【技术实现步骤摘要】
烹饪系统、烹饪控制方法、存储介质、计算机设备
[0001]本申请涉及烹饪设备
,尤其是涉及到一种烹饪系统、烹饪控制方法、存储介质、计算机设备。
技术介绍
[0002]烹饪温度的控制在烹饪领域中具有重要意义,对烹饪温度的合理控制不仅有助于保证食材的烹饪效果,更对烹饪器皿的使用安全、使用寿命具有显著影响,例如温度过高可能会造成食材粘锅、烧焦,更有可能导致烹饪器皿的损毁。
[0003]现有技术中,烹饪温度的测量通常是基于在烹饪锅具的锅壁中内置温度传感器的方式实现,尤其针对于烹饪器皿烧毁的问题,通常将温度传感器内置与发热层中,但这种方式对于一些发热层厚度较小的烹饪器具难以实现,例如将薄膜金属衬底作为发热层的锅具来说,上述温度测量方式难以实现。如何实现对各种烹饪器具的温度测量,从而控制烹饪过程对于烹饪
至关重要。
技术实现思路
[0004]有鉴于此,本申请提供了一种烹饪系统、烹饪控制方法、存储介质、计算机设备,有助于烹饪器皿的安全性和实用性。
[0005]根据本申请的一个方面,提供了一种烹饪系统,所述烹饪系统包括:
[0006]烹饪器皿,所述烹饪器皿包括发热组件;
[0007]测控模块,所述测控模块与所述发热组件连接,所述测控模块用于基于所述发热组件的电阻变化确定所述烹饪器皿或食材的温度信息。
[0008]可选地,所述发热组件包括第一发热组件和第二发热组件,所述第一发热组件用于产生热量以对所述烹饪器皿内食材加热,所述第二发热组件与所述第一发热组件匹配,所述第二 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种烹饪系统,其特征在于,所述烹饪系统包括:烹饪器皿,所述烹饪器皿包括发热组件;测控模块,所述测控模块与所述发热组件连接,所述测控模块用于基于所述发热组件的电阻变化确定所述烹饪器皿或食材的温度信息。2.根据权利要求1所述的烹饪系统,其特征在于,所述发热组件包括第一发热组件和第二发热组件,所述第一发热组件用于产生热量以对所述烹饪器皿内食材加热,所述第二发热组件与所述第一发热组件匹配,所述第二发热组件呈开口的环形形状,所述测控模块与所述第二发热组件连接。3.根据权利要求2所述的烹饪系统,其特征在于,所述烹饪系统还包括电阻器件,所述测控模块依次与所述第二发热组件以及所述电阻器件串联连接构成回路,所述测控模块与所述第二发热组件对应的环形开口的第一端连接,所述电阻器件与所述第二发热组件对应的环形开口的第二端连接。4.根据权利要求3所述的烹饪系统,其特征在于,所述第二发热组件的环宽小于预设环宽,所述电阻器件与所述烹饪器皿之间的距离大于预设距离。5.根据权利要求3所述的烹饪系统,其特征在于,所述测控模块还用于控制探测电流依次流入所述第二发热组件以及所述电阻器件后回流至所述测控模块中,所述烹饪系统还包括电压采集元件,所述电压采集元件用于采集所述电阻器件的电阻电压,其中,所述烹饪器皿的温度与所述电阻电压负相关。6.根据权利要求5所述的烹饪系统,其特征在于,所述测控模块与所述电磁加热设备连接,所述测控模块具体用于在所述电阻电压小于预设门限电压值时,控制所述电磁加热设备降低加热功率,所述预设门限电压基于预设温度阈值以及预设电阻电压计算公式确定,其中,所述预设电阻电压计算公式为U
Ro
=U
ref
*(R
o
/((ρ0*(1+α*t)*L)/S+R
o
)),U
Ro
表示所述预设门限电压值,U
ref
表示预设电压参考值,R
o
表示所述电阻器件的电阻值,ρ0表示所述第一发热组件在0℃时的电阻率,α表示所述第一发热组件的电阻率随温度变化系数,t表示所述预设温度阈值,L表示所述第二发热组件的环形区域周长,S表示所述所述第二发热组件的环形区域横截面积。7.根据权利要求5所述的烹饪系统,其特征在于,所述测控模块与所述电磁加热设备连接,所述测控模块具体用于基于预设温度计算公式以及所述电阻电压确定所述烹饪器皿的温度,以及用于在所述烹饪器皿的温度大于预设门限温度时,控制所述电磁加热设备降低加热功率,其中,所述预设温度计算公式为U
’
Ro
=U
ref
*(R
o
/((ρ0*(1+α*t
’
)*L)/S+R
o
)),U
’
Ro
表示所述电阻电压,Uref表示预设电压参考值,Ro表示所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:王峰,陈跃飞,
申请(专利权)人:珠海优特智厨科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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