一种微波衰减测量仪制造技术

本发明专利技术提供一种微波衰减测量仪，包括发射组件、接收组件、控制模块以及显控模块；所述发射组件、接收组件以及显控模块均与所述控制模块连接；所述发射组件用于生成目标频率信号并发送至被测件，所述接收组件用于接收被测件返回的衰减信号并进行处理，处理后的衰减信号发送至控制模块进行计算并输出测量结果，所述显控模块用于显示所述测量结果；该装置解决现有的衰减测量设备体积大、依赖人工带来的误差大、耗时耗力的问题。耗时耗力的问题。耗时耗力的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种微波衰减测量仪


[0001]本专利技术涉及测试
，尤其涉及一种微波衰减测量仪。

技术介绍

[0002]在日常操作中，射频线缆、衰减器、隔离器、环形器等器件的校准和定标都离不开微波衰减测量。但是在日常工作中，对这些微波器件进行定标时，通常器件连接信号源输出端，使用信号源提供激励，另一头连接频谱仪输入端，从而读出器件的衰减值。完成这种操作不仅需要的设备多且体积大，不好搬运；而且对人员的操作仪器的要求较高，操作步骤较多，误差大、耗时耗力。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种微波衰减测量仪，以解决现有的衰减测量设备体积大、依赖人工带来的误差大、耗时耗力的问题。
[0004]一种微波衰减测量仪，包括发射组件、接收组件、控制模块以及显控模块；
[0005]所述发射组件、接收组件以及显控模块均与所述控制模块连接；
[0006]所述发射组件用于生成目标频率信号并发送至被测件，所述接收组件用于接收被测件返回的衰减信号并进行处理，处理后的衰减信号发送至控制模块进行计算并输出测量结果，所述显控模块用于显示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微波衰减测量仪，其特征在于，包括发射组件、接收组件、控制模块以及显控模块；所述发射组件、接收组件以及显控模块均与所述控制模块连接；所述发射组件用于生成目标频率信号并发送至被测件，所述接收组件用于接收被测件返回的衰减信号并进行处理，处理后的衰减信号发送至控制模块进行计算并输出测量结果，所述显控模块用于显示所述测量结果。2.根据权利要求1所述的微波衰减测量仪，其特征在于，所述发射组件包括宽带源模块、倍频模块以及功率控制模块；所述宽带源模块与所述倍频模块连接，所述倍频模块与所述功率控制模块连接，所述宽带源模块、倍频模块以及功率控制模块均与所述控制模块连接；所述宽带源模块用于生成本振信号，所述倍频模块用于对所述本振信号进行倍频处理，并发送至功率控制模块，所述功率控制模块用于对倍频处理后的信号进行功率调整，生成目...

【专利技术属性】
技术研发人员：王思雅，刘忠凯，任程，陈自祥，
申请(专利权)人：北京振兴计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：