一种三坐标测试治具及三坐标测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种三坐标测试治具，属于三坐标测试仪器辅助配件技术领域。该治具包括具有一定厚度的支撑板，支撑板设有工作区，且该工作区沿着正投影轮廓的预设位置处设有数个测量孔；测量孔用于提供接触式探针在测量时的活动空间，使得探针的探头能够移动到待测物体的最底面以下的位置进行测量。藉由支撑板可抬升待测物体的水平高度，同时在支撑板上开设有数个测量孔，测量时，需要测量的部位处于悬空状态，探针的探头可移动到该部位的最底面以下的位置进行测量，进而不受待测物体厚度薄的限制，确保每个测量点均能获得准确的坐标值，进而提升此种三坐标测量仪可测量的板材的范围。本实用新型专利技术还公开了一种包含上述治具的三坐标测量仪。三坐标测量仪。三坐标测量仪。

【技术实现步骤摘要】
一种三坐标测试治具及三坐标测量仪


[0001]本技术涉及三坐标测试仪器辅助配件
，尤其涉及一种三坐标测试治具及三坐标测量仪。

技术介绍

[0002]三坐标测量仪是一种测量物体外形轮廓的精密仪器，其工作过程和原理为：待测物体放在工作台上，接触探针可在三维坐标系中移动，探针的探头与物体表面任一点接触后记录一次探针的坐标(X，Y，Z)，当探头完成对物体表面多处测量后，可得到一系列的坐标值，通过这些坐标值的计算，可得出与物体有关的各项待测数值，例如尺寸精度、定位精度、几何精度及轮廓精度等，此种三坐标测量仪广泛的应用于汽车、电子、机械、汽车、航空、军工、模具等行业中。
[0003]上述测量仪的测量原理实质上为探针接触式，探头虽然细小，但仍具有一定体积，例如一种球形探头(如图1所示)，其直径为R，探头的赤道位置(一整圈)为最佳的接触点。该仪器对被测零件10
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的厚度有一定要求，若被测的物体太薄，低于探头的直径R或最低探测阈值，则无法保证测量结果的准确性，致使三坐标接触式测量无法准确测量此类太薄的物体，这限制了三坐标测量仪的使本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三坐标测试治具，放置在三坐标测量仪的工作台面上，配合接触式探针对待测物体进行测量，其特征在于：包括具有一定厚度的支撑板，所述支撑板设有工作区，所述工作区与待测物体的正投影轮廓相匹配，且该工作区沿着所述正投影轮廓的预设位置处设有数个测量孔；所述测量孔用于提供接触式探针在测量时的活动空间，使得探针的探头能够移动到待测物体的最底面以下的位置进行测量。2.如权利要求1所述的三坐标测试治具，其特征在于，还包括一盖板，所述盖板用于在测量时压在待测物体上表面，以防止待测物体发生水平位移。3.如权利要求2所述的三坐标测试治具，其特征在于，所述盖板具有与所述支撑板相同的形状轮廓，且该盖板对应测量孔的位置上对应开设有避让孔。4.如权利要求1
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3任一项所述的三坐标测试治具，其特征在于，所述支撑板和盖板均设置为矩形，所述工作区的轮廓呈矩形，所述测量孔沿着矩形轮廓设置。5.如权利要求3所述的三坐标测试治具，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡宗辉，夏俭丽，
申请(专利权)人：上海翌上新能源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：