具有光滑表面的待测物于光学检测上的影像处理方法及其检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种具有光滑表面的待测物于光学检测上的影像处理方法及其检测系统，该方法基于立体光学法进行待测物的相异光照方向下的各幅影像的撷取与合成，并于取像后、合成影像前，进行影像资料前处理步骤，对各像素的灰度值进行非线性化调整，令调整前灰度值小于灰度阈值的多个像素的灰度变化比值均可依设定而相对于该调整前灰度值非小于该灰度阈值的其余像素的灰度变化比值。藉此，本发明专利技术所公开的基于立体光学法的检测系统，在对应的影像处理后可适用于具光滑表面的待测物的检测，且可不受限于均匀的平行照射光。且可不受限于均匀的平行照射光。且可不受限于均匀的平行照射光。

【技术实现步骤摘要】
具有光滑表面的待测物于光学检测上的影像处理方法及其检测系统


[0001]本专利技术涉及一种光学检测上的影像处理方法及其检测系统，更具体地讲，本专利技术涉及一种具有光滑表面的待测物于光学检测上的影像处理方法及其检测系统。

技术介绍

[0002]立体光学法(Photometric Stereo Method,PSM)是一种由光学投影成型法所延伸出来的物体表面信息重建的算法，通过单一摄像机在相同的拍摄角度下取得待测物的多个影像，待测物受不同光照方向的照射光逐一照射，进而以算法进行该等影像的叠合，产生合成影像。
[0003]传统上，立体光学法使用光学中的完美漫射(perfect diffusion)模型以解出待测物表面的梯度矢量(gradients)，再经过矢量场的积分后得到三维模型，进而亦可取得待测物表面的光强度分布状况。
[0004]立体光学法是基于光强度值来做为整体模型的计算依据，且由于在求解过程中不必计算出所有会对光强度造成影响的参数值(例如反射系数)，亦能得到良好的结果，所以立体光学法被广泛地运用。
>[0005]然而，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有光滑表面的待测物于光学检测上的影像处理方法，其包含：基于对所述待测物不同的各个光照方向，依序取得对应各个光照方向的各幅原始影像，所述原始影像的幅数至少为3；一影像资料前处理步骤，将各原始影像内的各像素的一调整前灰度值分别进行非线性化调整以产生对应的一调整后灰度值，其中，当一灰度阈值小于一反转阈值时，令所述调整前灰度值小于所述灰度阈值的多个像素的灰度变化比值均大于所述调整前灰度值非小于所述灰度阈值的其余像素的灰度变化比值，当所述灰度阈值大于所述反转阈值时，令所述调整前灰度值小于所述灰度阈值的多个像素的灰度变化比值均小于所述调整前灰度值非小于所述灰度阈值的其余像素的灰度变化比值；及一合成步骤，基于立体光学法使经所述影像资料前处理步骤处理后的各原始影像被合成为供后续瑕疵检测的一合成影像。2.如权利要求1所述的影像处理方法，其中，在所述合成步骤后进一步包含一影像资料后处理步骤，基于所述合成影像的灰度分布资料，将对应的梯度分布资料中属于梯度值小于第一梯度阈值或大于第二梯度阈值的梯度值皆调整至0，以及使0～255的灰度值分布于所述第一梯度阈值与所述第二梯度阈值间以产生具有新灰度分布的一待分析影像，供后续瑕疵检测。3.如权利要求2所述的影像处理方法，其中，取绝对值的所述第一梯度阈值与所述第二梯度阈值的数值相同。4.如权利要求2所述的影像处理方法，其中，所述第一梯度阈值为
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【专利技术属性】
技术研发人员：李明翰，林祐绅，莫又宁，胡皓强，
申请(专利权)人：致茂电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：