一种半导体制冷片检测装置制造方法及图纸

一种半导体制冷片检测装置，包括工作台、设置在工作台上的立柱、与立柱转动连接的转杆、与转杆可滑动连接的红外检测仪，红外检测仪连接显示屏，转杆由两部分拼接组成，转杆上开设一通孔，通孔内部设凸环，立柱上设凹环，立柱与转杆通过凸环与凹环的匹配连接，工作台上设检测槽，检测槽对应检测电源，将待检测半导体制冷片放入检测槽，连接检测电源，通过调节红外检测仪的位置观察各个半导体制冷片通电后在显示屏上的颜色分布，根据红外热成像仪的特性暖色为高温，冷色为低温，根据显示屏上的颜色差异来判定半导体内部的N型半导体颗粒和P型半导体颗粒排列是否正确。P型半导体颗粒排列是否正确。P型半导体颗粒排列是否正确。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体制冷片检测装置


[0001]本技术涉及半导体制冷片生产装备领域，具体涉及一种半导体制冷片检测装置。

技术介绍

[0002]半导体制冷片是由半导体所组成的一种冷却装置，由许多N型半导体和P型半导体颗粒互相排列而成，而NP之间以一般的导体相连接而成一完整线路，N型和P型半导体颗粒之间的排列顺序直接影响整个产品的使用，由于N型半导体颗粒和P型半导体颗粒之间的形状、颜色都是相同的，从外观上难以判定是否是正确的排列顺序，因此需要特殊的仪器检测。

技术实现思路

[0003]本技术目的是提供一种半导体制冷片检测装置，解决现有技术中N型半导体颗粒和 P型半导体颗粒排列顺序检测的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术采用以下技术方案:
[0005]一种半导体制冷片检测装置，其特征在于，包括工作台、设置在工作台上的立柱、与立柱转动连接的转杆、与转杆可滑动连接的红外检测仪，所述红外检测仪连接显示屏，所述转杆由两部分拼接组成，所述转杆上开设一通孔，通孔内部设凸环，所述立柱上设凹环，立柱与转杆通过凸环与凹环的匹配连接，所述工作台上设检测槽，所述检测槽对应检测电源。
[0006]进一步的，所述转杆由两组截面呈半圆的柱体拼接组成，所述通孔以及凸环由两部分拼接组成。
[0007]进一步的，所述转杆上设两组限位块，所述红外检测仪在两组限位块之间移动。
[0008]进一步的，所述转杆上设滑块，所述滑块与转杆滑动连接，所述红外检测仪固定在滑块上。进一步的，所述红外检测仪为红外热成像仪。r/>[0009]进一步的，所述凹环与凸环之间设滚珠。能够有效减小立柱与转杆接触面的摩擦损坏。
[0010]进一步的，所述检测槽包括六组，六组检测槽对应设置检测电源。
[0011]本技术相对于现有技术，具有以下有益效果：将待检测半导体制冷片放入检测槽，连接检测电源，通过调节红外检测仪的位置观察各个半导体制冷片通电后在显示屏上的颜色分布，根据红外热成像仪的特性暖色为高温，冷色为低温，根据显示屏上的颜色差异来判定半导体内部的N型半导体颗粒和P型半导体颗粒排列是否正确。
附图说明
[0012]图1为本技术结构示意图。
[0013]图2为本技术图1中A区放大图。
[0014]图3为本技术转杆结构图。
[0015]图4为本技术图3中沿B
‑
B截面视图。
[0016]图5为本技术工作台结构图。
[0017]图中所示：1、工作台2、底座3、立柱4、转杆5、滑块6、红外检测仪7、显示屏8、限位块9、凸环10、凹环11、滚珠12、检测电源13、检测槽。
具体实施方式
[0018]下面结合附图1
‑
5对本技术作进一步描述。
[0019]一种半导体制冷片检测装置，包括工作台1、设置在工作台1上的立柱3、与立柱3转动连接的转杆4、与转杆4可滑动连接的红外检测仪6，所述红外检测仪6连接显示屏7。所述工作台1的左侧设一底座2，所述立柱3固定在底座上。所述转杆4由两部分拼接组成，所述转杆4上开设一通孔，通孔内部设凸环9，所述立柱3上设凹环10，立柱3与转杆4通过凸环 9与凹环10的匹配连接，具体的，所述转杆4由两组截面呈半圆的柱体拼接组成，所述通孔以及凸环9由两部分拼接组成。安装的时候，将两组截面呈半圆的柱体套接在立柱3上，使得凸环9插接在凹环10内，然后固定即可，本实施例中采用螺栓固定，实际操作中采用其他可以实现两组截面呈半圆的柱体的固定都可以，在此不做限定。所述凸环9和凹环10包括一一对应的两组，所述凹环10与凸环9之间设滚珠11。能够有效减小立柱与转杆接触面的摩擦损坏。所述转杆4上设两组限位块8，所述红外检测仪6在两组限位块之间移动，具体的，所述转杆4上设滑块5，所述滑块5与转杆4滑动连接，所述红外检测仪6固定在滑块上。所述红外检测仪为红外热成像仪，不同的温度在红外检测仪6的检测之下，呈现在显示屏7 中的颜色不同，所述工作台上设检测槽，所述检测槽对应检测电源。本实施例中，所述检测槽包括六组，六组检测槽13对应设置检测电源12。
[0020]具体工作原理：具体使用的时候，将待检测半导体制冷片放在检测槽13内，将半导体制冷片连接检测电源，然后将调节红外检测仪6至合适的位置，开启红外检测仪6，观察显示屏7 上的颜色分布，如果统一为暖色(一般为红色)，则说明排列正确，且检测面为热面，如果统一为冷色(一般为蓝色)则说明排列正确，且监测面为低温面，如果颜色不统一，则说明有半导体颗粒排列错误。
[0021]以上所述仅为本技术的优选实施例而已，所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述,术语“设置”、“安装”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，对于本领域的技术人员来说，本技术可以有各种更改和变化。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷片检测装置，其特征在于，包括工作台、设置在工作台上的立柱、与立柱转动连接的转杆、与转杆可滑动连接的红外检测仪，所述红外检测仪连接显示屏，所述转杆由两部分拼接组成，所述转杆上开设一通孔，通孔内部设凸环，所述立柱上设凹环，立柱与转杆通过凸环与凹环的匹配连接，所述工作台上设检测槽，所述检测槽对应检测电源。2.如权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置，其特征在于，所述转杆由两组截面呈半圆的柱体拼接组成，所述通孔以及凸环由两部分拼接组成。3.如权利要求1所述的一种半导体制冷片检测装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张金良，
申请(专利权)人：江苏星河电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：