红外成像装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种红外成像装置，所述红外成像装置包括至少一个透镜元件，其配置成传输与场景的一部分关联的电磁辐射。所述一部分具有第一纵横比。电磁辐射包括中波和/或长波红外光。至少一个透镜元件具有没有平移对称性并且没有旋转对称性的自由曲面。红外成像装置还包括检测器阵列，所述检测器阵列配置成从至少一个透镜元件接收与电磁辐射关联的图像数据并且基于图像数据生成图像。所述图像数据具有不同于第一纵横比的第二纵横比。第一和第二纵横比中的每一个是沿着第一方向的尺寸和沿着与第一方向正交的第二方向的尺寸的比率。沿着与第一方向正交的第二方向的尺寸的比率。沿着与第一方向正交的第二方向的尺寸的比率。

Infrared imaging device

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】红外成像装置
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2019年4月30日提交的题为“纵横比修改成像系统和方法(ASPECT RATIO MODIFYING IMAGING SYSTEMS ANDMETHODS)”的美国临时专利申请第62/841,161号的优先权和权益，该申请的全部内容通过引用并入本文。


[0003]一个或多个实施例总体上涉及用于成像的光学部件，并且更具体地，例如，涉及红外成像装置。

技术介绍

[0004]成像系统可以包括检测器的阵列，每个检测器用作像素以产生二维图像的一部分。在一些情况下，成像系统可以包括一个或多个光学元件(例如，透镜、反射镜)以促进成像应用，例如通过将光引导至检测器的阵列。存在各种各样的图像检测器，例如可见光图像检测器、红外图像检测器或可以设置在图像检测器阵列中用于捕获图像的其他类型的图像检测器。作为示例，多个传感器可以设置在图像检测器阵列中，以检测所需波长的电磁(EM)辐射。在一些情况下，例如对于红外成像，由检测器捕获的图像数据的读出可以由读出集成电路(ROIC)以时分复用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种红外成像装置，所述红外成像装置包括：至少一个透镜元件，所述至少一个透镜元件配置成传输与场景的一部分关联的电磁辐射，其特征在于，所述场景的所述一部分具有第一纵横比，其中，所述电磁辐射包括中波红外光和/或长波红外光，并且其中，所述至少一个透镜元件具有没有平移对称性并且没有旋转对称性的自由曲面；以及检测器阵列，所述检测器阵列配置成从所述至少一个透镜元件接收与所述电磁辐射关联的图像数据并且基于所述图像数据生成图像，其中，所述图像数据具有不同于所述第一纵横比的第二纵横比，并且其中，所述第一纵横比和所述第二纵横比中的每一个是沿着第一方向的尺寸和沿着与所述第一方向正交的第二方向的尺寸的比率。2.根据权利要求1所述的红外成像装置，其特征在于，所述至少一个透镜元件包括至少一个配合特征，所述至少一个配合特征配置成将所述至少一个透镜元件耦合到所述红外成像装置的透镜筒。3.根据权利要求2所述的红外成像装置，其特征在于，所述红外成像装置还包括所述透镜筒，其中，所述至少一个透镜元件的所述至少一个配合特征耦合到所述透镜筒的相应配合特征，并且其中，所述至少一个透镜元件配置成能旋转。4.根据权利要求1所述的红外成像装置，其特征在于，所述红外成像装置还包括与所述至少一个透镜元件的表面相邻的限制孔径，其中，所述表面面向所述场景。5.根据权利要求1所述的红外成像装置，其特征在于，所述至少一个透镜元件包括折射透镜元件，所述折射透镜元件传输波长在中波红外光谱和/或长波红外光谱内的光。6.根据权利要求5所述的红外成像装置，其特征在于，所述折射透镜元件的至少一个表面是不具有平移对称性和旋转对称性的自由曲面。7.根据权利要求6所述的红外成像装置，其特征在于，所述自由曲面包括衍射表面，以促进色差的校正。8.根据权利要求1所述的红外成像装置，其特征在于，所述至少一个透镜元件包括单个透镜...

【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔，
申请(专利权)人：泰立戴恩菲力尔商业系统公司，
类型：新型
国别省市：