ECC字段区域得到检验位长度；
[0042]根据所述检验位长度和有效数据长度得到纠错能力；
[0043]根据所述纠错能力和检验位长度得到检验参数；
[0044]根据所述检验参数得到算法的码长；
[0045]根据所述算法的码长与所述检验位长度得到算法的信息位；
[0046]根据所述算法的码长和信息位确定ECC校验算法。
[0047]可选地，根据所述ECC字段区域采用公式一得到检验位长度；
[0048]number[a
i
]2
n
[0049][0050]其中，a
i
表示每个ECC字段区域的数值，i表示当前区域元素，n表示第一参考参数，∑ni表示检验位长度，m表示字段区域数量。
[0051]可选地，根据所述纠错能力和检验位长度采用公式二得到检验参数；
[0052]p＝m't
ꢀꢀ
公式二；
[0053]其中，p表示所述检验位长度，t表示所述纠错能力，m'表示有限域的阶数。
[0054]可选地，根据所述检验参数采用公式三得到算法的码长；
[0055]n'＝2
m'
‑1ꢀꢀ
公式三；
[0056]其中，n'表示所述算法的码长。
[0057]可选地，根据所述算法的码长与所述检验位长度采用公式四得到算法的信息位；
[0058]p＝n'
‑
k
ꢀꢀ
公式四；
[0059]其中，k表示所述算法的信息位。
[0060]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种ECC校验算法的识别装置，所述ECC校验算法的识别装置包括：
[0061]获取模块，用于获取待识别存储芯片的带外数据；
[0062]统计模块，用于对所述带外数据进行统计，生成数据频度表；
[0063]确定模块，用于根据所述数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组；
[0064]所述确定模块，还用于根据所述频度差数组得到变异系数；
[0065]所述确定模块，还用于根据所述变异系数确定所述待识别存储芯片中的ECC字段区域；
[0066]所述确定模块，还用于根据所述ECC字段区域确定ECC校验算法，以实现对所述ECC校验算法的识别。
[0067]可选地，所述获取模块，还用于获取待识别存储芯片的芯片类型；
[0068]根据所述芯片类型下载数据手册；
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ECC校验算法的识别方法，其特征在于，所述ECC校验算法的识别方法包括：获取待识别存储芯片的带外数据；对所述带外数据进行统计，生成数据频度表；根据所述数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组；根据所述频度差数组得到变异系数；根据所述变异系数确定所述待识别存储芯片中的ECC字段区域；根据所述ECC字段区域确定ECC校验算法，以实现对所述ECC校验算法的识别。2.如权利要求1所述的ECC校验算法的识别方法，其特征在于，所述获取待识别存储芯片的带外数据，包括：获取待识别存储芯片的芯片类型；根据所述芯片类型下载数据手册；根据所述数据手册得到所述待识别存储芯片的带外数据。3.如权利要求2所述的ECC校验算法的识别方法，其特征在于，所述根据所述数据手册得到所述待识别存储芯片的带外数据，包括：获取预设分离固件工具；根据所述预设分离固件工具通过所述带外数据的数据大小从所述数据手册中进行分离，得到分离的带外数据块；将所述分离的带外数据块作为带外数据。4.如权利要求1所述的ECC校验算法的识别方法，其特征在于，所述根据所述数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组之前，还包括：获取所述数据频度表中的频度值；将所述频度值中的预设频度值以及预设字节对应的元素进行删除，得到更新后的数据频度表；所述根据所述数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组，包括：根据所述更新后的数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组。5.如权利要求1所述的ECC校验算法的识别方法，其特征在于，所述根据所述数据频度表得到所述数据频度表中相邻元素的频度差数组，包括：获取所述数据频度表中列方向上的元素；将所述列方向上的元素中的相邻元素进行相减，得到二维数组；将所述二维数组作为频度差数组。6.如权利要求1所述的EC...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈佩文，
申请(专利权)人：苏州三六零智能安全科技有限公司，
类型：发明
国别省市：