T/R组件测试盲插连接机构制造技术

技术编号:33987970 阅读:50 留言:0更新日期:2022-06-30 08:38
本实用新型专利技术公开了一种T/R组件测试盲插连接机构,固定块通过导向组件与浮动块连接,浮动块浮动于固定块的上方,浮动块在所有对应避让孔的区域均设有安装孔;导向件、转接器与避让孔的数量相等,导向件横截面的外观尺寸较安装孔横截面的外观尺寸小,导向件穿设于安装孔,导向件设有供射频信号测试接口插入的插孔,插孔的孔径上大下小;转接器横截面的外观尺寸较避让孔横截面的外观尺寸小,转接器穿设于避让孔,转接器的上端连接有连接头,连接头穿设于插孔并可与射频信号测试接口抵接。浮动块和导向件可升降,导向件、转接器和连接头可在水平面方向上移动,所以可以方便快捷地将T/R组件与T/R组件测试盲插连接机构连接。R组件与T/R组件测试盲插连接机构连接。R组件与T/R组件测试盲插连接机构连接。

【技术实现步骤摘要】
T/R组件测试盲插连接机构


[0001]本技术涉及雷达
,特别涉及一种T/R组件测试盲插连接机构。

技术介绍

[0002]在有源相控阵雷达的研制与生产过程中,T/R组件自动测试技术是影响产品研制、生产进度以及产品质量的关键技术之一。
[0003]T/R组件自动化测试系统中,一般采用手动的方式用带线缆射频连接器(同轴连接器)将T/R组件与测试仪器逐一连接,由于每个被测试的T/R组件都有两个以上的射频信号测试接口,T/R组件与测试仪器连线的工作量大,带线缆射频连接器与射频信号测试接口对位困难,连线过程耗时长,效率低;且频繁插拔带线缆射频连接器,容易造成带线缆射频连接器损坏。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本技术提出一种T/R组件测试盲插连接机构,能够方便地与射频信号测试接口电性连接。
[0005]根据本技术实施例的T/R组件测试盲插连接机构,包括固定块、浮动块、导向件和转接器,所述固定块的左右两端均设有导向组件,所述固定块的中部设有若干个避让孔;所述浮动块与两个所述导向组件连接,且所述浮动块浮动于所述固定块的上方,所述浮动块在所有对应所述避让孔的区域均设有安装孔,所述浮动块上设有盖板;所述导向件、所述转接器与所述避让孔的数量相等,所述导向件横截面的外观尺寸较所述安装孔横截面的外观尺寸小,所述导向件穿设于所述安装孔,所述盖板可抵在所述导向件的上表面,所述导向件设有供射频信号测试接口插入的插孔,所述插孔的孔径上大下小;所述转接器横截面的外观尺寸较所述避让孔横截面的外观尺寸小,所述转接器穿设于所述避让孔,所有所述转接器的上下两端分别连接有连接头和带线缆射频连接器,且所述连接头与所述带线缆射频连接器电性连接,所述连接头穿设于所述插孔并可与所述射频信号测试接口抵接,所述带线缆射频连接器的线缆通过所述避让孔伸至所述固定块外。
[0006]至少具有如下有益效果:浮动块和导向件可升降,导向件、转接器、连接头和带线缆射频连接器可在水平面方向上做小行程的移动,所以可以方便快捷地将T/R组件与T/R组件测试盲插连接机构连接,所述导向件、所述转接器与所述避让孔的数量均为若干个,满足多射频信号测试接口的T/R组件的需求,所以单个T/R组件上所有的射频信号测试接口可同步与连接头电性连接。通过 T/R组件测试盲插连接机构将T/R组件与测试仪器电性连接,提高T/R组件与 T/R组件测试盲插连接机构连接效率的同时,也同步提高T/R组件测试的效率。
[0007]根据本技术的一些实施例,所述避让孔、所述安装孔、所述导向件、所述转接器、所述连接头和所述带线缆射频连接器的数量均为两个。
[0008]根据本技术的一些实施例,所述导向件的上表面上设有凸台,所述凸台露在
所述盖板的上方,所述插孔的上端口开设于所述凸台的上表面。
[0009]根据本技术的一些实施例,所述转接器呈套筒状,所述连接头穿设于所述转接器的中心孔的上端,所述连接头的下表面开设有螺纹孔,所述带线缆射频连接器上端头的外侧面设有与所述螺纹孔的内螺纹配合的外螺纹,所述连接头在所述螺纹孔的底壁上设有导电件,所述导电件可插进所述带线缆射频连接器并与所述线缆电性连接。
[0010]根据本技术的一些实施例,所述带线缆射频连接器上连接有耳板,所述固定块在所述避让孔下开口的区域设有限位槽,所述耳板的水平宽度小于所述限位槽的水平宽度,所述耳板伸进所述限位槽,所述固定块上连接有挡块,所述挡块可抵在所述耳板的下表面。
[0011]根据本技术的一些实施例,所述导向组件包括相互配合的导向杆和直线轴承,所述导向杆和所述直线轴承的其中之一与所述固定块连接,另一与所述浮动块连接。
[0012]根据本技术的一些实施例,所述浮动块上设有第一通孔,所述直线轴承穿设于所述第一通孔,所述浮动块的上表面连接有压板,所述压板上设有第二通孔,所述压板的下表面抵在所述直线轴承的上表面,所述导向杆的上端穿过所述直线轴承,且所述导向杆的上端面连接有紧固件,所述紧固件可穿过所述第二通孔并抵在所述直线轴承的上表面。
[0013]根据本技术的一些实施例,所述固定块的下表面开设有沉孔,所述固定块的上表面开设有与所述沉孔连通的第三通孔,所述沉孔与所述第三通孔同轴且所述沉孔的孔径与所述第三通孔的孔径大,所述导向杆的下端设有轴肩,所述轴肩抵在所述沉孔的底壁。
[0014]根据本技术的一些实施例,所述固定块的下表面连接有第二抵板,所述第二抵板抵在所述导向杆的下端面。
[0015]根据本技术的一些实施例,还包括弹性件,所述弹性件的两端分别与所述固定块和所述浮动块连接或抵接。
[0016]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0017]下面结合附图和实施例对本技术做进一步的说明,其中:
[0018]图1为本技术一种实施例T/R组件测试盲插连接机构的结构示意图;
[0019]图2为本技术一种实施例T/R组件测试盲插连接机构的剖视图;
[0020]图3为本技术一种实施例T/R组件测试盲插连接机构的爆炸示意图;
[0021]图4为本技术一种实施例T/R组件测试盲插连接机构的转接器、连接头和带线缆射频连接器的剖视图。
[0022]附图标号:
[0023]固定块100、避让孔110、限位槽120、挡块130、第二抵板140、第一抵板 150、第三通孔160、浮动块200、安装孔210、盖板220、第一通孔230、压板 240、第二通孔241、导向件300、插孔310、凸台320、转接器400、连接头410、螺纹孔411、带线缆射频连接器420、环形槽421、耳板422、连接件430、弹性件500、导向杆600、紧固件610、轴肩620、直线轴承700。
具体实施方式
[0024]下面详细描述本技术的实施例,实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本技术,而不能理解为对本技术的限制。
[0025]在本技术的描述中,需要理解的是,涉及到方位描述,例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0026]在本技术的描述中,如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0027]本技术的描述中,除非另有明确的限定,设置、安装、连接等词语应做广义理解,所属本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.T/R组件测试盲插连接机构,其特征在于,包括:固定块,所述固定块的左右两端均设有导向组件,所述固定块的中部设有若干个避让孔;浮动块,所述浮动块与两个所述导向组件连接,且所述浮动块浮动于所述固定块的上方,所述浮动块在所有对应所述避让孔的区域均设有安装孔,所述浮动块上设有盖板;导向件,所述导向件与所述避让孔的数量相等,所述导向件横截面的外观尺寸较所述安装孔横截面的外观尺寸小,所述导向件穿设于所述安装孔,所述盖板可抵在所述导向件的上表面,所述导向件设有供射频信号测试接口插入的插孔,所述插孔的孔径上大下小;转接器,所述转接器与所述导向件的数量相等,所述转接器横截面的外观尺寸较所述避让孔横截面的外观尺寸小,所述转接器穿设于所述避让孔,所有所述转接器的上下两端分别连接有连接头和带线缆射频连接器,且所述连接头与所述带线缆射频连接器连接,所述连接头穿设于所述插孔并可与所述射频信号测试接口抵接,所述带线缆射频连接器的线缆通过所述避让孔伸至所述固定块外。2.根据权利要求1所述的T/R组件测试盲插连接机构,其特征在于:所述避让孔、所述安装孔、所述导向件、所述转接器、所述连接头和所述带线缆射频连接器的数量均为两个。3.根据权利要求1所述的T/R组件测试盲插连接机构,其特征在于:所述导向件的上表面上设有凸台,所述凸台露在所述盖板的上方,所述插孔的上端口开设于所述凸台的上表面。4.根据权利要求1所述的T/R组件测试盲插连接机构,其特征在于:所述转接器呈套筒状,所述连接头穿设于所述转接器的中心孔的上端,所述连接头的下表面开设有螺纹孔,所述带线缆射频连接器上端头的外侧面设有与所述螺纹孔的内螺纹配合的外螺纹,所述连接头在所述螺纹孔的底壁...

【专利技术属性】
技术研发人员:包晓军刘远曦李琳徐挚仁何柳陈勇杰
申请(专利权)人:广东纳睿雷达科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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